一种光耦检测装置制造方法及图纸

本发明专利技术提供了一种光耦检测装置，包括输入电压调节回路、输出回路以及光耦，所述输入电压调节回路连接光耦的输入端，输出回路连接光耦的输出端；输入电压调节回路包括第一电源、可调电位器以及限流电阻，第一电源的正极通过可调电位器连接光耦输入端的正极，第一电源的负极通过限流电阻连接光耦输入端的负极，通过可调电位器调节输入电压调节回路中的电流大小，实现改变光耦中发光二极管的发光强度，进而实现调节光耦输出端的电压，根据光耦输出端的电压判断光耦是否合格。解决了现有技术中使用万用表检测存在的问题，使用本发明专利技术的光耦检测装置对光耦元件的检测准确率达到100％，同时大大的提高了检测的效率，节约了人力和检测的时间成本。

A Photocoupler Detection Device

【技术实现步骤摘要】
一种光耦检测装置
本专利技术涉及轨道交通
，具体涉及一种光耦检测装置，尤其涉及一种地铁车辆制动电阻控制盒用光耦元件检测装置。
技术介绍
光耦合器亦称光电隔离器或光电耦合器，简称光耦。它是以光为媒介来传输电信号的器件，通常把发光器(红外线发光二极管LED)与受光器(光敏半导体管，光敏电阻)封装在同一管壳内。当输入端加电信号时发光器发出光线，受光器接受光线之后就产生光电流，从输出端流出，从而实现了“电—光—电”转换。目前，普遍采用万用表来检测光耦的好坏，但是该方法存在操作复杂、检测效率低、容易错检的情况。在实际的生产过程中，用普通方法检测出的光耦元件安装于地铁车辆制动电阻控制盒时因光耦元件原因导致制动电阻控制盒存在30％-50％的不合格率，使得制动电阻控制板调试时需大量返修。综上所述，急需一种光耦检测装置以解决现有技术中存在的问题。
技术实现思路
本专利技术目的在于提供一种光耦检测装置，具体技术方案如下：一种光耦检测装置，包括输入电压调节回路、输出回路以及光耦，所述输入电压调节回路连接光耦的输入端，所述输出回路连接光耦的输出端；所述输入电压调节回路包括第一电源、可调电位器以及限流电阻，所述第一电源的正极通过可调电位器连接光耦输入端的正极，所述第一电源的负极通过限流电阻连接光耦输入端的负极，通过可调电位器调节输入电压调节回路中的电流大小，实现改变光耦中发光二极管的发光强度，进而实现调节光耦输出端的电压，根据光耦输出端的电压判断光耦是否合格。以上技术方案中优选的，所述输出回路包括与光耦输出端连接的第二电源，所述第二电源的正极连接所述光耦的集电极，所述第二电源的负极连接所述光耦的发射极。以上技术方案中优选的，所述输出回路还包括第二电容和偏置电阻，所述偏置电阻设置于第二电源的正极与光耦的集电极之间，所述第二电容的正极连接光耦的集电极，所述第二电容的负极连接第二电源的负极，通过测量第二电容正、负极间的电压即可得到光耦输出端的电压。以上技术方案中优选的，所述输出回路还包括DC/DC电源模块和第三电源，所述第三电源连接所述DC/DC电源模块的输入端，通过DC/DC电源模块将输入的第三电源转换成第二电源并输出，所述第三电源为直流110V。以上技术方案中优选的，所述第二电源的负极和第三电源的负极之间设有隔离电容。以上技术方案中优选的，所述第三电源的正极与DC/DC电源模块之间还串联设有保险丝和防反接二极管，所述防反接二极管靠近DC/DC电源模块设置，所述保险丝靠近第三电源设置。以上技术方案中优选的，所述输出回路还包括用于滤波的第四电容和第三电容，所述第四电容的正极连接第二电源的正极，所述第四电容的负极连接第二电源的负极，所述第三电容的正极连接DC/DC电源模块输入端的正极，所述第三电容的负极连接第三电源的负极。以上技术方案中优选的，所述第一电源为直流30V，所述第二电源为直流12V。以上技术方案中优选的，所述输入电源调节回路还包括用于滤波的第一电容，所述第一电容的正极连接第一电源的正极，所述第一电容的负极连接第一电源的负极。以上技术方案中优选的，还包括光耦固定装置，所述光耦设置于光耦固定装置上并通过光耦固定装置连接输入电压调节回路和输出回路。应用本专利技术的技术方案，具有以下有益效果：(1)本专利技术的光耦检测装置包括输入电压调节回路、输出回路以及光耦，通过输入电压调节回路中的可调电位器调节回路中的电流大小，实现改变光耦中发光二极管的发光强度，进而实现光耦中光敏三极管在发光二极管传过来的光作用下导通，因此只要检测光耦输出端的电压即可判断光耦是否合格，解决了现有技术中使用万用表检测存在的问题，使用本专利技术的光耦检测装置对光耦元件的检测准确率达到100％，避免现有技术检测方法导致制动电阻控制盒存在30％-50％的不合格率的情况，同时大大的提高了检测的效率，节约了人力和检测的时间成本。(2)本专利技术的光耦检测装置设置保险丝防止回路出现过载，对电路进行有效保护，设置防反接二极管可以利用二极管的单向导通性防止直流110V电源的正负极接反，对电路起到保护作用。(3)本专利技术的光耦检测装置设置光耦固定装置实现光耦插到光耦固定装置上即可以实现与输入电压调节回路、输出回路连通，方便拆卸和安装光耦元件，提高检测效率。(4)本专利技术的光耦检测装置测量第二电容正极和负极间的电压即可得到光耦输出端的电压，相对于现有技术通过光耦引脚判断光耦好坏的方法更加方便，测量的效率更高。(5)本专利技术的光耦检测装置在直流110V和直流12V之间设置隔离电容，可以有效的防止EMC干扰(电磁干扰)。(6)本专利技术的光耦检测装置设置第一电容、第二电容、第三电容以及第四电容进行滤波，保证电路工作的稳定性。除了上面所描述的目的、特征和优点之外，本专利技术还有其它的目的、特征和优点。下面将参照图，对本专利技术作进一步详细的说明。附图说明构成本申请的一部分的附图用来提供对本专利技术的进一步理解，本专利技术的示意性实施例及其说明用于解释本专利技术，并不构成对本专利技术的不当限定。在附图中：图1是本专利技术光耦检测装置的电路图；其中，1、输入电压调节回路，2、输出回路，C1、第一电容，R1、限流电阻，VR1、可调电位器，U1、光耦，C2、第二电容，R2、偏置电阻，S1、DC/DC电源模块，D1、防反接二极管，F1、保险丝，C3、第三电容，C4、第四电容，C5、隔离电容。具体实施方式以下结合附图对本专利技术的实施例进行详细说明，但是本专利技术可以根据权利要求限定和覆盖的多种不同方式实施。实施例1：参见图1，一种光耦检测装置，具体是一种用于地铁车辆制动电阻控制盒用光耦元件检测装置，包括输入电压调节回路1、输出回路2以及光耦U1，所述输入电压调节回路1连接光耦U1的输入端，所述输出回路2连接光耦U1的输出端；所述输入电压调节回路1包括第一电源、可调电位器VR1以及限流电阻R1，所述第一电源的正极通过可调电位器VR1连接光耦U1输入端的正极，所述第一电源的负极通过限流电阻R1连接光耦U1输入端的负极，通过可调电位器VR1调节输入电压调节回路1中的电流大小，实现改变光耦U1中发光二极管的发光强度，进而实现调节光耦U1输出端的电压，根据光耦U1输出端的电压判断光耦U1是否合格。所述输出回路包括与光耦U1输出端连接的第二电源，所述第二电源的正极连接所述光耦U1的集电极，所述第二电源的负极连接所述光耦U1的发射极。所述第一电源为直流30V，所述第二电源为直流12V。所述光耦检测装置还包括光耦固定装置，所述光耦U1设置于光耦固定装置上并通过光耦固定装置连接输入电压调节回路1和输出回路2。优选的，所述光耦固定装置可以采用通用的14脚IC插座剪掉中间的10脚制作而成，实现光耦U1插到光耦固定装置上即可以实现与输入电压调节回路、输出回路连通，方便拆卸和安装光耦元件，提高检测效率。所述输出回路还包括第二电容C2和偏置电阻R2，所述偏置电阻R2设置于第二电源的正极与光耦U1的集电极之间，所述第二电容C2的正极连接光耦U1的集电极，所述第二电容C2的负极连接第二电源的负极，通过测量第二电容C2正、负极间的电压即可得到光耦U1输出端的电压。本专利技术光耦检测装置根据光耦U1输出端的电压判断光耦U1是否合格，具体为：使用万用表测量第二电容C2正极和负极间的电压，当本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种光耦检测装置，其特征在于，包括输入电压调节回路(1)、输出回路(2)以及光耦(U1)，所述输入电压调节回路(1)连接光耦(U1)的输入端，所述输出回路(2)连接光耦(U1)的输出端；所述输入电压调节回路(1)包括第一电源、可调电位器(VR1)以及限流电阻(R1)，所述第一电源的正极通过可调电位器(VR1)连接光耦(U1)输入端的正极，所述第一电源的负极通过限流电阻(R1)连接光耦(U1)输入端的负极，通过可调电位器(VR1)调节输入电压调节回路(1)中的电流大小，实现改变光耦(U1)中发光二极管的发光强度，进而实现调节光耦(U1)输出端的电压，根据光耦(U1)输出端的电压判断光耦(U1)是否合格。

【技术特征摘要】
1.一种光耦检测装置，其特征在于，包括输入电压调节回路(1)、输出回路(2)以及光耦(U1)，所述输入电压调节回路(1)连接光耦(U1)的输入端，所述输出回路(2)连接光耦(U1)的输出端；所述输入电压调节回路(1)包括第一电源、可调电位器(VR1)以及限流电阻(R1)，所述第一电源的正极通过可调电位器(VR1)连接光耦(U1)输入端的正极，所述第一电源的负极通过限流电阻(R1)连接光耦(U1)输入端的负极，通过可调电位器(VR1)调节输入电压调节回路(1)中的电流大小，实现改变光耦(U1)中发光二极管的发光强度，进而实现调节光耦(U1)输出端的电压，根据光耦(U1)输出端的电压判断光耦(U1)是否合格。2.根据权利要求1所述的光耦检测装置，其特征在于，所述输出回路包括与光耦(U1)输出端连接的第二电源，所述第二电源的正极连接所述光耦(U1)的集电极，所述第二电源的负极连接所述光耦(U1)的发射极。3.根据权利要求2所述的光耦检测装置，其特征在于，所述输出回路还包括第二电容(C2)和偏置电阻(R2)，所述偏置电阻(R2)设置于第二电源的正极与光耦(U1)的集电极之间，所述第二电容(C2)的正极连接光耦(U1)的集电极，所述第二电容(C2)的负极连接第二电源的负极，通过测量第二电容(C2)正、负极间的电压即可得到光耦(U1)输出端的电压。4.根据权利要求3所述的光耦检测装置，其特征在于，所述输出回路(2)还包括DC/DC电源模块(S1)和第三电源，所述第三电源连接所述DC/DC...

【专利技术属性】
技术研发人员：吴晓喜，肖峰，阮志新，
申请(专利权)人：湖南联诚轨道装备有限公司，
类型：发明
国别省市：湖南,43