一种光耦检测装置制造方法及图纸

本发明专利技术提供了一种光耦检测装置，包括输入电压调节回路、输出回路以及光耦，所述输入电压调节回路连接光耦的输入端，输出回路连接光耦的输出端；输入电压调节回路包括第一电源、可调电位器以及限流电阻，第一电源的正极通过可调电位器连接光耦输入端的正极，第一电源的负极通过限流电阻连接光耦输入端的负极，通过可调电位器调节输入电压调节回路中的电流大小，实现改变光耦中发光二极管的发光强度，进而实现调节光耦输出端的电压，根据光耦输出端的电压判断光耦是否合格。解决了现有技术中使用万用表检测存在的问题，使用本发明专利技术的光耦检测装置对光耦元件的检测准确率达到100％，同时大大的提高了检测的效率，节约了人力和检测的时间成本。

A Photocoupler Detection Device

【技术实现步骤摘要】
一种光耦检测装置
本专利技术涉及轨道交通
，具体涉及一种光耦检测装置，尤其涉及一种地铁车辆制动电阻控制盒用光耦元件检测装置。
技术介绍
光耦合器亦称光电隔离器或光电耦合器，简称光耦。它是以光为媒介来传输电信号的器件，通常把发光器(红外线发光二极管LED)与受光器(光敏半导体管，光敏电阻)封装在同一管壳内。当输入端加电信号时发光器发出光线，受光器接受光线之后就产生光电流，从输出端流出，从而实现了“电—光—电”转换。目前，普遍采用万用表来检测光耦的好坏，但是该方法存在操作复杂、检测效率低、容易错检的情况。在实际的生产过程中，用普通方法检测出的光耦元件安装于地铁车辆制动电阻控制盒时因光耦元件原因导致制动电阻控制盒存在30％-50％的不合格率，使得制动电阻控制板调试时需大量返修。综上所述，急需一种光耦检测装置以解决现有技术中存在的问题。
技术实现思路
本专利技术目的在于提供一种光耦检测装置，具体技术方案如下：一种光耦检测装置，包括输入电压调节回路、输出回路以及光耦，所述输入电压调节回路连接光耦的输入端，所述输出回路连接光耦的输出端；所述输入电压调节回路包括第一电源、可调电位器以及限流电阻，本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种光耦检测装置，其特征在于，包括输入电压调节回路(1)、输出回路(2)以及光耦(U1)，所述输入电压调节回路(1)连接光耦(U1)的输入端，所述输出回路(2)连接光耦(U1)的输出端；所述输入电压调节回路(1)包括第一电源、可调电位器(VR1)以及限流电阻(R1)，所述第一电源的正极通过可调电位器(VR1)连接光耦(U1)输入端的正极，所述第一电源的负极通过限流电阻(R1)连接光耦(U1)输入端的负极，通过可调电位器(VR1)调节输入电压调节回路(1)中的电流大小，实现改变光耦(U1)中发光二极管的发光强度，进而实现调节光耦(U1)输出端的电压，根据光耦(U1)输出端的电压判断光耦(U1...

【技术特征摘要】
1.一种光耦检测装置，其特征在于，包括输入电压调节回路(1)、输出回路(2)以及光耦(U1)，所述输入电压调节回路(1)连接光耦(U1)的输入端，所述输出回路(2)连接光耦(U1)的输出端；所述输入电压调节回路(1)包括第一电源、可调电位器(VR1)以及限流电阻(R1)，所述第一电源的正极通过可调电位器(VR1)连接光耦(U1)输入端的正极，所述第一电源的负极通过限流电阻(R1)连接光耦(U1)输入端的负极，通过可调电位器(VR1)调节输入电压调节回路(1)中的电流大小，实现改变光耦(U1)中发光二极管的发光强度，进而实现调节光耦(U1)输出端的电压，根据光耦(U1)输出端的电压判断光耦(U1)是否合格。2.根据权利要求1所述的光耦检测装置，其特征在于，所述输出回路包括与光耦(U1)输出端连接的第二电源，所述第二电源的正极连接所述光耦(U1)的集电极，所述第二电源的负极连接所述光耦(U1)的发射极。3.根据权利要求2所述的光耦检测装置，其特征在于，所述输出回路还包括第二电容(C2)和偏置电阻(R2)，所述偏置电阻(R2)设置于第二电源的正极与光耦(U1)的集电极之间，所述第二电容(C2)的正极连接光耦(U1)的集电极，所述第二电容(C2)的负极连接第二电源的负极，通过测量第二电容(C2)正、负极间的电压即可得到光耦(U1)输出端的电压。4.根据权利要求3所述的光耦检测装置，其特征在于，所述输出回路(2)还包括DC/DC电源模块(S1)和第三电源，所述第三电源连接所述DC/DC...

【专利技术属性】
技术研发人员：吴晓喜，肖峰，阮志新，
申请(专利权)人：湖南联诚轨道装备有限公司，
类型：发明
国别省市：湖南,43