【技术实现步骤摘要】
一种电机单电阻采样控制方法及装置
本专利技术涉及电机驱动
,特别涉及一种电机单电阻采样控制方法及装置。
技术介绍
在电机运转过程中,需要采用电机三相线圈的相电流来实现对电机的控制。而采用何种方式对三相线圈的电流进行采样会影响控制电机运转的成本。目前,在传统的电机的三相电流采样方法中,常使用三电阻或双电阻的方式采样电机的相电流。但由于利用双电阻及三电阻的采样控制电路较为复杂,且制作成本较高,因此,采用单电阻采样控制电路对电机的三相电流进行采样的方式已逐渐取代传统的采样方式。但是,采用单电阻采样控制电路采样相电流的方式,需要通过控制芯片两路独立的模/数转换器(Analog-to-DigitalConverter,ADC),在一个PWM周期内的不同时刻完成两次电流采样,而当控制芯片资源有限,只有一路独立的ADC时,则很难实现单电阻电流采样。
技术实现思路
本专利技术实施例提供了一种电机单电阻采样控制方法及装置,能够通过具有一路独立ADC的控制芯片完成单电阻采样控制电路相电流的采样。第一方面,一种电机单电阻采样控制方法,包括:预先确定与待采样电机相连的单电阻采样控制电路的开通延迟时长、关断延迟时长、电流稳定时长和插入死区的死区时长,以及控制芯片采集所述单电阻采样控制电路输出的一个相电流的采样时长;确定所述待采样电机的三个相电流在一个PWM波的三个高电平中的第二高电平的持续时长,其中,所述第二高电平的持续时长小于所述三个高电平中的第一高电平的持续时长,且大于所述三个高电平中的第三高电平的持续时长,其中,所述PWM波采用中央对称模式;根据所述关断延迟时长和所述采样时 ...
【技术保护点】
1.一种电机单电阻采样控制方法,其特征在于,包括:预先确定与待采样电机相连的单电阻采样控制电路的开通延迟时长、关断延迟时长、电流稳定时长和插入死区的死区时长,以及控制芯片采集所述单电阻采样控制电路输出的一个相电流的采样时长;确定所述待采样电机的三个相电流在一个PWM波的三个高电平中的第二高电平的持续时长,其中,所述第二高电平的持续时长小于所述三个高电平中的第一高电平的持续时长,且大于所述三个高电平中的第三高电平的持续时长,其中,所述PWM波采用中央对称模式;根据所述关断延迟时长和所述采样时长,确定在所述第二高电平关断前采集所述待采样电机通过所述单电阻采样控制电路输出的第一相电流的第一目标点;根据所述关断延迟时长、所述死区时长、所述开通延迟时长、所述电流稳定时长和所述采样时长,确定在所述第二高电平关断后采集所述待采样电机通过所述单电阻采样控制电路输出的第二相电流的第二目标点;当所述第一目标点与所述第二目标点的时间间隔小于所述控制芯片的模数转换的转换时长时,根据所述转换时长对所述第一目标点和第二目标点进行调整,并将调整后的所述第一目标点作为第一采样点,将调整后的第二目标点作为第二采样点;按 ...
【技术特征摘要】
1.一种电机单电阻采样控制方法,其特征在于,包括:预先确定与待采样电机相连的单电阻采样控制电路的开通延迟时长、关断延迟时长、电流稳定时长和插入死区的死区时长,以及控制芯片采集所述单电阻采样控制电路输出的一个相电流的采样时长;确定所述待采样电机的三个相电流在一个PWM波的三个高电平中的第二高电平的持续时长,其中,所述第二高电平的持续时长小于所述三个高电平中的第一高电平的持续时长,且大于所述三个高电平中的第三高电平的持续时长,其中,所述PWM波采用中央对称模式;根据所述关断延迟时长和所述采样时长,确定在所述第二高电平关断前采集所述待采样电机通过所述单电阻采样控制电路输出的第一相电流的第一目标点;根据所述关断延迟时长、所述死区时长、所述开通延迟时长、所述电流稳定时长和所述采样时长,确定在所述第二高电平关断后采集所述待采样电机通过所述单电阻采样控制电路输出的第二相电流的第二目标点;当所述第一目标点与所述第二目标点的时间间隔小于所述控制芯片的模数转换的转换时长时,根据所述转换时长对所述第一目标点和第二目标点进行调整,并将调整后的所述第一目标点作为第一采样点,将调整后的第二目标点作为第二采样点;按照所述第一采样点和所述第二采样点,控制所述控制芯片采集对应的第一相电流和第二相电流;根据采集的第一相电流和第二相电流,确定所述待采样电机的第三相电流。2.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,所述根据所述关断延迟时长和所述采样时长,确定在所述第二高电平关断前采集所述待采样电机通过所述单电阻采样控制电路输出的第一相电流的第一目标点,包括:所述采样时长,包括:采样延迟时长和采样保持时长;在所述PWM波向上计数阶段,将所述第二高电平关断前的第一时刻,作为采集所述待采样电机通过所述单电阻采样控制电路输出的第一相电流的第一目标点,其中,所述第一时刻满足下述第一公式:M1=Y+K-F其中,M1表征所述第一时刻,F表征所述关断延迟时长,Y表征所述采样延迟时长,K表征所述采样保持时长。3.根据权利要求2所述的方法,其特征在于,所述根据所述关断延迟时长、所述死区时长、所述开通延迟时长、所述电流稳定时长和所述采样时长,确定在所述第二高电平关断后采集所述待采样电机通过所述单电阻采样控制电路输出的第二相电流的第二目标点,包括:在所述PWM波向上计数阶段,当所述电流稳定时长大于所述采样延迟时长时,根据所述关断延迟时长、所述死区时长、所述开通延迟时长、所述电流稳定时长和所述采样延迟时长,确定在所述第二高电平关断后的第二时刻,并将所述第二时刻作为采集所述待采样电机通过所述单电阻采样控制电路输出的第二相电流的第二目标点;当所述电流稳定时长不大于所述采样延迟时长时,根据所述关断延迟时长、所述死区时长和所述开通延迟时长,确定在所述第二高电平关断后的第三时刻,并将所述第三时刻作为采集所述待采样电机通过所述单电阻采样控制电路输出的第二相电流的第二目标点。4.根据权利要求3所述的方法,其特征在于,所述根据所述关断延迟时长、所述死区时长、所述开通延迟时长、所述电流稳定时长和所述采样延迟时长,确定在所述第二高电平关断后的第二时刻,包括:根据下述第二公式,确定所述第二高电平关断后的第二时刻:M2=F+D+O+W-Y其中,M2表征所述第二时刻,F表征所述关断延迟时长,D表征所述死区时长,O表征所述开通延迟时长,W表征电流稳定时长,Y表征所述采样延迟时长;和/或,所述根据所述关断延迟时长、所述死区时长和所述开通延迟时长,确定在所述第二高电平关断后的第三时刻,包括:根据下述第三公式,确定所述第二高电平关断后的第三时刻:M3=F+D+O其中,M3表征所述第三时刻,F表征所述关断延迟时长,D表征所述死区时长,O表征所述开通延迟时长。5.根据权利要求2所述的方法,其特征在于,在所述根据所述关断延迟时长和所述采样时长,确定在所述第二高电平关断前采集所述待采样电机通过所述单电阻采样控制电路输出的第一相电流的第一目标点之前,进一步包括:确定所述第二高电平的持续时长与所述第三高电平的持续时长的差值,以及所述第一高电平的持续时长与所述第二高电平的持续时长的差值是否均不小于2倍的预设的执行时长,如果是,执行所述在所述PWM波向上计数阶段,将所述第二高电平关断前的第一时刻,作为采集所述待采样电机通过所述单电阻采样控制电路输出的第一相电流的第一目标点,其中,所述执行时长满足下述第四公式:Z=F+D+O+K+R其中,Z表征所述执行时长,F表征所述关断延迟时长,D表征所述死区时长,O表征所述开通延迟时长,K表征...
【专利技术属性】
技术研发人员:涂小平,唐婷婷,王声纲,赵鹏飞,朱绯,陈跃,杨正,潘军,
申请(专利权)人:四川虹美智能科技有限公司,
类型:发明
国别省市:四川,51
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