表面缺陷检测系统和方法技术方案

本申请涉及一种表面缺陷检测系统，该系统包括：缺陷检测设备，用于接收待检测目标主体的目标图像，对所述目标图像进行缺陷检测，将检测到的缺陷发送给缺陷分类设备；缺陷分类设备，用于对所述缺陷进行分类，得到分类结果。该系统通过对缺陷进行分类有利于后续有针对性地对缺陷进行修补。此外，还提出了一种缺陷检测方法。

Surface Defect Detection System and Method

【技术实现步骤摘要】
表面缺陷检测系统和方法
本专利技术涉及计算机
，尤其是涉及一种表面缺陷检测系统和方法。
技术介绍
在工业生产中，需要对生产出的产品表面进行缺陷检测。传统的缺陷检测只是单纯的使用一台缺陷检测设备进行检测，且仅仅能够定位出缺陷的位置，不利于后续针对缺陷进行修补改进。因此，传统的缺陷检测需要改进。
技术实现思路
基于此，有必要针对上述问题，提供一种改进的有利于后续对缺陷进行修改的表面缺陷检测系统和方法。第一方面，本专利技术实施例提供一种表面缺陷检测系统，所述系统包括：缺陷检测设备，用于接收待检测目标主体的目标图像，对所述目标图像进行缺陷检测，将检测到的缺陷发送给缺陷分类设备；缺陷分类设备，用于对所述缺陷进行分类，得到分类结果。在其中一个实施例中，所述系统还包括：与所述缺陷检测设备连接的摄像装置，用于对所述目标主体进行拍摄得到目标图像，将所述目标图像传输给所述缺陷检测设备。在其中一个实施例中，所述缺陷检测设备还用于根据检测得到的缺陷的边缘点信息提取出缺陷图像，将所述缺陷图像发送给所述缺陷分类设备；所述缺陷分类设备还用于根据所述缺陷图像对所述缺陷进行分类得到分类结果。在其中一个实施例中，所述缺陷分类设备有多个，所述多个缺陷分类设备中包括一个主缺陷分类设备；所述主缺陷分类设备用于获取每个缺陷分类设备的负载和对应的待分类的图像数量，根据所述缺陷分类设备的负载和待分类的图像数量对所述缺陷分类设备进行评分，根据评分结果确定目标缺陷分类设备，将所述目标缺陷分类设备的地址返回给所述缺陷检测设备；所述缺陷检测设备还用于根据所述目标缺陷分类设备的地址建立与所述目标缺陷分类设备的连接。在其中一个实施例中，所述所述缺陷检测设备有多个，每个缺陷检测设备与多个所述摄像装置连接。在其中一个实施例中，所述缺陷分类设备还用于将分类完成后的缺陷图像和相应的附属信息存入数据库，所述附属信息包括：缺陷类型。第二方面，本专利技术提供一种表面缺陷检测方法，所述方法包括：缺陷检测设备接收待检测目标主体的目标图像，对所述目标图像进行缺陷检测，将检测到的缺陷发送给缺陷分类设备；所述缺陷分类设备对所述缺陷进行分类，得到分类结果。在其中一个实施例中，所述方法还包括：与所述缺陷检测设备连接的摄像装置对所述目标主体进行拍摄得到目标图像，将所述目标图像传输给所述缺陷检测设备。在其中一个实施例中，所述缺陷检测设备接收待检测目标主体的目标图像，对所述目标图像进行缺陷检测，将检测到的缺陷发送给缺陷分类设备，包括：所述缺陷检测设备根据检测得到的缺陷的边缘点信息提取出缺陷图像，将所述缺陷图像发送给所述缺陷分类设备；所述所述缺陷分类设备对所述缺陷进行分类，得到分类结果，包括：所述缺陷分类设备根据所述缺陷图像对所述缺陷进行分类得到分类结果。在其中一个实施例中，所述缺陷分类设备有多个，所述多个缺陷分类设备中包括一个主缺陷分类设备；所述方法还包括：所述主缺陷分类设备获取每个缺陷分类设备的负载和对应的待分类的图像数量，根据所述缺陷分类设备的负载和待分类的图像数量对所述缺陷分类设备进行评分，根据评分结果确定目标缺陷分类设备，将所述目标缺陷分类设备的地址返回给所述缺陷检测设备；所述缺陷检测设备根据所述目标缺陷分类设备的地址建立与目标缺陷分类设备的连接。在其中一个实施例中，所述缺陷检测设备有多个，每个缺陷检测设备与多个所述摄像装置连接。在其中一个实施例中，所述方法还包括：所述缺陷分类设备将分类完成后的缺陷图像和相应的附属信息存入数据库，所述附属信息包括：缺陷类型。上述表面缺陷检测系统和方法，包括缺陷检测设备和缺陷分类设备，缺陷检测设备用于接收待检测目标主体的目标图像，对目标图像进行缺陷检测，将检测到的缺陷发送给缺陷分类设备，缺陷分类设备对缺陷进行分类，得到分类结果。通过将多个缺陷检测设备与缺陷分类设备连接起来，可以实时将检测到的缺陷进行分类，通过对缺陷进行分类有利于后续有针对性地对缺陷进行修补。附图说明为了更清楚地说明本专利技术实施例或现有技术中的技术方案，下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本专利技术的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图示出的结构获得其他的附图。图1为一个实施例中表面缺陷检测系统的框架图；图2为另一个实施例中表面缺陷检测系统的框架图；图3为又一个实施例中表面缺陷检测系统的框架图；图4为再一个实施例中表面缺陷检测系统的框架图；图5为一个实施例中表面缺陷检测系统的架构示意图；图6为一个实施例中表面缺陷检测方法的流程图；图7为另一个实施例中表面缺陷检测方法的流程图；图8为又一个实施例中表面缺陷检测方法的流程图。具体实施方式为了使本专利技术的目的、技术方案及优点更加清楚明白，以下结合附图及实施例，对本专利技术进行进一步详细说明。应当理解，此处所描述的具体实施例仅仅用以解释本专利技术，并不用于限定本专利技术。如图1所示，提出了一种表面缺陷检测系统，该系统包括：缺陷检测设备102，用于接收待检测目标主体的目标图像，对目标图像进行缺陷检测，将检测到的缺陷发送给缺陷分类设备。其中，缺陷检测设备可以是缺陷检测服务器，也可以是缺陷检测终端等。缺陷检测设备可以是一个，也可以是多个。目标主体是指待检测缺陷的目标物，目标图像是指目标主体的图像。目标图像可以为彩色图像，也可以为灰色图像，还可以为二值化图像。目标主体可以是布匹、也可以薄膜，还可以是玻璃等。目标图像的获取可以是实时对目标主体进行拍摄得到的，也可以是从已存储的相册中获取的，还可以是实时地从摄像装置中获取到的。将检测到的缺陷实时发送给缺陷分类设备，提高了检测效率。缺陷分类设备104，用于对缺陷进行分类，得到分类结果。其中，缺陷分类设备可以是缺陷分类服务器，也可以是缺陷分类终端等。缺陷分类设备与缺陷检测设备连接，接收缺陷检测设备检测到的缺陷，然后对缺陷进行分类，得到分类结果。通过将缺陷进行分类，有利于后续根据类别集中对缺陷进行处理，便于提高处理的效率。上述表面缺陷检测系统，包括缺陷检测设备和缺陷分类设备，缺陷检测设备用于接收待检测目标主体的目标图像，对目标图像进行缺陷检测，将检测到的缺陷发送给缺陷分类设备，缺陷分类设备对缺陷进行分类，得到分类结果。通过将多个缺陷检测设备与缺陷分类设备连接起来，可以实时将检测到的缺陷进行分类，通过对缺陷进行分类有利于后续有针对性地对缺陷进行修补。如图2所示，在一个实施例中，上述表面缺陷检测系统还包括：与每个缺陷检测设备连接的摄像装置106，用于对目标主体进行拍摄得到目标图像，将目标图像传输给缺陷检测设备。其中，可以将一个或多个摄像装置(比如，相机)与缺陷检测设备连接，实时将拍摄得到的目标图像传输给缺陷检测设备。在一个实施例中，摄像装置通过CameraLink(照相机)线连接到缺陷检测设备。摄像装置用于对目标主体进行拍摄得到目标图像，然后实时地将目标图像传输给缺陷检测设备，以便实现实时地对缺陷进行检测。在一个实施例中，缺陷检测设备还用于根据检测得到的缺陷的边缘点信息提取出缺陷图像，将缺陷图像发送给缺陷分类设备；缺陷分类设备还用于根据缺陷图像进行分类得到分类结果。其中，为了提高分类的准确性，检测到缺陷后，根据缺陷的边缘点信息提取本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种表面缺陷检测系统，其特征在于，所述系统包括：缺陷检测设备，用于接收待检测目标主体的目标图像，对所述目标图像进行缺陷检测，将检测到的缺陷发送给缺陷分类设备；缺陷分类设备，用于对所述缺陷进行分类，得到分类结果。

【技术特征摘要】
1.一种表面缺陷检测系统，其特征在于，所述系统包括：缺陷检测设备，用于接收待检测目标主体的目标图像，对所述目标图像进行缺陷检测，将检测到的缺陷发送给缺陷分类设备；缺陷分类设备，用于对所述缺陷进行分类，得到分类结果。2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述系统还包括：与所述缺陷检测设备连接的摄像装置，用于对所述目标主体进行拍摄得到目标图像，将所述目标图像传输给所述缺陷检测设备。3.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述缺陷检测设备还用于根据检测得到的缺陷的边缘点信息提取出缺陷图像，将所述缺陷图像发送给所述缺陷分类设备；所述缺陷分类设备还用于根据所述缺陷图像对所述缺陷进行分类得到分类结果。4.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述缺陷分类设备有多个，所述多个缺陷分类设备中包括一个主缺陷分类设备；所述主缺陷分类设备用于获取每个缺陷分类设备的负载和对应的待分类的图像数量，根据所述缺陷分类设备的负载和待分类的图像数量对所述缺陷分类设备进行评分，根据评分结果确定目标缺陷分类设备，将所述目标缺陷分类设备的地址返回给所述缺陷检测设备；所述缺陷检测设备还用于根据所述目标缺陷分类设备的地址建立与所述目标缺陷分类设备的连接。5.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述缺陷检测设备有多个，所述每个缺陷检测设备与多个所述摄像装置连接。6.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述缺陷分类设备还用于将分类完成后的缺陷图像和相应的附属信息存入数据库，所述附属信息包括：缺陷...

【专利技术属性】
技术研发人员：张孟，廖方诚，曾江东，
申请(专利权)人：深圳新视智科技术有限公司，
类型：发明
国别省市：广东,44