芯片年龄判断方法、装置、IP模块及芯片制造方法及图纸

本发明专利技术实施例涉及一种芯片年龄判断方法、装置、IP模块及芯片。方法包括：激励芯片中的物理不可克隆函数熵源；多次提取所述熵源的物理不可克隆函数反馈值；计算所述物理不可克隆函数反馈值的错误率；根据所述物理不可克隆函数反馈值的错误率判断所述芯片的使用时长。通过本发明专利技术实施例，能够准确的判断芯片年龄，安全性强。

Chip Age Judgment Method, Device, IP Module and Chip

【技术实现步骤摘要】
芯片年龄判断方法、装置、IP模块及芯片
本专利技术涉及芯片检测领域，尤其涉及一种芯片年龄判断方法、装置、IP模块及芯片。
技术介绍
因为芯片全球供应链的关系，政府、公司等单位购买芯片使用的来源渠道多种多样。芯片回收翻新再售卖给相关的单位已经是一种常见的黑产获益手段。相关的政府，公司使用了翻新的芯片产品会对自身的产品稳定性造成巨大影响。当前手段仅仅通过芯片外表判断亦或是通过物理侵入芯片判断内部结构是否老化。这种判断方法费时费力，并且由于翻新技术的更迭，往往无法达到验收的效果，同时无法精确的判断出芯片的使用年限。如何准确的判断芯片年龄，是本领域亟待解决的一大问题。
技术实现思路
本专利技术实施例提供一种芯片年龄判断方法、装置、IP模块及芯片，可准确的判断芯片年龄。一方面，本专利技术实施例提供一种芯片年龄的判断方法，包括：激励芯片中的物理不可克隆函数熵源；多次提取所述熵源的物理不可克隆函数反馈值；计算所述物理不可克隆函数反馈值的错误率；根据所述物理不可克隆函数反馈值的错误率判断所述芯片的年龄。可选的，计算所述物理不可克隆函数反馈值的错误率，具体为：根据所述多次提取的所述熵源的物理不可克隆函数反本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种芯片年龄的判断方法，其特征在于，包括：激励芯片中的物理不可克隆函数熵源；多次提取所述熵源的物理不可克隆函数反馈值；计算所述物理不可克隆函数反馈值的错误率；根据所述物理不可克隆函数反馈值的错误率判断所述芯片的年龄。

【技术特征摘要】
1.一种芯片年龄的判断方法，其特征在于，包括：激励芯片中的物理不可克隆函数熵源；多次提取所述熵源的物理不可克隆函数反馈值；计算所述物理不可克隆函数反馈值的错误率；根据所述物理不可克隆函数反馈值的错误率判断所述芯片的年龄。2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述计算所述物理不可克隆函数反馈值的错误率，具体为：根据所述多次提取的所述熵源的物理不可克隆函数反馈值与标准反馈值的比较计算所述不可克隆函数值的错误率；所述标准反馈值是被指定作为比较标准的，其中一次提取的所述熵源的物理不可克隆函数反馈值。3.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述激励方式为：在预设时长内，以预设频率对所述物理不可克隆函数熵源反复激励以获取物理不可克隆函数反馈值，所述激励包括复位、上下电、固定数据输入中的任一种。4.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述根据所述物理不可克隆函数反馈值的错误率判断所述芯片的年龄，具体包括：将所述错误率与预存的错误率与芯片年龄的对应关系比较，得出所述芯片的年龄。5.一种芯片年龄的判断装置，其特征在于，包括:第一错误率提取模块，用于激励芯片中的物理不可克隆函数熵源，，并计算所述物理不可克隆函数反馈值的错误率；第一年龄判断模块，用于根据所述错误率提取模块对所述物理不可克隆函数反馈值错误率的计算结果判断所述芯片的年龄。6.根据权利要求5所述的装置，其特征在于，所述错误率提取模块包括：第一错误率计算子模块，用于根据所述多次提取的所述熵源的物理不可克隆函数反馈值与标准反馈值的比较计算所述不可克隆函数值的错误率；所述标准反馈值是被指定作为比较标准的，其中一次提取的所述熵源的物理不可克隆函数反馈值。7.根据权利要求5所述的装置，其特征在于，所述错误率提取模块包括：第一激励子模块，用于在预设时长内，以...

【专利技术属性】
技术研发人员：周煜梁，
申请(专利权)人：深圳市纽创信安科技开发有限公司，
类型：发明
国别省市：广东,44