一种验证eMMC数据稳定性和可靠性的测试方法技术

本发明专利技术公开了一种验证eMMC数据稳定性和可靠性的测试方法，包括以下测试步骤：S1：取30PCS全新的eMMC上电启动，配置固件自身的参数；S2:温箱温度升到85℃；S3:对eMMC进行写读检验压力测试，S4:检验Pass；S5:Emmc PE>200；S6:扫描eMMC得到所有block的ecc状况。本发明专利技术中，该测试方法采用高温读写的环境，利用高温下的读写会加速data error bit的漂升的原理,可以测试eMMC本体是否够强壮，同时也会触发eMMC的FW在高温环境下对error bit漂高到门槛值而还没有发生UECC的相对弱的block进行把数据提前搬移到空的block,从而保证数据自身的安全性，同时也可以测试出在这种恶劣环境下,nand flash memory 电子游离异常后,eMMC固件对data异常的处理是否可以保证数据的安全可靠性，从而最大化的提高测试方法的准确性。

A Test Method to Verify the Stability and Reliability of eMMC Data

【技术实现步骤摘要】
一种验证eMMC数据稳定性和可靠性的测试方法
本专利技术涉及eMMC存储技术
，尤其涉及一种验证eMMC数据稳定性和可靠性的测试方法。
技术介绍
eMMC是embeddedMultiMediaCard的简称,是一种嵌入式的存储设备.当今数码市场智能设备离不开数据的处理和存储,eMMC作为一种可靠的嵌入式存储设备,已经非常广泛的使用在各种的智能设备上，eMMC是由Devicecontroller和nandflashmemoryarray封装在一起组成，Devicecontroller负责透过mmc协议层跟host的通讯和管理nandflashmemoryarray，这样市场上的智能终端设备只要遵循MMC协议层进行数据的读写,而不需要去参与nandflashmemoryarray的管理,而eMMC处理数据的稳定可靠性是eMMC设备最重要的参数特征一直，因此需要对eMMC数据的稳定性和可靠性进行必要的验证处理。
技术实现思路
本专利技术的目的是为了解决现有技术中存在的缺点，而提出的一种验证eMMC数据稳定性和可靠性的测试方法。为了实现上述目的，本专利技术采用了如下技术方案：一种验证eMMC数据稳定性和可靠性的测试方法，包括以下测试步骤：S1:取30PCS全新的eMMC上电启动，配置固件自身的参数；S2:温箱温度升到85℃；S3:对eMMC进行写读检验压力测试，S4:检验Pass；S5:EmmcPE>200；S6:扫描eMMC得到所有block的ecc状况。作为上述技术方案的进一步描述：所述步骤S1中，30PCS全新的eMMC的型号规格均保持一致，并且采用统一编程设备和技术对固件自身的初始参数进行配置，确保30PCS全新的eMMC可以处于相同的初始状态。作为上述技术方案的进一步描述：所述步骤S2中，温箱采用温箱采用密封干燥的方式进行恒温加热，确保30PCS全新的eMMC能够处于干燥恒温的85℃密封环境中，隔绝外界一切环境的干扰影响。作为上述技术方案的进一步描述：所述步骤S3和S4中，eMMC的读写过程遵守MMC协议层，不需要去参与nandflashmemoryarray的管理，并在MMC协议层的限制下对自身读写状态进行必要性的校验处理。作为上述技术方案的进一步描述：所述步骤S5中，PE的数值打到200以上,能够保证客户数据量输入的情况下,最大极限的测试出eMMC本体的稳定性和可靠性。作为上述技术方案的进一步描述：所述步骤S6中，对eMMC的扫描采用全盘扫描ecc状况的方式，从而能够得到所有eMMC中每个block最大的eccerrorbit具体数值，从而给与客户观察了解。有益效果本专利技术提供了一种验证eMMC数据稳定性和可靠性的测试方法。具备以下有益效果：（1）：该测试方法采用高温读写的环境，利用高温下的读写会加速dataerrorbit的漂升的原理,可以测试eMMC本体是否够强壮，同时也会触发eMMC的FW在高温环境下对errorbit漂高到门槛值而还没有发生UECC的相对弱的block进行把数据提前搬移到空的block,从而保证数据自身的安全性。（2）：该测试方法通过将PE数值打到200以上,能够在保证客户数据量输入的情况下,最大极限的测试出eMMC本体的稳定性和可靠性，同时也可以测试出在这种恶劣环境下,nandflashmemory电子游离异常后,eMMC固件对data异常的处理是否可以保证数据的安全可靠性，从而最大化的提高测试方法的准确性。附图说明图1为本专利技术提出的一种验证eMMC数据稳定性和可靠性的测试方法中实施例一的流程示意图；图2为本专利技术中实施例二的流程示意图；图3为本专利技术中实施例三的流程示意图；图4为本专利技术中实施例四的流程示意图。具体实施方式下面将结合本专利技术实施例中的附图，对本专利技术实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本专利技术一部分实施例，而不是全部的实施例。实施例一参照图1，一种验证eMMC数据稳定性和可靠性的测试方法，包括以下测试步骤：S1:取30PCS全新的eMMC上电启动，配置固件自身的参数；S2:温箱温度升到85℃；S3:对eMMC进行写读检验压力测试，S4:检验Pass；S5:EmmcPE>200；S6:扫描eMMC得到所有block的ecc状况。步骤S1中，30PCS全新的eMMC的型号规格均保持一致，并且采用统一编程设备和技术对固件自身的初始参数进行配置，确保30PCS全新的eMMC可以处于相同的初始状态。步骤S2中，温箱采用温箱采用密封干燥的方式进行恒温加热，确保30PCS全新的eMMC能够处于干燥恒温的85℃密封环境中，隔绝外界一切环境的干扰影响。步骤S3和S4中，eMMC的读写过程遵守MMC协议层，不需要去参与nandflashmemoryarray的管理，并在MMC协议层的限制下对自身读写状态进行必要性的校验处理。步骤S5中，PE的数值打到200以上,能够保证客户数据量输入的情况下,最大极限的测试出eMMC本体的稳定性和可靠性。步骤S6中，对eMMC的扫描采用全盘扫描ecc状况的方式，从而能够得到所有eMMC中每个block最大的eccerrorbit具体数值，从而给与客户观察了解。本实施例中，在恒高温85℃下,对eMMC进行写,然后在恒高温85℃下对eMMC进行读校验,全盘扫描ecc状况得到eMMC每个block最大的eccerrorbit。利用高温下的读写会加速dataerrorbit的漂升的原理,使得这个测试场景可以知道eMMC本体是否够强壮，同时也会触发eMMC的FW在这个场景下对errorbit漂高到门槛值而还没有发生UECC的相对弱的block进行把数据提前搬移到空的block,从而保证数据的安全性。实施例二，本实施例为实施例一的另一种实施方案参照图2，一种验证eMMC数据稳定性和可靠性的测试方法，包括以下测试步骤：S1:取30PCS全新的eMMC上电启动，配置固件自身的参数；S2:温箱温度降低到-40℃；S3:对eMMC进行写读检验压力测试，S4:检验Pass；S5:EmmcPE>200；S6:扫描eMMC得到所有block的ecc状况。本实施例中，在恒低温-40℃下,对eMMC进行写,然后在恒低温-40℃下对eMMC进行读校验,全盘扫描ecc状况得到eMMC每个block最大的eccerrorbit。nandflashmemory在低温下储存数据是不稳定的,而且低温会加速eMMC的PE磨损,所以在老化到一定PE后,eMMC本体相对比较弱的block的数据errorbit可能就会漂高，这个测试场景也会知道eMMC本体是否足够的强壮,还有eMMC本身的固件对此场景储存数据errorbit漂高是否起效,如果没有就需要调整固件的演算法保证储存的数据在这个场景下足够的安全。实施例三，本实施例为实施例一的另一种实施方案参照图3，一种验证eMMC数据稳定性和可靠性的测试方法，包括以下测试步骤：S1:取30PCS全新的eMMC上电启动，配置固件自身的参数；S2:温箱温度升到85℃；S3:对eMMC进行写操作；S4:温箱温度降低到-40℃；S5:读检验Pass；S6:EmmcPE>200；S7:扫描eMMC得到所有blo本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种验证eMMC数据稳定性和可靠性的测试方法，其特征在于，包括以下测试步骤：S1:取30PCS全新的eMMC上电启动，配置固件自身的参数；S2:温箱温度升到85℃；S3:对eMMC进行写读检验压力测试，S4:检验Pass；S5:Emmc PE > 200；S6:扫描eMMC得到所有block的ecc状况。

【技术特征摘要】
1.一种验证eMMC数据稳定性和可靠性的测试方法，其特征在于，包括以下测试步骤：S1:取30PCS全新的eMMC上电启动，配置固件自身的参数；S2:温箱温度升到85℃；S3:对eMMC进行写读检验压力测试，S4:检验Pass；S5:EmmcPE>200；S6:扫描eMMC得到所有block的ecc状况。2.根据权利要求1所述的一种验证eMMC数据稳定性和可靠性的测试方法，其特征在于，所述步骤S1中，30PCS全新的eMMC的型号规格均保持一致，并且采用统一编程设备和技术对固件自身的初始参数进行配置，确保30PCS全新的eMMC可以处于相同的初始状态。3.根据权利要求1所述的一种验证eMMC数据稳定性和可靠性的测试方法，其特征在于，所述步骤S2中，温箱采用密封干燥的方式进行恒温加热，确保30PCS全新的eMMC能够处于干燥恒温的85...

【专利技术属性】
技术研发人员：倪黄忠，
申请(专利权)人：深圳市时创意电子有限公司，
类型：发明
国别省市：广东,44