一种新型OTP MCU测试方法技术

本发明专利技术提供一种新型OTP MCU测试方法，包括：增加MCU配置区的容量，在配置区中设置一测试程序区，通过测试机，将测试程序烧入待测MCU配置区中的测试程序区；MCU上电时打入设定时序使得MCU进入测试模式，MCU从测试程序区载入测试程序开始运行，自动执行测试程序中的各测试项。本发明专利技术提出的测试方法增加配置区容量的成本忽略不计，不仅减少了测试成本、简化了测试机台的测试程序，经过这样测试的MCU芯片也极大的提高了后期上板使用的可靠性，减少了后期维护的成本。

A New OTP MCU Test Method

【技术实现步骤摘要】
一种新型OTPMCU测试方法
本专利技术涉及一种微处理器测试方法，尤其是一种新型OTPMCU测试方法。
技术介绍
如图1所示，传统的OTPMCU并不是通过烧录程序去完成CP测试(晶圆测试)，即使烧录后测试还需要紫外线去擦除OTPROM；常规测试是通过一定的时序打入端口，进入测试模式测试MCU芯片的功能。但是测试模式并不能完全测试到所有电路模块的工作状况，而且测试模式根据测试项要产生多个测试向量，测试时间也较长，测试成本增加并且测试覆盖率低。现有许多MCU的问题反馈，芯片焊接到PCB板上不工作，拆下来经过测试时序又可以测试通过，无法确定电路问题出在哪里，究其原因还是测试无法覆盖到芯片内部所有模块以及没有真正让MCU运行起来，不仅无法分析出具体问题，还大大增加拆芯片以及问题分析等各种人力成本。OTP(一次性可编程)。
技术实现思路
本专利技术的目的在于克服现有技术中存在的不足，提供一种新型OTPMCU测试方法，不仅减少了测试成本，还提高了MCU芯片后期上板使用的可靠性，减少了后期维护成本。本专利技术采用的技术方案是：一种新型OTPMCU测试方法，包括：增加MCU配置区的容量，在配置区中设置一测试程序区，通过测试机，将测试程序烧入待测MCU配置区中的测试程序区；MCU上电时打入设定时序使得MCU进入测试模式，MCU从测试程序区载入测试程序开始运行，自动执行测试程序中的各测试项。进一步地，在MCU上，取两个IO端口作为测试模式时序输入端口，在MCU上，取一个IO端口作为测试项触发端口；在MCU上，取一个IO端口作为测试结果输出端口；测试结果输出端口输出高电平时表示相应测试项通过，输出低电平时表示相应测试项失败；测试机分别连接MCU的测试模式时序输入端口、测试项触发端口、测试结果输出端口；MCU的测试过程如下：MCU上电时，测试机从MCU的测试模式时序输入端口打入设定时序使得MCU进入测试模式；MCU从测试程序区载入测试程序开始运行；测试机从MCU的测试项触发端口打入脉冲TEST，MCU接收到脉冲TEST按设定测试项进行切换，各测试项的测试结果通过MCU的测试结果输出端口输出。进一步地，MCU功能特性测试的测试项包括：PC程序计数器测试：测试程序读取PC值与固定值进行比对，一致则通过测试；IO端口拉电流测试：测试程序设置所有IO端口输出高电平，测试机给MCU的所有IO端口加VDD-0.5v电压，测试各IO端口电流，若电流值在测试范围内则通过测试；IO端口灌电流测试：测试程序设置所有IO端口输出低电平，测试机给MCU的所有IO端口加GND+0.5v电压，测试各IO端口电流，若电流值在测试范围内则通过测试；IO端口上拉电流测试：设置有上拉功能的IO端口打开上拉电阻，测试机给相应IO端口接GND，测试这些IO端口电流，电流值在测试范围内则通过测试；IO端口下拉电流测试：设置有下拉功能的IO端口打开下拉电阻，测试机给相应IO端口接VDD，测试这些IO端口电流，电流值在测试范围内则通过测试；TCC定时器测试：设置TCC定时器初始值，打开TCC定时器中断功能，若MCU进入TCC定时器中断，则通过测试；IO端口唤醒中断测试：设置IO端口中断唤醒功能，MCU执行睡眠指令，等待测试机给测试项触发端口一个脉冲；若MCU检测到测试项触发端口电平变化，唤醒并进入中断，则测试通过。进一步地，MCU功能特性测试的测试项还包括：WDT看门狗复位测试：使能看门狗使MCU复位，读取R3寄存器中复位标志，检测是否为WDT复位，若是则测试通过；LVR低压复位测试：降低VDD到固定点使MCU复位，读取R3寄存器中复位标志，检测是否为LVR复位，若是则测试通过。本专利技术的优点在于：本专利技术提出的测试方法增加配置区容量的成本忽略不计，不仅减少了测试成本、简化了测试机台的测试程序，经过这样测试的MCU芯片也极大的提高了后期上板使用的可靠性，减少了后期维护的成本。附图说明图1为本专利技术的传统测试方法示意图。图2为本专利技术的测试方法示意图。图3为本专利技术的测试方法接线图。具体实施方式下面结合具体附图和实施例对本专利技术作进一步说明。如图2所示，一般MCU的OTPROM分为程序区和配置区；程序区为用户烧写用户程序的存储区域，配置区为用户选择一些配置选项的配置字存储区域；本专利技术提出的一种新型OTPMCU测试方法，包括：增加MCU配置区的容量，在配置区中设置一测试程序区，通过测试机，将测试程序烧入待测MCU配置区中的测试程序区；测试机是一台测试设备；简单的MCU增加256个字节足够写一个完整的测试程序；MCU上电时打入设定时序使得MCU进入测试模式，MCU从测试程序区载入测试程序开始运行，自动执行测试程序中的各测试项。传统的MCU上电时，会自动载入程序区的用户程序，而本专利技术中通过在MCU上电时打入设定时序，使得MCU进入测试模式，从测试程序区载入测试程序，而非从程序区载入用户程序；如图3所示，某一型号的MCU包括多个IO端口，例如P00、P01、P02、P03、P10、P11、P12、P13……；在MCU上，取两个IO端口作为测试模式时序输入端口，例如P00、P01端口；该两个IO端口中的一个用于接测试机的SCK串行时钟，另一个用于接测试机的SDA串行数据；在MCU上，取一个IO端口作为测试项触发端口，例如P11端口；在MCU上，取一个IO端口作为测试结果输出端口，例如P12端口；测试结果输出端口输出高电平，表示相应的测试项通过，输出低电平则相应的测试项未通过；测试机分别连接MCU的测试模式时序输入端口、测试项触发端口、测试结果输出端口；MCU的测试过程如下：MCU上电时，测试机从MCU的测试模式时序输入端口P00、P01打入设定时序使得MCU进入测试模式；MCU从测试程序区载入测试程序开始运行；测试机从MCU的测试项触发端口P11打入脉冲TEST，MCU接收到脉冲TEST按设定测试项进行切换，各测试项的测试结果通过MCU的测试结果输出端口P12输出；测试结果输出端口P12输出高电平时表示相应测试项通过，输出低电平时表示相应测试项失败；以完成MCU的功能特性测试；MCU的供电电压为VDD；各测试项如下：PC程序计数器测试：测试程序读取PC值与固定值进行比对，一致则通过测试；测试结果：本测试项通过则P12端口输出高电平，P11端口等待测试机脉冲TEST；IO端口拉电流测试：测试程序设置所有IO端口输出高电平，测试机给MCU的所有IO端口加VDD-0.5v电压，测试各IO端口电流，若电流值在测试范围内则通过测试；测试结果：本测试项通过则P12端口输出高电平，P11端口等待测试机脉冲TEST；IO端口灌电流测试：测试程序设置所有IO端口输出低电平，测试机给MCU的所有IO端口加GND+0.5v电压，测试各IO端口电流，若电流值在测试范围内则通过测试；测试结果：本测试项通过则P12端口输出高电平，P11端口等待测试机脉冲TEST；IO端口上拉电流测试：设置有上拉功能的IO端口打开上拉电阻，测试机给相应IO端口接GND，测试这些IO端口电流，电流值在测试范围内则通过测试；测试结果：本测试项通过则P12端口输出高电平，P11端口等待测试机脉冲TEST；IO端口下拉电流测试：设置有下拉功能的IO本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种新型OTP MCU测试方法，其特征在于，包括：增加MCU配置区的容量，在配置区中设置一测试程序区，通过测试机，将测试程序烧入待测MCU配置区中的测试程序区；MCU上电时打入设定时序使得MCU进入测试模式，MCU从测试程序区载入测试程序开始运行，自动执行测试程序中的各测试项。

【技术特征摘要】
1.一种新型OTPMCU测试方法，其特征在于，包括：增加MCU配置区的容量，在配置区中设置一测试程序区，通过测试机，将测试程序烧入待测MCU配置区中的测试程序区；MCU上电时打入设定时序使得MCU进入测试模式，MCU从测试程序区载入测试程序开始运行，自动执行测试程序中的各测试项。2.如权利要求1所述的新型OTPMCU测试方法，其特征在于，在MCU上，取两个IO端口作为测试模式时序输入端口，在MCU上，取一个IO端口作为测试项触发端口；在MCU上，取一个IO端口作为测试结果输出端口；测试结果输出端口输出高电平时表示相应测试项通过，输出低电平时表示相应测试项失败；测试机分别连接MCU的测试模式时序输入端口、测试项触发端口、测试结果输出端口；MCU的测试过程如下：MCU上电时，测试机从MCU的测试模式时序输入端口打入设定时序使得MCU进入测试模式；MCU从测试程序区载入测试程序开始运行；测试机从MCU的测试项触发端口打入脉冲TEST，MCU接收到脉冲TEST按设定测试项进行切换，各测试项的测试结果通过MCU的测试结果输出端口输出。3.如权利要求2所述的新型OTPMCU测试方法，其特征在于，MCU功能特性测试的测试项包括：PC程序计数器测试：测试程序读取PC值与固定值进行比对，一致则通过测试；IO端口拉电流测试：测试程序设置所有IO端口输出高...

【专利技术属性】
技术研发人员：方马龙，
申请(专利权)人：无锡矽杰微电子有限公司，
类型：发明
国别省市：江苏,32