【技术实现步骤摘要】
一种探伤观片灯
本技术涉及一种工业探伤设备,具体是一种探伤观片灯。
技术介绍
工业射线探伤是利用X射线或γ射线在穿透被检物各部分时强度衰减的不同,检测被检物中缺陷的一种无损检测方法,能较直观地显示工件内部缺陷的大小和形状,因而易于判定缺陷的性质,射线底片可作为检验的原始记录供多方研究并作长期保存。探伤的原理简单来说是利用被测物体各部分的厚度或密度因缺陷的存在而有所不同。目前探伤灯在探查气孔、夹渣、缩孔、疏松等体积性缺陷领域发挥着重要的作用,但是目前现有的探伤灯标尺不能上下移动,有些还要手持放大镜和评片尺来观察工业胶片,操作起来十分不便。
技术实现思路
基于上述
技术介绍
中所提到的现有技术中的不足之处,为此本技术提供了一种探伤观片灯。本技术通过采用如下技术方案克服以上技术问题,具体为:一种探伤观片灯,包括设备外壳,所述设备外壳前部上方固定连接有滑轨,滑轨上滑动连接有卡块,卡块下部固定框体,框体内滑动连接有标尺,且框体侧壁通过转轴转动连接有放大镜;所述设备外壳内安装有光源,设备外壳表面位于光源前方处固定有LED观察屏。作为本技术进一步的方案:所述设备外壳后部转动连接有U型支撑架 ...
【技术保护点】
1.一种探伤观片灯,包括设备外壳,其特征在于,所述设备外壳前部上方固定连接有滑轨(4),滑轨(4)上滑动连接有卡块,卡块下部固定框体,框体内滑动连接有标尺(2),且框体侧壁通过转轴(3)转动连接有放大镜(1);所述设备外壳内安装有光源,设备外壳表面位于光源前方处固定有LED观察屏(5)。
【技术特征摘要】
1.一种探伤观片灯,包括设备外壳,其特征在于,所述设备外壳前部上方固定连接有滑轨(4),滑轨(4)上滑动连接有卡块,卡块下部固定框体,框体内滑动连接有标尺(2),且框体侧壁通过转轴(3)转动连接有放大镜(1);所述设备外壳内安装有光源,设备外壳表面位于光源前方处固定有LED观察屏(5)。2.根据权利要求1所述的一种探伤观片灯,其特征在于,所述设备外壳后部转动连接有U型支撑架(6),设备外壳一侧转动连接有用于调节L...
【专利技术属性】
技术研发人员:陈亚利,孙朝晖,周彦秋,殷金泉,刘云峰,韩忠美,
申请(专利权)人:济宁鲁科检测器材有限公司,
类型:新型
国别省市:山东,37
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