光学式分选机的刮拭机构制造技术

技术编号:21804538 阅读:32 留言:0更新日期:2019-08-07 11:56
本发明专利技术提供刮拭器的往复驱动机构不会因粉尘等受到污损并能够清扫光学部的透明板的光学式分选机的刮拭机构。上述光学式分选机的上述光学部的上述刮拭机构具有供被分选物落下的落下空间和用于配设检测上述被分选物的光学检测单元的密闭空间。在上述光学式分选机的光学部的上述两空间的隔壁具有能够使上述光学检测单元进行上述被分选物的检测的透明板。在上述光学部的上述落下空间配设有与上述透明板抵接来清扫该透明板的刮拭器,并在上述密闭空间配设有使上述刮拭器沿上述透明板滑动的往复驱动机构。上述刮拭器与上述往复驱动机构的可动部经由上述两空间的隔壁并通过磁力而能够一体移动地连结。

Scraping mechanism of optical sorter

【技术实现步骤摘要】
【国外来华专利技术】光学式分选机的刮拭机构
本专利技术涉及基于色彩等来分选谷物类、树脂颗粒等粒状物或者海苔等片状物的光学式分选机,尤其涉及光学式分选机中的用于清扫光学部的透明板的刮拭机构。
技术介绍
现今,公知有以下光学式分选机:基于色彩等将米、麦类、豆类、坚果类等谷物类、颗粒、滚珠等树脂片、医药品、矿石类、白砂等微小的物品、由其它粒状物、片状物等构成的原料分选为合格品和不合格品,或者排除混入原料中的异物等。上述光学式分选机在光学部中由光学检测装置检测从滑槽的下端等落下的粒状物等,基于该检测信号进行优劣判定,并基于该优劣判定结果从落下轨迹排除并进行分选,从而按照优劣进行排出。然而,在上述光学式分选机中,在上述光学部设有密闭空间,在上述密闭空间内配设有构成上述光学检测装置的光源、背景以及受光传感器,并且在上述密闭空间的检测上述粒状物等一侧的隔壁装配有玻璃等透明板。由此,上述光学式分选机能够防止上述光学检测装置因伴随上述粒状物等的落下而飞散的粉尘等受到污损,并且能够由上述光学检测装置进行上述粒状物的检测。然而,在上述光学式分选机中,由于在上述光学部中在上述透明板的上述粒状物等落下的空间侧的一面附着上述粉尘等,所以有分选精度降低的问题。因此,提出了一种利用刮拭器清扫上述透明板的上述粒状物等落下的空间侧的一面进行的刮拭机构(参照专利文献1~3。)。在专利文献1所记载的刮拭机构中,在粒状物等落下的空间配设有螺杆轴,利用上述螺杆轴的动作来往复驱动刮拭器。并且,在专利文献2所记载的刮拭机构中,在粒状物等落下的空间配设有环状线,利用上述环状线的动作来往复驱动刮拭器。另外,在专利文献3所记载的刮拭机构中,在粒状物等落下的空间配设有无杆缸筒,利用上述无杆缸筒的动作来往复驱动刮拭器。根据上述专利文献1~3所记载的刮拭机构,在上述光学部中,能够利用刮拭器清扫上述透明板的上述粒状物等落下的空间侧的一面,因而能够防止光学式分选机的分选精度的降低。然而,上述专利文献1~3所记载的刮拭机构均在粒状物等落下的空间配设有刮拭器的往复驱动机构,有上述往复驱动机构因上述粉尘等受到污损的问题。现有技术文献专利文献专利文献1:日本实愿昭55-33089号(日本实开昭56-137782号)的微胶片专利文献2:日本特开昭58-17341号公报专利文献3:日本特开平2-21980号公报
技术实现思路
专利技术所要解决的课题因此,本专利技术的目的在于提供一种光学式分选机的光学部的刮拭机构,清扫光学部的透明板的刮拭器的往复驱动机构不会因粉尘等受到污损。用于解决课题的方案为了实现上述目的,就本专利技术的实施方式的光学式分选机的光学部的刮拭机构而言,该光学式分选机的上述光学部具有被分选物落下的落下空间和配设检测上述被分选物的光学检测单元的密闭空间,并在上述两空间的隔壁具有能够使上述光学检测单元进行上述被分选物的检测的透明板,上述光学式分选机的光学部的刮拭机构的特征在于,在上述光学部的上述落下空间配设与上述透明板抵接来清扫该透明板的刮拭器,在上述密闭空间配设使上述刮拭器沿上述透明板滑动的往复驱动机构,上述刮拭器与上述往复驱动机构的可动部经由上述两空间的隔壁并通过磁力而能够一体移动地连结。在本专利技术的实施方式的光学式分选机的光学部的刮拭机构中,在光学部的落下空间配设与透明板抵接来清扫上述透明板的刮拭器,在密闭空间配设有使上述刮拭器沿上述透明板滑动的往复驱动机构,上述刮拭器与上述往复驱动机构的可动部经由上述两空间的隔壁并通过磁力而能够一体移动地连结,因而刮拭器的往复驱动机构不会因粉尘等受到污损。本专利技术的实施方式的光学式分选机的光学部的刮拭机构优选为,在上述刮拭器以及上述往复驱动机构的可动部分别安装磁体,上述两磁体经由上述透明板进行吸附,从而上述刮拭器与上述往复驱动机构的可动部能够一体移动地连结。在本专利技术的实施方式的光学式分选机的光学部的刮拭机构中,在往复移动中的上述刮拭器被人手、障碍物等遮挡并受到假定外的力的情况下,上述刮拭器以及上述驱动机构的可动部所具备的磁体分离,仅上述驱动机构的可动部移动,从而能够防止因上述刮拭器使人受伤、或者上述障碍物以及上述刮拭器破损的情况。并且,在遮挡上述刮拭器的移动的部件消失的状态下,使上述驱动机构的可动部再次往复移动,来使安装于上述刮拭器的磁体与安装于上述驱动机构的可动部的磁体进行吸附,能够自修复上述刮拭器的分离。本专利技术的实施方式的光学式分选机的光学部的刮拭机构优选为,在上述刮拭器的上部设有截面呈C形的卡合部,在上述落下空间配设对上述刮拭器进行往复移动引导的导向轴,上述刮拭器的上述卡合部能够拆装地与上述导向轴卡合。在本专利技术的实施方式的光学式分选机的光学部的刮拭机构中,若在上述刮拭器的上部设有截面呈C形的卡合部,在上述落下空间配设对上述刮拭器进行往复移动引导的导向轴,并且上述刮拭器的上述卡合部能够拆装地与上述导向轴卡合,则刮拭器的更换作业变得容易。本专利技术的实施方式的光学式分选机的光学部的刮拭机构优选为,在上述刮拭器的上述卡合部前端设有与上述隔壁抵接的抵接部。在本专利技术的实施方式的光学式分选机的光学部的刮拭机构中,若在上述刮拭器的上述卡合部前端设有与上述隔壁抵接的抵接部,则即使在倾斜配置了该光学部的情况下,上述刮拭器也因上述抵接部抵接于上述隔壁而不会以上述导向轴为轴转动,能够维持上述刮拭器抵接于上述透明板的状态。并且,即使在对上述刮拭器作用了从上述透明板分离的力的情况下,由于上述刮拭器与上述往复驱动机构的可动部经由上述两空间的隔壁并通过磁力而能够一体移动地连结,所以也能够防止上述刮拭器从上述透明板分离。本专利技术的实施方式的光学式分选机的光学部的刮拭机构优选为,上述往复驱动机构具备导螺杆,在上述落下空间的侧部配设有反射板和与该反射板抵接的第二刮拭器,经由动力传递机构将上述导螺杆的旋转传递至上述第二刮拭器的摆动轴,从而能够一体驱动上述刮拭器和上述第二刮拭器。在本专利技术的实施方式的光学式分选机的光学部的刮拭机构中,如果采用如下的构成:上述往复驱动机构具备导螺杆,在上述落下空间的侧部配设有反射板和与该反射板抵接的第二刮拭器,经由动力传递机构将上述导螺杆的旋转传递至上述第二刮拭器的摆动轴,能够一体驱动上述刮拭器和上述第二刮拭器,则不设置新的驱动源就能够清扫反射板。并且,在本专利技术的实施方式的光学式分选机的光学部的刮拭机构中,若上述光学部具备从上方及下方朝向在检测位置流动的被分选物照射光的光源背景模块,则由上述第二刮拭器清扫上述反射板的上侧和下侧,能够维持上述反射板的效果。专利技术的效果如下。根据本专利技术,能够提供一种光学式分选机的光学部的刮拭机构,清扫光学部的透明板的刮拭器的往复驱动机构不会因粉尘等受到污损。附图说明图1是光学式分选机的立体图。图2是光学单元的立体图。图3是光学单元的俯视图。图4是光学单元的剖视立体图,且是落下空间内的说明图。图5是图3的B-B剖视图。图6是刮拭机构的立体图。图7是导螺杆的说明图。图8是刮拭器安装的状况的说明图。图9是刮拭机构的右视图。图10是侧刮拭器模块的俯视图。图11是侧刮拭器模块的内部构造图。具体实施方式参照附图对本专利技术的实施方式进行说明。<光学式分选机>图1示出光学式分选机的一例的立体图。上述光学式分选机1具备供给粒状物的粒状物供给部2、分选粒状物本文档来自技高网
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【技术保护点】
1.一种光学式分选机的光学部的刮拭机构,该光学式分选机的上述光学部具有被分选物落下的落下空间和配设检测上述被分选物的光学检测单元的密闭空间,并在上述两空间的隔壁具有能够使上述光学检测单元进行上述被分选物的检测的透明板,上述光学式分选机的光学部的刮拭机构的特征在于,在上述光学部的上述落下空间配设与上述透明板抵接来清扫该透明板的刮拭器,在上述密闭空间配设有使上述刮拭器沿上述透明板滑动的往复驱动机构,上述刮拭器与上述往复驱动机构的可动部经由上述两空间的隔壁并通过磁力而能够一体移动地连结。

【技术特征摘要】
【国外来华专利技术】2016.12.27 JP 2016-2537121.一种光学式分选机的光学部的刮拭机构,该光学式分选机的上述光学部具有被分选物落下的落下空间和配设检测上述被分选物的光学检测单元的密闭空间,并在上述两空间的隔壁具有能够使上述光学检测单元进行上述被分选物的检测的透明板,上述光学式分选机的光学部的刮拭机构的特征在于,在上述光学部的上述落下空间配设与上述透明板抵接来清扫该透明板的刮拭器,在上述密闭空间配设有使上述刮拭器沿上述透明板滑动的往复驱动机构,上述刮拭器与上述往复驱动机构的可动部经由上述两空间的隔壁并通过磁力而能够一体移动地连结。2.根据权利要求1所述的光学式分选机的光学部的刮拭机构,其特征在于,在上述刮拭器以及上述往复驱动机构的可动部分别安装磁体,上述...

【专利技术属性】
技术研发人员:河村阳一
申请(专利权)人:株式会社佐竹
类型:发明
国别省市:日本,JP

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