一种基于灰色系统理论LED芯片热振加速寿命预测方法技术方案

本发明专利技术公开了一种基于灰色系统理论LED芯片热振加速寿命预测方法，首先通过对LED芯片施加不同加载模式下的加速应力，采集不同加速应力下的寿命实验原始数据，然后运用灰色系统理论对实验原始数据进行灰处理，获得灰色分析数据，并构建灰色系统理论预测模型，最后对所建灰色系统理论模型进行灰色关联度分析。与现有技术相比，灰色系统预测模型不用考虑温振相互作用关系及物理失效规律相关的统计模型，可获得高效、准确的预测与评估。本发明专利技术能够通过加速应力下的原始寿命数据，通过灰色系统理论的数列预测，来预估正常工作时热和振动双应力下LED芯片的寿命，预测结果更接近工程实际，可为设计和生产高性能、高稳定性LED芯片提供科学数据理论参考依据。

A Prediction Method of Thermal Vibration Accelerated Life of LED Chips Based on Grey System Theory

【技术实现步骤摘要】
一种基于灰色系统理论LED芯片热振加速寿命预测方法
本专利技术涉及半导体照明
，尤其涉及一种基于灰色系统理论LED芯片热振加速寿命预测方法。
技术介绍
LED是现代专利技术并集环保、使用时间长、光效高等众多优点于一身的第四代照明技术，已经应用于生活、生产的各个方面，LED产品的工作环境十分复杂，涉及到热、振动、湿气、挥发性化学物质、盐雾等，前人大多研究的是热、电流、电压、湿度对LED可靠性的影响，鲜有人研究振动对LED芯片可靠性的影响，对于电子元器件，环境因素对可靠性影响的比重，热比重占将近50％，振动占25％，因此寻找一种小数据、高效、准确的LED芯片热振加速寿命预测与评估方法很有必要。加速寿命试验是使用与可靠性(或寿命)有关的模型，通过比正常使用时所预期的更高的应力条件下的试验来度量可靠性，以确定寿命多长。加速寿命试验采用加速应力进行试件的寿命试验，从而缩短了试验时间、提高了试验效率、降低试验成本，其研究使高可靠、长寿命产品的可靠性评定成为可能。按照试验应力的加载方式，加速寿命试验通常分为恒定应力试验、步进应力试验和序进应力试验，其中恒定应力试验是以恒定的加速应力对样品进行本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种基于灰色系统理论LED芯片热振加速寿命预测方法，其特征在于，包括以下步骤：步骤(1)，通过对LED芯片施加不同加载模式下的加速应力，采集不同加速应力下的寿命实验原始数据；步骤(2)，运用灰色系统理论对实验原始数据进行灰处理，获得灰色系统理论分析数据，并构建灰色系统理论预测模型；步骤(3)，对构建好的灰色系统理论预测模型进行灰色关联度分析。

【技术特征摘要】
1.一种基于灰色系统理论LED芯片热振加速寿命预测方法，其特征在于，包括以下步骤：步骤(1)，通过对LED芯片施加不同加载模式下的加速应力，采集不同加速应力下的寿命实验原始数据；步骤(2)，运用灰色系统理论对实验原始数据进行灰处理，获得灰色系统理论分析数据，并构建灰色系统理论预测模型；步骤(3)，对构建好的灰色系统理论预测模型进行灰色关联度分析。2.根据权利要求1所述的基于灰色系统理论LED芯片热振加速寿命预测方法，其特征在于，所述不同加载模式包括振动加载、温度加载、振动和温度共同加载。3.根据权利要求2所述的基于灰色系统理论...

【专利技术属性】
技术研发人员：杨平，普晶晶，李东波，杨兵，
申请(专利权)人：江苏大学，
类型：发明
国别省市：江苏,32