测量样品荧光特性的分光光度计及方法技术

本发明专利技术涉及一种测量样品荧光特性的分光光度计及方法，其特征是，包括：光源，用于发出所需之光谱；第一样品室，所述第一样品室用于放置待测样品，以所述光源发出的未经选择的光全部入射到第一样品室；单色器，单色器将光源的复合光或透过第一样品室的复合光分解为单色光并能够随意改变波长；第二样品室，用于放置待测样品，以所述单色器选择的全部波长的光入射至第二样品室；检测器，用于将透过待测样品的光信号转化为电信号，并将电信号放大；以及，显示与存储系统，用于将检测器放大的电信号通过仪表显示出来，并存储光信号。本发明专利技术解决荧光对透射光谱测量产生干扰的问题，同时得到待测样品的透射光谱和荧光光谱，并提高定量精确度。

Spectrophotometer and Method for Measuring Fluorescence Characteristics of Samples

【技术实现步骤摘要】
测量样品荧光特性的分光光度计及方法
本专利技术涉及一种分光光度计，尤其是一种测量样品荧光特性的分光光度计及方法。
技术介绍
分光光度计是利用分光光度法，通过测定被测样品在特定波长处或一定波长范围内光的吸收度或者反射度，对样品进行定性和定量分析。参照图1，分光光度计主要由光源、单色器、样品室、检测器和显示与存储系统组成。目前分光光度计普遍采用双光路光度法的测量构架，如图2所示，主要包括光源1，单色器2，光阑3，偏振片4，分束器5，衰减片6，聚焦透镜7，参考光探测器8，样品架9，样品10，聚焦透镜11，测试光探测器12。复色光源1出射的复色光经过单色器2后形成测量所需要的单色光，单色光经过光阑3和偏振片4后形成测量所需的线偏振光，线偏振光经过分束器5后形成一束测量光和一束参考光，参考光经过衰减片6和聚焦透镜7后被参考光探测器8收集，测试光经过样品10和聚焦透镜11后被测试光探测器所接收。现有分光光度计，样品透射率的测试方法和原理如下：首先在测量光束和参考光束中均不放置样品室，用参考光探测器和测试光探测器同时采集参考光束和测试光束的光强，分别记为I1和I2，然后把待测样品放置在测试光路中，本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种测量样品荧光特性的分光光度计，其特征是，包括：光源(20)，用于发出所需之光谱；第一样品室(21)，所述第一样品室(21)用于放置待测样品，以所述光源(20)发出的未经选择的光全部入射到第一样品室(21)；单色器(22)，单色器(22)将光源(20)的复合光或透过第一样品室(21)的复合光分解为单色光并能够随意改变波长；第二样品室(23)，用于放置待测样品，以所述单色器(22)选择的全部波长的光入射至第二样品室(23)；检测器(24)，用于将透过待测样品的光信号转化为电信号，并将电信号放大；以及，显示与存储系统(25)，用于将检测器(24)放大的电信号通过仪表显示出来，并存储光信号；所...

【技术特征摘要】
1.一种测量样品荧光特性的分光光度计，其特征是，包括：光源(20)，用于发出所需之光谱；第一样品室(21)，所述第一样品室(21)用于放置待测样品，以所述光源(20)发出的未经选择的光全部入射到第一样品室(21)；单色器(22)，单色器(22)将光源(20)的复合光或透过第一样品室(21)的复合光分解为单色光并能够随意改变波长；第二样品室(23)，用于放置待测样品，以所述单色器(22)选择的全部波长的光入射至第二样品室(23)；检测器(24)，用于将透过待测样品的光信号转化为电信号，并将电信号放大；以及，显示与存储系统(25)，用于将检测器(24)放大的电信号通过仪表显示出来，并存储光信号；所述光源(20)、第一样品室(21)、单色器(22)、第二样品室(23)、检测器(24)和显示与存储系统(25)依光路顺次连接。2.如权利要求1所述的测量样品荧光特性的分光光度计，其特征是：所述光源(20)为钨灯或氘灯。3.如权利要求1所述的测量样品荧光特性的分光光度计，其特征是：所述单色器(22)为棱镜或光栅。4.如权利要求1所述的测量样品荧光特性的分光光度计，其特征是：所述检测器(24)为光电管或光电倍增管。5.一种...

【专利技术属性】
技术研发人员：鲍亚盟，
申请(专利权)人：无锡奥芬光电科技有限公司，
类型：发明
国别省市：江苏,32