一种纳米颗粒物化学组分检测系统及检测方法技术方案

本发明专利技术涉及一种纳米颗粒物化学组分检测系统及检测方法，属于环境监测技术领域，解决了现有技术中粒径筛分和纳米颗粒物富集采用分离系统、现有测量系统无法准确获得粒径小于50nm的颗粒物化学组成的问题。检测系统包括依次连接的荷电装置、粒径筛选‑富集单元和检测装置，粒径筛选‑富集单元包括采样杆、富集部、金属壳和收集腔，金属壳置于收集腔内，采样杆的一端置于收集腔外，另一端与富集部连接，且置于金属壳内，金属壳和富集部均与颗粒物带相反电荷。检测方法如下：通入颗粒物、鞘气、保护气→调节电压→切换至加热模式，采样杆推至靠近检测装置→进入检测装置检测。本发明专利技术实现了单一设备同时实现对特定粒径的纳米颗粒物进行筛选和收集。

A Detection System and Method for Chemical Components of Nanometer Particles

【技术实现步骤摘要】
一种纳米颗粒物化学组分检测系统及检测方法
本专利技术涉及环境监测
，尤其涉及一种纳米颗粒物化学组分检测系统及检测方法。
技术介绍
目前我国大气颗粒物污染日益严重,其引起的区域性雾霾污染已经受到各界广泛关注。大气颗粒物对人体健康、大气能见度、区域性大气污染、全球气候变化都有重要影响，颗粒物的组成成分决定其环境效应的重要因素。现有测量系统对颗粒物的粒径筛分和富集分别采用不同的装置，造成该测量系统的设备多，操作和控制复杂。同时针对现有技术主要针对颗粒物的有机化学成分测量，无法准确获得颗粒物中无机成分的化学组成。另外，现有测量系统通常针对粒径大于100nm的颗粒物进行测量，无法准确获得粒径小于50nm的颗粒物化学组成。
技术实现思路
鉴于上述的分析，本专利技术旨在提供一种纳米颗粒物化学组分检测系统及检测方法，至少能够解决以下技术问题之一：(1)纳米颗粒物粒径筛分和富集采用不同的系统，装置多，结构复杂；(2)无法准确获得颗粒物中无机成分的化学组成；(3)现有测量系统通常针对粒径大于100nm的颗粒物进行测量，无法准确获得粒径小于50nm的颗粒物化学组成。本专利技术的目的主要是通过以下技术方案本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种纳米颗粒物化学组分检测系统，其特征在于，包括依次连接的荷电装置、粒径筛选‑富集单元和检测装置；所述荷电装置用于使纳米颗粒物带电；所述粒径筛选‑富集单元包括采样杆、富集部、金属壳和收集腔，所述金属壳置于所述收集腔内，所述采样杆的一端置于所述收集腔外，另一端与所述富集部连接，且置于所述金属壳内，所述金属壳和所述富集部均与纳米颗粒物带相反电荷；所述收集腔的壁上设有供纳米颗粒物通过的第一入口和供气体通过的第二入口，所述金属壳的壁上设有第三入口，纳米颗粒物穿过所述第三入口在富集部上富集。

【技术特征摘要】
1.一种纳米颗粒物化学组分检测系统，其特征在于，包括依次连接的荷电装置、粒径筛选-富集单元和检测装置；所述荷电装置用于使纳米颗粒物带电；所述粒径筛选-富集单元包括采样杆、富集部、金属壳和收集腔，所述金属壳置于所述收集腔内，所述采样杆的一端置于所述收集腔外，另一端与所述富集部连接，且置于所述金属壳内，所述金属壳和所述富集部均与纳米颗粒物带相反电荷；所述收集腔的壁上设有供纳米颗粒物通过的第一入口和供气体通过的第二入口，所述金属壳的壁上设有第三入口，纳米颗粒物穿过所述第三入口在富集部上富集。2.根据权利要求1所述的纳米颗粒物化学组分检测系统，其特征在于，还包括用于隔离金属壳所带高电压的第一隔离器和第二隔离器，所述第一隔离器用于隔离所述金属壳和所述检测装置，所述第二隔离器用于隔离所述金属壳和所述收集腔。3.根据权利要求1所述的纳米颗粒物化学组分检测系统，其特征在于，还包括用于产生纳米颗粒物的颗粒物发生器和阀体，所述阀体设于所述颗粒物发生器和所述荷电装置之间，用于实现大气中的纳米颗粒物和颗粒物发生器产生的纳米颗粒物之间的通路切换。4.根据权利要求1-3任一项所述的纳米颗粒物化学组分检测系统，其特征在于，所述金属壳远离所述检测装置的端部设有供保护气通过的第四入口，所述保护气用于吹开纳米颗粒物之外的气体。5.根据权利要求4所...

【专利技术属性】
技术研发人员：王炜罡，刘明元，葛茂发，彭超，
申请(专利权)人：中国科学院化学研究所，
类型：发明
国别省市：北京,11