【技术实现步骤摘要】
一种快速测调抛物柱面天线的方法
本专利技术是关于抛物柱面天线形面快速测调的方法,能够广泛适用于抛物柱面天线形面精度的测量及调整,特别是吊挂展开状态的抛物柱面天线。
技术介绍
天线形面精度是重要的指标参数,决定了其在轨的性能,目前,摄影测量系统是主要对天线形面精度测量的方法,该方法测量时只需要手持相机距离被测物体一定距离从多个位置和角度拍摄一定数量的数字相片,然后由计算机软件自动处理得到特征标志点的坐标,从而拟合出天线的形面精度。但是摄影测量系统在测量吊挂展开状态的抛物柱面天线形面时,由于天线的吊高较低、天线支撑桁架上用于粘贴拼接相片的转站编码点的位置分得较散,而相机的视场角小,一张相片中能够拍摄出的测点和转站编码点较少,测量人员需要保持较远的距离才能在一张相片中拍摄到足够数量用于拼接相片的转站编码点,而为了测量整张天线形面,需要拍摄大量的相片。抛物柱面天线调整形面的节点多,为了使形面精度符合设计要求,需要对某些节点反复的调整,使用摄影测量系统无法实时指导工人调整天线形面,因此该方法对吊挂展开状态的柱面天线形面测量和调整需要花费大量的人力、物力成本,效率较低。主要内容本专利技术克服了上述技术存在的不足,提供了一种快速测调抛物柱面天线形面的方法。为了克服现有测量方法在吊高较低时测量效率低和无法实时指导工人调整天线型面的问题,本专利技术提出一种利用水准仪对天线形面进行快速测量和调整的方法。本专利技术的技术方案主要有以下步骤:1)根据抛物柱面天线的理论形面计算出各节点在水平面的高度差值。2)在桁架的一侧悬挂直尺作为高度基准。3)在天线正面利用高度调节三脚架架设水准 ...
【技术保护点】
1.一种快速测调抛物柱面天线的方法,其特征是,包括以下步骤:1)根据抛物柱面天线的理论形面计算出各节点在水平面的高度差值;2)在桁架的一侧悬挂直尺作为高度基准;3)在天线正面利用高度调节三脚架架设水准仪测量各节点的高度,调整各节点的高度直至各节点的高度差值与理论值相符;4)在天线侧面利用高度调节三脚架架设水准仪测量各节点的高度,将天线侧面各节点调整至与正面节点等高的位置。
【技术特征摘要】
1.一种快速测调抛物柱面天线的方法,其特征是,包括以下步骤:1)根据抛物柱面天线的理论形面计算出各节点在水平面的高度差值;2)在桁架的一侧悬挂直尺作为高度基准;3)在天线正面利用高度调节三脚架架设水准仪测量各节点的高度,调整各节点的高度直至各节点的高度差值与理论值相符;4)在天线侧面利用高度调节三脚架架设水准仪测量各节点的高度,将天线侧面各节点调整至与正面节点等高的位置。2.根据权利要求1所述的一种快速测调抛物柱面天线的方法,其特征是,所述直尺的长度大于抛物柱面天线底部和顶部节点的高度差值。3.根据权利要求1所述的一种快速测调抛物柱面天线的方法,其特征是,所述高度调节三角架的调节范围大于抛物柱面天线底部和顶部节点的高度差值。4.根据权利要求1所述的一种快速测调抛物柱面天线的方法,其特征是,节点A7和节点C9在水平面的理论高度差值为H1,所述步骤3)在天线正面调...
【专利技术属性】
技术研发人员:钟鸣,王晓凯,杜江华,王中王,周鑫,
申请(专利权)人:上海宇航系统工程研究所,
类型:发明
国别省市:上海,31
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