一种光缆质量检测数据的展示方法技术

本发明专利技术公开了一种光缆质量检测数据的方法，按如下步骤进行：S1、仪器仪表采集数据并传送至数据处理器。S2、数据处理器对数据进行处理。S3、数据处理器对处理后的数据进行展示，光缆中的每根纤芯沿X轴横向排布，Y轴的数字表示此条光缆中的纤芯序号，X轴的数字表示光缆纤芯长度；通过颜色区别标注纤芯为在用纤芯、优质纤芯，合格纤芯，可用纤芯、不可用纤芯或断纤；通过纤芯上的节点形状区别标注衰耗点为合格衰耗点、小衰耗点、中衰耗点和大衰耗点，而衰耗点的位置为所述事件点位置对应的X轴位置。本发明专利技术制定了光缆有效的质量管控手段和评估体系，并将数据通过图例展示出来，让使用方对整根光缆的所有纤芯质量情况一目了然，直观、简洁。

A Display Method of Fiber Optic Cable Quality Detection Data

【技术实现步骤摘要】
一种光缆质量检测数据的展示方法
本专利技术涉及一种光缆质量检测数据的展示方法，属于通信领域。
技术介绍
通信光缆在各个基础网络业务建设和业务运行维护过程中应用范围很广泛，其质量将直接影响通信网络的安全性和可靠性。针对通信光缆产品质量良莠不齐、网络建设和维护质量得不到有效保证的状况，以及随着光缆使用时长不断累计光缆质量也会发生变化等等一系列因素，提升通信光缆质量管控和测试是一件迫在必行的工作。通常采用仪器仪表对光缆内纤芯的各种指标进行采集，可是采集到的指标传输是很多离散的数据，很难对光缆的质量作出直观的展示和评价，使用者拿到指标数据后，也很难判定光缆是否有问题，更无法知道问题出在哪里，这个给使用者带来了很大的困扰。
技术实现思路
为了实现上述目标，本专利技术采用如下的技术方案：一种光缆质量检测数据的方法，按如下步骤进行：S1、仪器仪表与光缆内的纤芯连接，采集光缆总芯数、在用纤芯数和端口损坏纤芯数，并测试空闲纤芯的数据，同时，将采集的数据传送至数据处理器；测试空闲纤芯的数据包括：链长、平均衰减系数、事件点数量、事件点位置、事件点插入损耗；S2、数据处理器对接收的数据进行处理：（1）根据所述平均衰减系统判断单根纤芯质量，统计优质纤芯数，合格纤芯数，可用纤芯数和不可用纤芯数；根据所述链长和是否为端口损坏纤芯，统计断纤数；（2）根据所述事件点插入损耗的范围，判断单根光纤的合格衰耗点、小衰耗点、中衰耗点和大衰耗点，并统计相应的合格衰耗点数量、小衰耗点数量、中衰耗点数量和大衰耗点数量；S3、数据处理器对处理后的数据进行二维图形化展示，光缆中的每根纤芯沿X轴横向排布，Y轴的数字表示此条光缆中的纤芯序号，X轴的数字表示光缆纤芯长度；通过颜色区别标注纤芯为在用纤芯、优质纤芯，合格纤芯，可用纤芯、不可用纤芯或断纤；通过纤芯上的节点形状区别标注衰耗点为合格衰耗点、小衰耗点、中衰耗点和大衰耗点，而衰耗点的位置为所述事件点位置对应的X轴位置。本专利技术技术方案的进一步限定为，步骤S3中还通过另外一个二维图形展示链长，光缆中的每根纤芯沿X轴横向排布，Y轴的数字表示此条光缆中的纤芯序号，光缆在X轴达到的长度数字即为对应纤芯的链长。进一步地，所述步骤S2中根据所述平均衰减系统判断单根纤芯质量的方法为：如果平均衰减系数≤0.25dB/KM，则此纤芯为优质纤芯；如果0.25dB/KM<平均衰减系数≤0.35dB/KM，则此纤芯为合格纤芯；如果0.35dB/KM<平均衰减系数≤0.5dB/KM，此纤芯为可用纤芯；如果平均衰减系数＞0.5dB/KM，则此纤芯为不可用纤芯。进一步地，所述步骤S2中判断断纤的方法为：如果纤芯的链长小于所测光缆中最长纤芯链长的98%，则此纤芯为断纤；如果纤芯为端口损坏纤芯，则此纤芯为断纤。进一步地，所述步骤S2中根据所述事件点插入损耗的范围判断消耗点级别的方法为：合格衰耗点：事件点插入损耗范围：0~0.1dB；小衰耗点：事件点插入损耗范围：0.1dB~0.3dB；中衰耗点：事件点插入损耗范围：0.3dB~0.5dB；大衰耗点：事件点插入损耗范围：0.5dB以上。本专利技术的有益之处在于：本专利技术提供的光缆质量检测数据的展示方法，制定了光缆有效的质量管控手段和评估体系，并将数据通过图例展示出来，让使用方对整根光缆的所有纤芯质量情况一目了然，直观、简洁，便于用户更好地维护光缆，采取相应措施，对于提升业务运营质量和公司价值具有很强的效果，同时也可以产生明显的经济效益和社会效益。附图说明图1本专利技术提供的一种光缆质量检测数据的展示方法的流程图；图2为本专利技术提供的一种光缆质量检测数据的展示方法的展示图。具体实施方式以下结合附图和具体实施例对本专利技术作具体的介绍。实施例1：一种光缆质量检测数据的展示方法，其流程图如图1所述，按如下步骤进行：S1、仪器仪表与光缆内的纤芯连接，采集在用纤芯和端口损坏纤芯，并测试空闲纤芯的数据，同时，将采集的数据传送至数据处理器，同时，将采集的数据传送至数据处理器。测试空闲纤芯的数据包括：链长、平均衰减系数、事件点数量、事件点位置、事件点插入损耗。如果链接端口有业务，现场纤芯在用的而无法测试，则此纤芯为在用纤芯，在用纤芯只统计数量，不进行测试。如果纤芯无数据上传，测试端口损坏根本无法测试，为端口损坏纤芯，统计端口损坏纤芯数量。如果纤芯空闲，则进行测试。测试数据包括：链长、平均衰减系数、事件点数量、事件点位置、事件点插入损耗。其中，事件点数量是指除光纤自身正常散射外的任何导致损耗或反射功率突然变化的异常点数量；事件点位置是指除光纤自身正常散射外的任何导致损耗或反射功率突然变化的异常点位置。S2、数据处理器对接收的数据进行处理：（1）根据所述平均衰减系统判断单根纤芯质量，统计优质纤芯数，合格纤芯数，可用纤芯数和不可用纤芯数；根据所述链长和是否为端口损坏纤芯，统计断纤数。根据所述平均衰减系统判断单根纤芯质量的方法为：如果平均衰减系数≤0.25dB/KM，则此纤芯为优质纤芯；如果0.25dB/KM<平均衰减系数≤0.35dB/KM，则此纤芯为合格纤芯；如果0.35dB/KM<平均衰减系数≤0.5dB/KM，此纤芯为可用纤芯；如果平均衰减系数＞0.5dB/KM，则此纤芯为不可用纤芯。统计优质纤芯数量，合格纤芯数量，可用纤芯数量和不可用纤芯数量。判断断纤的方法为：如果纤芯的链长小于所测光缆中最长纤芯链长的98%，则此纤芯为断纤；如果纤芯为端口损坏纤芯，则此纤芯为断纤。（2）根据所述事件点插入损耗的范围，判断单根光纤的合格衰耗点、小衰耗点、中衰耗点和大衰耗点，并统计相应的合格衰耗点数量、小衰耗点数量、中衰耗点数量和大衰耗点数量。根据所述事件点插入损耗的范围判断消耗点级别的方法为：合格衰耗点：事件点插入损耗范围：0~0.1dB；小衰耗点：事件点插入损耗范围：0.1dB~0.3dB；中衰耗点：事件点插入损耗范围：0.3dB~0.5dB；大衰耗点：事件点插入损耗范围：0.5dB以上。S3、数据处理器对处理后的数据进行二维图形化展示，如图2所示，光缆中的每根纤芯沿X轴横向排布，Y轴的数字表示此条光缆中的纤芯序号，X轴的数字表示光缆长度。通过颜色区别标注纤芯为在用纤芯、优质纤芯，合格纤芯，可用纤芯、不可用纤芯或断纤，因专利申请提交的图形不能有颜色，因为本项不在附图中进行展示。通过纤芯上的节点形状区别标注衰耗点为合格衰耗点、小衰耗点、中衰耗点和大衰耗点，而衰耗点的位置为所述事件点位置对应的X轴位置。步骤S3中还通过另外一个二维图形展示链长，光缆中的每根纤芯沿X轴横向排布，Y轴的数字表示此条光缆中的纤芯序号，光缆在X轴达到的长度数字即为对应纤芯的链长。把衰耗点在模拟纤芯图中用打点的方式呈现出来，如一根纤芯从A端到Z端测试，也可以从Z端到A端测试，那么呈现的图是不同的。本专利技术提供的光缆质量检测数据的展示方法，制定了光缆有效的质量管控手段和评估体系，并将数据通过图例展示出来，让使用方对整根光缆的所有纤芯质量情况一目了然，直观、简洁。便于用户更好地维护光缆，采取相应措施，对于提升业务运营质量和公司价值具有很强的效果，同时也可以产生明显的经济效益和社会效益。通过本专利技术技术方案的实施，以某运营商为例，单地市年节省人工约243本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种光缆质量检测数据的方法，其特征在于，按如下步骤进行：S1、仪器仪表与光缆内的纤芯连接，采集光缆总芯数、在用纤芯数和端口损坏纤芯数，并测试空闲纤芯的数据，同时，将采集的数据传送至数据处理器；测试空闲纤芯的数据包括：链长、平均衰减系数、事件点数量、事件点位置、事件点插入损耗；S2、数据处理器对接收的数据进行处理：（1）根据所述平均衰减系统判断单根纤芯质量，统计优质纤芯数，合格纤芯数，可用纤芯数和不可用纤芯数；根据所述链长和是否为端口损坏纤芯，统计断纤数；（2）根据所述事件点插入损耗的范围，判断单根光纤的合格衰耗点、小衰耗点、中衰耗点和大衰耗点，并统计相应的合格衰耗点数量、小衰耗点数量、中衰耗点数量和大衰耗点数量；S3、数据处理器对处理后的数据进行二维图形化展示，光缆中的每根纤芯沿X轴横向排布，Y轴的数字表示此条光缆中的纤芯序号，X轴的数字表示光缆纤芯长度；通过颜色区别标注纤芯为在用纤芯、优质纤芯，合格纤芯，可用纤芯、不可用纤芯或断纤；通过纤芯上的节点形状区别标注衰耗点为合格衰耗点、小衰耗点、中衰耗点和大衰耗点，而衰耗点的位置为所述事件点位置对应的X轴位置。

【技术特征摘要】
1.一种光缆质量检测数据的方法，其特征在于，按如下步骤进行：S1、仪器仪表与光缆内的纤芯连接，采集光缆总芯数、在用纤芯数和端口损坏纤芯数，并测试空闲纤芯的数据，同时，将采集的数据传送至数据处理器；测试空闲纤芯的数据包括：链长、平均衰减系数、事件点数量、事件点位置、事件点插入损耗；S2、数据处理器对接收的数据进行处理：（1）根据所述平均衰减系统判断单根纤芯质量，统计优质纤芯数，合格纤芯数，可用纤芯数和不可用纤芯数；根据所述链长和是否为端口损坏纤芯，统计断纤数；（2）根据所述事件点插入损耗的范围，判断单根光纤的合格衰耗点、小衰耗点、中衰耗点和大衰耗点，并统计相应的合格衰耗点数量、小衰耗点数量、中衰耗点数量和大衰耗点数量；S3、数据处理器对处理后的数据进行二维图形化展示，光缆中的每根纤芯沿X轴横向排布，Y轴的数字表示此条光缆中的纤芯序号，X轴的数字表示光缆纤芯长度；通过颜色区别标注纤芯为在用纤芯、优质纤芯，合格纤芯，可用纤芯、不可用纤芯或断纤；通过纤芯上的节点形状区别标注衰耗点为合格衰耗点、小衰耗点、中衰耗点和大衰耗点，而衰耗点的位置为所述事件点位置对应的X轴位置。2.根据权利要求1所述的一种光缆质量检测数据的展示方法，其特征在于，步骤S3中还通过另外一...

【专利技术属性】
技术研发人员：甘云飞，陈东，
申请(专利权)人：南京科舜通信科技有限公司，
类型：发明
国别省市：江苏,32