高稳定性时间测量电路系统及其测量方法技术方案

技术编号:21546827 阅读:50 留言:0更新日期:2019-07-06 20:51
本发明专利技术涉及一种高稳定性时间测量电路系统,解决了现有技术的不足,其技术方案包括信号触发模块和数字测量模块,所述信号触发模块将输入信号转化为带有时间相位信息的数字电平传输至数字测量模块,所述数字测量模块包括至少一条信号链路,每条信号链路均包括模式选择模块、数字滤波模块、逻辑转换模块和时钟计数模块,所述数字测量模块中的模式选择模块对数字电平进行选择并传输至数字滤波模块,所述数字滤波模板将数字电平中的干扰滤除并传输至逻辑转换模块,逻辑转换模块将数字电平转换为开始信号和结束信号并传输至技术模块,计数模块统计开始信号和结束信号之间的时钟数量并得出测量时间结果。

High Stability Time Measurement Circuit System and Its Measurement Method

【技术实现步骤摘要】
高稳定性时间测量电路系统及其测量方法
本专利技术涉及测试仪器
,尤其是涉及一种时间测量电路系统。
技术介绍
高稳定性时间测量技术在现在科学技术中有广泛的应用场景,如集成电路测试、激光测距、卫星定位、医学影像物理等领域。现在常用的时间测量方法是ASIC和专用TDC芯片测量方法,这两种时间测量方法存在动态测量范围小的问题。在集成电路测试领域,时间测量的范围是非常广的,长的时间可以达到秒级,短的时间可以达到几十皮秒,专用的TDC芯片都没有如此广的动态测量范围。中国专利技术专利104407218B在2017年7月公开了一种电阻率测量仪的电路系统,该系统包括单片机控制模块、供电模块、通断测试模块、电阻测量模块、温度测量模块、计时模块、电阻率计算模块、蓝牙传输模块、数据存储模块和校准模块,其中单片机控制模块为中心控制模块,电阻测量模块、温度测量模块、计时模块为测量核心功能模块。本专利技术提供的电阻率测量仪的电路系统,使得设置有该电路系统的电阻率测量仪具有测温度和测量电阻的双重功能,并能够保证充分的测温时间,在保证测量精度的基础上实现了测量工作的一键操作,提高了测量工作的方便性,减少了测量工本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种高稳定性时间测量电路系统,其特征在于,包括信号触发模块和数字测量模块,所述信号触发模块将输入信号转化为带有时间相位信息的数字电平传输至数字测量模块,所述数字测量模块包括至少一条信号链路,每条信号链路均包括模式选择模块、数字滤波模块、逻辑转换模块和时钟计数模块,所述数字测量模块中的模式选择模块对数字电平进行选择并传输至数字滤波模块,所述数字滤波模板将数字电平中的干扰滤除并传输至逻辑转换模块,逻辑转换模块将数字电平转换为开始信号和结束信号并传输至计数模块,计数模块统计开始信号和结束信号之间的时钟数量并得出测量时间结果。

【技术特征摘要】
1.一种高稳定性时间测量电路系统,其特征在于,包括信号触发模块和数字测量模块,所述信号触发模块将输入信号转化为带有时间相位信息的数字电平传输至数字测量模块,所述数字测量模块包括至少一条信号链路,每条信号链路均包括模式选择模块、数字滤波模块、逻辑转换模块和时钟计数模块,所述数字测量模块中的模式选择模块对数字电平进行选择并传输至数字滤波模块,所述数字滤波模板将数字电平中的干扰滤除并传输至逻辑转换模块,逻辑转换模块将数字电平转换为开始信号和结束信号并传输至计数模块,计数模块统计开始信号和结束信号之间的时钟数量并得出测量时间结果。2.根据权利要求1所述的高稳定性时间测量电路系统,其特征在于,所述信号触发模块包括至少一组输入信号处理电路,每组输入信号处理电路均包括信号输入模块、高速比较器和可编程比较电平模块,所述信号输入模块和可编程比较电平模块均与所述高速比较器的输入端连接,高速比较器将输入信号转化为带有时间相位信息的数字电平传输至数字测量模块。3.根据权利要求1所述的高稳定性时间测量电路系统,其特征在于,所述信号触发模块包括两组相同结构的输入信号处理电路。4.根据权利要求2或3所述的高稳定性时间测量电路系统,其特征在于,所述高速比较器根据可编程比较电平的大小将输入信号转化为带有时间相位信息的数字电平。5.根据权利要求4所述的高稳定性时间测量电路系统,其特征在于,所述数字测量模块包括两条信号链路,每条信号链路的输入端分别接收输入信号处理电路输出的带有时间相位信息的数字电平。6.根据权利要求5所述的高稳定性时间测量电路系统,其特征在于,所述模式选择模块与数字滤波模块连接,数字滤波模块与逻辑转换模块连接,逻辑转换模块与时钟计数模块连接,模式选择模块还与逻辑转换模块连接;在检测信号频率和周期参数时,每个模式选择模块分别与对应的一组输入信号处理电路连接,在检测信号高电平、低电平、上升沿、下降沿、上升沿到上升沿相位差、上升沿到下降沿相位差、下降沿到上升沿相位...

【专利技术属性】
技术研发人员:朱灿钟锋浩夏吉品毛江峰
申请(专利权)人:杭州长川科技股份有限公司
类型:发明
国别省市:浙江,33

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