磁力式料位控制装置及料仓制造方法及图纸

技术编号:21539600 阅读:29 留言:0更新日期:2019-07-06 18:53
本实用新型专利技术涉及一种磁力式料位控制装置,包括测量支架以及绕测量支架来回转动的测量机构;测量支架上设有用于在测量机构接触物料发生转动时产生信号的第一信号器,测量机构包括用于与物料接触的测量头、在测量机构来回转动时与第一信号器配合以产生断开信号或连接信号的第二信号器以及用于连接测量头和第二信号器转动的连接件;测量头与连接件刚性连接以使连接件在测量头接触到物料后绕测量支架转动。料位测量和控制较为精确,可避免料位过高或过低,使料仓内的料位始终在合适的范围内波动,提高生产效率,节省生产成本。

Magnetic Level Control Device and Bunker

【技术实现步骤摘要】
磁力式料位控制装置及料仓
本技术属于料位控制装置
,具体涉及一种磁力式料位控制装置及料仓。
技术介绍
料位开关,主要用于容器、储罐的高、低料位、或者中间料位测量。现有的料位开关有阻旋料位开关、音叉料位开关、电容式料位开关、射频导纳料位开关等多种。料位开关一般包括感应头以及感应器,根据是否与物料接触,感应头有接触式的和非接触式的,接触式的感应头容易受物料影响,如粉尘或有粘性的物质会粘到感应头上,使得感应器感应不准,无法向加料装置传送准确的信号,使得料位过高或过低。料位过高时容易导致物料逸出,料位过低时容易导致物料供应断料,降低生产效率,产生额外的生产成本。
技术实现思路
本技术的目的是提供一种磁力式料位控制装置以解决现有的料位开关测定料位不准的技术问题。为了实现以上目的,本技术采取的技术方案为:磁力式料位控制装置,包括测量支架以及绕测量支架来回转动的测量机构;测量支架上设有用于在测量机构接触物料发生转动时产生信号的第一信号器,测量机构包括用于与物料接触的测量头、在测量机构来回转动时与第一信号器配合以产生断开信号或连接信号的第二信号器以及用于连接测量头和第二信号器转动的连接件;测量头与连接本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.磁力式料位控制装置,其特征在于:包括测量支架以及绕测量支架来回转动的测量机构;测量支架上设有用于在测量机构接触物料发生转动时产生信号的第一信号器,测量机构包括用于与物料接触的测量头、在测量机构来回转动时与第一信号器配合以产生断开信号或连接信号的第二信号器以及用于连接测量头和第二信号器的连接件;测量头与连接件刚性连接以使连接件在测量头接触到物料后绕测量支架转动。

【技术特征摘要】
1.磁力式料位控制装置,其特征在于:包括测量支架以及绕测量支架来回转动的测量机构;测量支架上设有用于在测量机构接触物料发生转动时产生信号的第一信号器,测量机构包括用于与物料接触的测量头、在测量机构来回转动时与第一信号器配合以产生断开信号或连接信号的第二信号器以及用于连接测量头和第二信号器的连接件;测量头与连接件刚性连接以使连接件在测量头接触到物料后绕测量支架转动。2.根据权利要求1所述的磁力式料位控制装置,其特征在于:所述第一信号器为电磁线圈,第二信号器为与电磁线圈配合以通过电磁线圈控制物料放料通断的磁铁。3.根据权利要求1所述的磁力式料位控制装置,其特征在于:所述测量支架包用于支撑测量机构的支撑杆,测量机构绕支撑杆来回转动以使第一信号器和第二信号器连接或断开。4.根据权利要求3所述的磁力式料位控制装置,其特征在于:所述支撑杆穿设在连接件上以使测量机构绕支撑杆来回转动,连接件上设有用于穿设支撑杆的通孔,通孔位于测量头与第二信号器之间。5.根据权利要求4所述的磁力式料位控制装置,其特征在于:所述支撑杆延伸的方向与连接件延伸的方向垂直。6.根据权利要求1-5任一项所述的磁力式料位控制装置,其特征在于:所述连接件为用...

【专利技术属性】
技术研发人员:刘毅伟刘大鹏丁奎红
申请(专利权)人:郑州凯宇包装设备有限公司
类型:新型
国别省市:河南,41

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