一种阵列基板及检测装置制造方法及图纸

本实用新型专利技术提供了一种阵列基板，包括N个连续的被驱动显示区，与所述被驱动显示区一一对应的驱动IC绑定位，其特征在于，还包括多个与所述被驱动显示区对应的快检电路，所述快检电路的数量为N或N‑1，所述快检电路和与该快检电路电性连接的被驱动显示区的距离保持一致。本实用新型专利技术提供的一种阵列基板及检测装置，通过为每N个被驱动显示区配置N个或者N‑1个快检电路，保证每一个快检电路和与其对应的驱动显示区的距离都是一致的，有效保证了通过快检电路施加的检测电压的一致性，有效保证了检测时的显示均匀性，避免出现因显示不均导致无法判断是否出现不良品的问题，有效提高了检测效率，提高了生产效率。

An Array Substrate and Detection Device

【技术实现步骤摘要】
一种阵列基板及检测装置
本技术涉及了显示
，特别是涉及了一种阵列基板及检测装置。
技术介绍
在显示面板的阵列基板中，一般都设有显示区、驱动IC绑定位和快检电路，其中显示区用于显示，驱动IC绑定位用于与驱动IC电性连接，快检电路用于与外接检测装置连接，从而可以在生产过程中通过外接检测装置提供检测电压进行阵列基板的功能检测，判断是否出现不良品。现有的阵列基板一般仅设有一个位于显示区中部正下方的快检电路，特别是在包括设计有连接多个驱动IC的阵列基板中，即显示区具有多个连续的被驱动显示区，每个被驱动显示区用于单独连接一个驱动IC，往往会出现快检电路与各个被驱动显示区的距离不一致，导致负载不同，提供检测电压不一致使得检测时显示不均，无法判断是否出现不良品的问题。
技术实现思路
本技术所要解决的技术问题是能够有效解决现有的阵列基板中容易出现检测时显示不均，无法判断是否出现不良品的问题。为解决上述技术问题，本技术提供了一种阵列基板，包括N个连续的被驱动显示区，与所述被驱动显示区一一对应的驱动IC绑定位，其特征在于，还包括多个与所述被驱动显示区对应的快检电路，所述快检电路的数量为N或N-1，所述快检电路和与该快检电路电性连接的被驱动显示区的距离保持一致。作为本技术的一种优选方案，所述快检电路的数量为N时，所述驱动IC绑定位对应布置于被驱动显示区的下方，所述快检电路设于所述驱动IC的绑定位一侧。作为本技术的一种优选方案，所述被驱动显示区和快检电路的数量为四个。作为本技术的一种优选方案，所述快检电路的数量为N-1时，所述快检电路设于任两个被驱动显示区的下方中部。作为本技术的一种优选方案，所述被驱动显示区成横向布置。作为本技术的一种优选方案，所述被驱动显示区包括阵列排布的多个像素电路、多条栅极线、多条数据线和公共电极线。作为本技术的一种优选方案，所述快检电路包括与所述栅极线电性连接的栅极线连接端子、与所述数据线电性连接的数据线连接端子和与所述公共电极线电性连接的公共电极线连接端子。作为本技术的一种优选方案，所述像素电路包括TFT晶体管、像素电极、存储电容和公共电极。进一步地，提供一种检测装置，用于向权利要求以上任一项所述的阵列基板提供检测电压，所述检测装置包括多个检测端口，每个检测端口均连接有与快检电路数量一致的检测扎针。作为本技术的一种优选方案，所述检测端口包括栅极线检测端口、数据线检测端口和公共电极线检测端口。本技术具有如下技术效果：本技术提供的一种阵列基板及检测装置，通过为每N个被驱动显示区配置N个或者N-1个快检电路，保证每一个快检电路和与其对应的驱动显示区的距离都是一致的，有效保证了通过快检电路施加的检测电压的一致性，有效保证了检测时的显示均匀性，避免出现因显示不均导致无法判断是否出现不良品的问题，有效提高了检测效率，提高了生产效率。附图说明图1为本技术提供的一种阵列基板的结构示意图；图2为本技术提供的一种检测装置的结构示意图；图3为本技术提供的另一种阵列基板的结构示意图。具体实施方式为使本技术的目的，技术方案和优点更加清楚，下面结合附图对本技术实施方式作进一步详细说明。显然，所描述的实施例是本技术的一部分实施例，而不是全部的实施例。基于所描述的本技术的实施例，本领域普通技术人员在无需创造性劳动的前提下所获得的所有其他实施例，都属于本技术保护的范围。除非另外定义，本技术使用的技术术语或者科学术语应当为本技术所属领域内具有一般技能的人士所理解的通常意义。本技术中使用的“第一”、“第二”以及类似的词语并不表示任何顺序、数量或者重要性，而只是用来区分不同的组成部分。在本技术的描述中，需要理解的是，若有术语“上”、“下”、“左”、“右”等指示的方位或位置关系为基于附图所示的方位或位置关系，仅是为了便于描述本技术和简化描述，而不是指示或暗示所指的装置或元件必须具有特定的方位、以特定的方位构造和操作，因此附图中描述位置关系的用语仅用于示例性说明，不能理解为对本专利的限制，对于本领域的普通技术人员而言，可以根据具体情况理解上述术语的具体含义。实施例一如图1所示，其表示了本技术提供的一种阵列基板。该阵列基板包括N个连续的被驱动显示区1，与所述被驱动显示区1一一对应的驱动IC绑定位2，还包括多个与所述被驱动显示区对应的快检电路3，所述快检电路3的数量为N，所述快检电路3和与该快检电路3电性连接的被驱动显示区1的距离保持一致。即在本实施例中，为每一个被驱动显示区1配置一个快检电路3，保证了每一个快检电路3与对应的被驱动显示区1的距离均一致，从而有效保证了通过快检电路3施加的检测电压的一致性，有效保证了检测时的显示均匀性，避免出现因显示不均导致无法判断是否出现不良品的问题，有效提高了检测效率，提高了生产效率。具体地，在本实施例中，所述驱动IC绑定位2对应布置于被驱动显示区1的下方，所述快检电路3设于所述驱动IC的绑定位2一侧。这样，方便有效保持了快检电路3与被驱动显示区1的距离一致，保证了检测效果且方便快检电路3的布置。优选地，所述被驱动显示区1和快检电路3的数量为四个。具体地，在本实施例中，所述被驱动显示区1可以为成横向布置，当然其他的布置形式也是可行的。具体地，在本实施例中，所述被驱动显示区1包括阵列排布的多个像素电路、多条栅极线、多条数据线和公共电极线。所述快检电路3包括与所述栅极线电性连接的栅极线连接端子、与所述数据线电性连接的数据线连接端子和与所述公共电极线电性连接的公共电极线连接端子。这样，检测电压可以通过栅极线连接端子、数据线连接端子和公共电极线连接端子分别施加至被驱动显示区1的栅极线、数据线及公共电极线上。具体地，所述像素电路包括TFT晶体管、像素电极、存储电容和公共电极。进一步地，如图2所示，提供一种检测装置10，用于向以上任一项所述的阵列基板提供检测电压，所述检测装置10包括多个检测端口100，每个检测端口100均连接有与快检电路数量3一致的检测扎针200。即在本实施例中，所述检测扎针200的数量与所述阵列基板的被驱动显示区1的数量一致，即检测装置10的每一个检测端口均引出多个扎针200，每一个扎针200可以应用于一个被驱动显示区1，即通过扎针200与快检电路3的各个端子如栅极线连接端子、数据线连接端子和公共电极线连接端子等连接就可以从而可以方便有效的实现由检测装置10同时向多个被驱动显示区1施加检测电压实现检测功能，即提高了检测效率又保证施加电压的一致性，优选地，所述检测端口100包括栅极线检测端口110、数据线检测端口120和公共电极线检测端口130。实施例二本实施例与前一实施例原理相同，结构类似，其区别仅在于，所述快检电路3的数量为N-1；具体地，所述快检电路3设于任两个被驱动显示区1的下方中部。这样，通过将快检电路3设于任两个被驱动显示区1的下方中部从而能够有效保证每一个快检电路3和与该快检电路3电性连接的被驱动显示区1的距离都是一致的，从而保证了负载的一致性，保证了施加检测电压的一致性。具体地，在本实施例中，至少有一个快检电路3可以同时为相邻两个被驱动显示区1施加检测电压，当然，本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种阵列基板，包括N个连续的被驱动显示区，与所述被驱动显示区一一对应的驱动IC绑定位，其特征在于，还包括多个与所述被驱动显示区对应的快检电路，所述快检电路的数量为N或N‑1，所述快检电路和与该快检电路电性连接的被驱动显示区的距离保持一致。

【技术特征摘要】
1.一种阵列基板，包括N个连续的被驱动显示区，与所述被驱动显示区一一对应的驱动IC绑定位，其特征在于，还包括多个与所述被驱动显示区对应的快检电路，所述快检电路的数量为N或N-1，所述快检电路和与该快检电路电性连接的被驱动显示区的距离保持一致。2.根据权利要求1所述的阵列基板，其特征在于，所述快检电路的数量为N时，所述驱动IC绑定位对应布置于被驱动显示区的下方，所述快检电路设于所述驱动IC的绑定位一侧。3.根据权利要求2所述的阵列基板，其特征在于，所述被驱动显示区和快检电路的数量为四个。4.根据权利要求1所述的阵列基板，其特征在于，所述快检电路的数量为N-1时，所述快检电路设于任两个被驱动显示区的下方中部。5.根据权利要求1所述的阵列基板，其特征在于，所述被驱动显示区成横向布置。6....

【专利技术属性】
技术研发人员：林建伟，陈家幸，庄崇营，李林，
申请(专利权)人：信利半导体有限公司，
类型：新型
国别省市：广东,44