一种漏电检测电路制造技术

本发明专利技术公开了一种漏电检测电路，包括第一电流镜、第二电流镜、第一晶体管、第一开关、第二开关和第一基准电流源；第一电流镜与第二电流镜连接，用于向第二电流镜提供基准电流；第一晶体管的第一极与第一电源连接，第一晶体管第二极与第二电流镜的电流输出端连接，第一晶体管的栅极通过第一开关与第一电流镜的偏置电压端连接；第一晶体管的栅极用于通过第二开关与待测试元件连接；第一基准电流源的第一端与第二电流镜的电流输出端连接，第一基准电流源的第二端与第二电源连接。本发明专利技术实施例实现了对耦合电容的漏电流检测。

A Leakage Detection Circuit

【技术实现步骤摘要】
一种漏电检测电路
本专利技术实施例涉及电流检测技术，尤其涉及一种漏电检测电路。
技术介绍
在数据传输电路系统中，通常需要设置耦合电容使系统耦合。图1为耦合电容电路的电路框图，耦合电容C的上极板输入数据信号Vin，下级板输出信号Vdet，当电路需要工作传输数据和被测试的时候，Vdet跟随Vin变化，若在t1时刻，耦合电容C两端的电压分别是Vin1和Vdet1，在t2时刻，耦合电容C两端的电压分别是Vin2和Vdet2，根据电荷守恒定律可以得到C(Vin1-Vdet1)＝C(Vin2-Vdet2)，可以得到Vin2-Vin1＝Vdet2-Vdet1，因此耦合电容C只是将Vin这一端的变化量传到Vdet端，不会影响数据传输。但是，上述等式只有在耦合电容C不存在漏电的情况下成立，在实际情况中，耦合电容C有可能存在漏电，那么Vin2-Vin1>Vdet2-Vdet1，导致输出的变化量降小于输入的变化量，可能造成传输数据发生错误。因此，需要对耦合电容的漏电进行检测。
技术实现思路
本专利技术提供了一种漏电检测电路，以检测测试元件是否漏电以及检测测试元件的漏电流。本专利技术实施例提供了一种漏电检本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种漏电检测电路，其特征在于，包括第一电流镜、第二电流镜、第一晶体管、第一开关、第二开关和第一基准电流源；所述第一电流镜与所述第二电流镜连接，用于向所述第二电流镜提供基准电流；所述第一晶体管的第一极与第一电源连接，所述第一晶体管第二极与所述第二电流镜的电流输出端连接，所述第一晶体管的栅极通过所述第一开关与所述第一电流镜的偏置电压端连接；所述第一晶体管的栅极通过所述第二开关与待测试元件连接；所述第一基准电流源的第一端与所述第二电流镜的电流输出端连接，所述第一基准电流源的第二端与所述第二电源连接。

【技术特征摘要】
1.一种漏电检测电路，其特征在于，包括第一电流镜、第二电流镜、第一晶体管、第一开关、第二开关和第一基准电流源；所述第一电流镜与所述第二电流镜连接，用于向所述第二电流镜提供基准电流；所述第一晶体管的第一极与第一电源连接，所述第一晶体管第二极与所述第二电流镜的电流输出端连接，所述第一晶体管的栅极通过所述第一开关与所述第一电流镜的偏置电压端连接；所述第一晶体管的栅极通过所述第二开关与待测试元件连接；所述第一基准电流源的第一端与所述第二电流镜的电流输出端连接，所述第一基准电流源的第二端与所述第二电源连接。2.根据权利要求1所述的漏电检测电路，其特征在于，所述第一电流镜包括第二晶体管、第三晶体管和第二基准电流源；所述第一晶体管的栅极通过所述第一开关与所述第二晶体管的栅极连接；所述第二晶体管的第一极与所述第一电源连接，所述第二晶体管的第二极与所述第二电流镜的电流输入端连接，所述第二晶体管的栅极与所述第三晶体管的栅极连接；所述第三晶体管的第一极与所述第一电源连接，所述第三晶体管的第二极与其栅极连接；所述第二基准电流源的第一端与所述第三晶体管的第二极连接，所述第二基准电流源的第二端与所述第二电源连接。3.根据权利要求2所述的漏电检测电路，其特征在于，所述第二电流镜包括第四晶体管和第五晶体管；所述第四晶体管的第一极与所述第二电源连接，所述第四晶体管的第二极与所述第一晶体管的第二极以及所述第一基准电流源的第一端连接，所述第四晶体管的栅极与所述第五晶体管的栅极连接；所述第五晶体管的第一极与所述第二电源连接，所述第五晶体管的第二极与所述第二晶体管的第二极连接，所述第五晶体管的栅极与其第二极连接。4.根据权利要求3所述的...

【专利技术属性】
技术研发人员：方海彬，张现聚，刘铭，
申请(专利权)人：北京兆易创新科技股份有限公司，合肥格易集成电路有限公司，
类型：发明
国别省市：北京,11