【技术实现步骤摘要】
一种精确测量光束入射角的装置
本专利技术涉及G02F光学
，尤其涉及一种精确测量光束入射角的装置。
技术介绍
精密角度测量一直是工程领域需要改进的问题，光学方法是一种精确测量小角度的重要方法。目前应用的光学小角度测量方法主要有光学内反射法、CCD光学测角法、圆光栅法、双频激光干涉法、光学成像自准直法和精密光电小角度测量法等。光学内反射法的主要优点是体积小，可以做成袖珍式测角仪，但其测量准确度不高。CCD光学测角法的主要优点是操作较为简单，但测量准确度不够高。圆光栅法的主要优点是测量准确度高，但是高准确度光栅的制作加工很困难。双频激光干涉法虽然小角度测量精度较高，但体积庞大。光学成像自准直法虽然测量精度高，但是环境适应性差，对测量环境要求高，更适合在环境良好的实验室中进行。精密光电小角度测量法虽然测量精度高、兼备姿态角度测量能力和空间基准传递功能，但是成本高。
技术实现思路
本专利技术针对
技术介绍
的问题提供一种精确测量光束入射角的装置，解决现有的小角度测量技术不能兼顾测量准确度高、操作简单、环境适应性好和成本低的问题。为了实现上述目的，本专利技术提出一种精确测量光...
【技术保护点】
1.一种精确测量光束入射角的装置，其特征在于，包括激光器、分束器、反射镜、液晶盒和探测器，其中，所述的激光器用于产生高斯光束并发射至分束器中，所述的分束器用于将高斯光束分束为两束强度相等的高斯光束，一束光束发射至液晶盒，另一束光束经过反射镜以一定入射角度射入液晶盒，所述的探测器用于测量光束通过液晶盒后的光强，通过调整不同的入射角度分别获得对应的光强，以获得入射角度与光强的对应关系；检测时根据探测器所测光强判定待测量入射角度。
【技术特征摘要】
1.一种精确测量光束入射角的装置，其特征在于，包括激光器、分束器、反射镜、液晶盒和探测器，其中，所述的激光器用于产生高斯光束并发射至分束器中，所述的分束器用于将高斯光束分束为两束强度相等的高斯光束，一束光束发射至液晶盒，另一束光束经过反射镜以一定入射角度射入液晶盒，所述的探测器用于测量光束通过液晶盒后的光强，通过调整不同的入射角度分别获得对应的光强，以获得入射角度与光强的对应关系；检测时根据探测器所测光强判定待测量入射角度。2.根据权利要求1所述的精确测量光束入射角的装置，其特征在于，所述的两束强度相等的高斯光束，其中一束光束为...
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