一种测试系统技术方案

本发明专利技术涉及一种测试系统（1），具有待测试设备（G）和测试设备（T），所述待测试设备（G）是一种电气设备，所述待测试的设备（G）有存储器单元（C，RX），存储器单元包含待测试的设备（G）的测量数据，所述测量数据构成第一种数据集合，所述测试设备（T）具有读取装置（S，TX），以便无接触地读取所述待测试的设备（G）的所述测量数据，所述测试设备（T）具有连接插口（B），用于所述测试设备与待测试设备（G）的连接，以便执行测试，所述测试设备（T）在测量时识别所述待测试设备（G）的待测量数据，测得的待测量数据构成第二种数据集合，所述测试设备（T）基于所述第一种数据集合和所述第二种数据集合来评估待测试设备（G）是否仍然可用还是出现故障。

【技术实现步骤摘要】
一种测试系统
本专利技术涉及一种测试系统。
技术介绍
从现有技术已知有用于过压保护装置的测试系统。过压保护装置需要/必须在预定的环境下或者基于所述装置内的问题而通过电气的方式检查其性能。目前的测试系统会针对特定的设备被预配置，在实际测试之前，基于与设备类型对应的数据库进行配置。因此，在过去，必须不仅为每个制造商、也为制造商每种的新一代产品分别购买新的测试设备，和/或，通过更新达到新的水平。这一过程成本高昂。一方面，必需要有不同制造商的测试设备，另一方面，要让所述测试设备始终保持在当前的技术水平。在过去也已经表明，更新并不总是没有错误的，部分测试设备有时也将有不可修复地受损。另外，使用目前的测试设备，只可能实现在一定的限度内进行测试。这是由于，只能够在特定的规格以内能为所有批次的产品进行测试。那么可能的是，例如所要测试的设备在开始运转之前就远远不能满足规格要求，在进程中就极大地降级。为了测试这些设备是否有错误的或者有失灵风险，就必须缩小这种状态的标准。然而，这意味着其他已经满足初始规范但表现出较少退化的待测设备被自动认为是有缺陷的或容易出现故障，即使它们已被识别为有可用的历史数据。因此，在过去，经常引发要更换假定有错误的或者有失灵风险的设备，这种更换原本并不是必需的。
技术实现思路
本专利技术的根本目的是，要提供一种测试系统，是一种加以改进了的、成本有利的测试设备，具有更好的更准确的来评估所要测试的设备的可能，其避免了现有技术中的一个或多个不足。上述目的的解决方案根据本专利技术通过独立权利要求所述的特征得出。即：一种测试系统（1），具有待测试设备和测试设备，所述待测试设备是电气设备，其中：所述待测试设备具有存储器单元，存储器单元存有待测试设备的测量标准数据，所述测量标准数据构成第一种数据集合；所述测试设备具有读取装置，读取装置无接触地读取所述被测试设备的所述测量标准数据；所述测试设备还具有测试连接插口，测试连接插口用于测试设备连接所述待测试设备，以便执行测试；所述测试设备在测量时获取待测试设备的待测量数据，并将获取的待测量数据构成第二种数据集合；所述测试设备基于所述第一种数据集合和所述第二种数据集合评估所述被测试的设备是否仍然可用还是出现故障。本专利技术的优选技术方案由从属权利要求、说明书以及附图中得出。附图说明下面参照附图借助优选的实施方式进一步阐述本专利技术。其中：图1为根据本专利技术的实施方式的概括性的示意性剖图；图2为根据本专利技术的一个方面的概括性的示意性剖图；图3为根据本专利技术的一个方面的概括性的示意性剖图；以及图4为根据本专利技术的实施方式的测试设备的逻辑元件框图。标注说明：1测试系统G待测试设备T测试设备C，RX存储器单元S，TX读取装置A接口B连接插口C光学代码（示例）S光学扫描器（示例）RXNFC元件（示例）TXNFC读取仪（示例）DIS显示器CPU处理单元I/O通信接口。具体实施方式下面更深入地参照附图阐述本专利技术。在此要注意的是，所说明的不同方面可分别单独地或者相互组合地加以应用。也就是说，每个方面均可结合本专利技术的不同实施方式来使用，只要没有明确地说明作为纯粹的替选方案。此外，下面为简便起见，通常仅借助一个实体。但只要没有明确附注，本专利技术也可分别具有更多个相关实体。就这方面而言，使用语词“一个”仅应被理解为是指，在一种简单的实施方式中使用至少一个实体。只要下面说到示例，示例的各个步骤即可以任意顺序来布置和/或组合，只要通过相关性并没有明确地得出一些差异。此外，所述程序-只要没有明确地另作标明-可相互之间进行组合。带有数值的说明通常并不应被理解为是确切值，而是还包含+/-1%直至+/-10%的公差。在附图中示出了一种测试系统1，所述测试系统1具有待测试设备G和测试设备T。所述待测试设备G在此首先是一种普遍的电气设备。所述待测试设备G具有存储器单元C、RX，储器单元包含有所述待测试设备G的测试标准数据，所述测试标准数据在此为待测试设备G实际的出厂数据标准，例如，是在交付给终端客户之前在产品控制时算出所述测试数据。除了实际的测试数据以外，还可通过所述存储器单元来提供更多的数据，例如同类设备的产品特定的数据（例如规格数据）、批号、操作说明的链接、订购号等等。所述测试数据构成了第一种数据集合，其中，所述测试设备T具有读取装置S、TX，读取装置无接触地读取所述待测试设备G的所述测量标准数据。所述测试设备T还具有连接插口B，连接插口用于提供所述测试设备连接到所述所要待测试设备G，以便执行测试。在测试中，所述测试设备T识别所述待测试设备G的待测量数据，将测得的待测量数据构成第二种数据集合。基于所述第一种数据集合和所述第二种数据集合，所述测试设备T就来评估，确定所述待测试设备G是否仍可使用或者出现故障。例如可由所述第一种数据集合中的数据与所述第二种数据集合中的对应数据之间的差异得出，是否已经超过预编程序的/读取的/预先调节的公差范围，因此确定所述待测试设备G是否仍可使用或者出现故障。这样一种公差范围，例如由结构类型来决定并且被包含在规格数据中，所述规格数据可被包含在所述第一种数据集合的数据之中，但或者也可由所述第一种数据集合的信息推导得出或者可检索。例如可在存储器单元内保存+/-5%的公差范围，并通过所述测试设备来读取。另一方面，也将可行的是，用户通过适合的输入装置、例如借助键盘的数字输入，但或者通过由本地或远程的数据库（例如借助产品和/或批号）的（自动化）查询能够查询这样一种公差范围。当然，这些不同的可行性也可相互结合。替选方案或补充方案是，也可提出一个或多个特定的最低要求。这些最低要求可同样被包含在第一种数据集合中或者可通过该数据集合推导得出。如果这些最低要求通过所述第二种数据集合得到满足，那么就可由此推出，所述待测试设备仍然可用或者出现故障。这样一种最低要求，例如由结构类型来决定并且被包含在规格数据中，所述规格数据可被包含在所述第一种数据集合的数据之中，但或者也可由所述第一种数据集合的信息推导得出或者可检索。例如，最大泄漏电流xuA、击穿电压的既定范围Vbr@Ir、动作电压范围Uagn将可作为最低要求被保存在存储器单元内并且可通过所述测试设备来读取。另一方面，也将可行的是，用户通过适合的输入装置、例如借助键盘的数字的输入，但或者通过由本地或远程的数据库（例如借助产品和/或批号）的（自动化）查询能够查询这样一种最低要求。这些最低要求例如包括气体放电管中（最小/最大）的动作电压（Uagn）、压敏电阻和TVS二极管中的1mA电压以及隔离元件的电阻值。当然，这些不同的可行性也可相互结合。因此，所述数值被固定（单独的）地针对所述待测试设备G被存放在存储器单元内。也就是说，设备特定数据以及包括产品数据的导入现可灵活化，并且可解决目前的与纯粹产品特定数据之间的固定不变的配属。因此，对于特定于产品的测试的替选方案或补充方案是，能够实现基于单个设备的测试。另外，在本专利技术的一种实施方式中规定，所述存储器单元C、RX另外包含用于测试设备所述连接插口B的电气配置数据。由此就能够实现建立自配置测试设备，所述测试设备基于所述数据例如打开特定的接口，从而这些接口在接通时与所述待测试的设备G的对应接口A相连接。另外，所述数据可额外地表明所述测试的类本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种测试系统（1），具有待测试设备（G）和测试设备（T），所述待测试设备（G）是电气设备，其特征在于，所述待测试设备（G）具有存储器单元（C，RX），存储器单元存有待测试设备（G）的测量标准数据，所述测量标准数据构成第一种数据集合；所述测试设备（T）具有读取装置（S，TX），读取装置无接触地读取所述待测试设备（G）的所述测量标准数据；所述测试设备（T）还具有测试连接插口（B），测试连接插口用于测试设备连接所述待测试设备（G），以便执行测试；所述测试设备（T）在测量时获取待测试设备（G）的待测量数据，并将获取的待测量数据构成第二种数据集合；所述测试设备（T）基于所述第一种数据集合和所述第二种数据集合评估所述被测试的设备（G）是否仍然可用还是出现故障。

【技术特征摘要】
2018.02.13 DE DE102018103212.91.一种测试系统（1），具有待测试设备（G）和测试设备（T），所述待测试设备（G）是电气设备，其特征在于，所述待测试设备（G）具有存储器单元（C，RX），存储器单元存有待测试设备（G）的测量标准数据，所述测量标准数据构成第一种数据集合；所述测试设备（T）具有读取装置（S，TX），读取装置无接触地读取所述待测试设备（G）的所述测量标准数据；所述测试设备（T）还具有测试连接插口（B），测试连接插口用于测试设备连接所述待测试设备（G），以便执行测试；所述测试设备（T）在测量时获取待测试设备（G）的待测量数据，并将获取的待测量数据构成第二种数据集合；所述测试设备（T）基于所述第一种数据集合和所述第二种数据集合评估所述被测试的设备（G）是否仍然可用还是出现故障。2.根据权利要求1所述的测试系统（1），其特征在于，所述存储器元件单元（C，RX）包含有用于所述连接插口（B）测试的电气配置数据。...

【专利技术属性】
技术研发人员：弗里德里希埃克哈德·布兰德，
申请(专利权)人：菲尼克斯电气公司，
类型：发明
国别省市：德国,DE