【技术实现步骤摘要】
粉体电导率测试装置
本专利技术涉及电导率测试设备，特别是涉及一种粉体电导率测试装置。
技术介绍
粉体是由小颗粒物质组成的集合体。通常粉体工程学研究的对象，是尺度界于10-9m到10-3m范围的颗粒。粉体电导率测试和标定对于判断粉体材料的性能非常重要，尤其在电池活性材料，粉体半导体材料，粉体导电材料等。在电池活性材料的电导率测定中，除了电子电导，离子电导也是重要的测试内容。而在电子电导和离子电导的测试过程中，温度的影响对其测试结果有着较大的影响。现有的粉体电导率测试仪器多数采用将粉体材料压片，并使用四探针方法测试，该方法测试的结果体现的是粉体或块体材料的表面电导性能，不能及时的体现材料的体相电导性能。且测试方法中温度和压力控制效果不佳，对测试结果影响较大。
技术实现思路
本专利技术的一个目的是要提供一种准确性高的粉体电导率测试装置。本专利技术一个进一步的目的是要保持测试环境的稳定。特别地，本专利技术提供了一种粉体电导率测试装置，其包括：恒温箱，限定出温度可调的恒温空间；粉体测试夹具，安装于恒温空间内，并具有用于承装被测粉体的测试腔；电导测试仪，通过导线连接粉体测试夹具，...
【技术保护点】
1.一种粉体电导率测试装置，其特征在于包括：恒温箱，其内限定出温度可调的恒温空间；粉体测试夹具，安装于所述恒温空间内，并具有用于承装被测粉体的测试腔；电导测试仪，通过导线连接所述粉体测试夹具，并用于向所述测试腔施加测试电信号，并根据测试结果计算所述被测粉体的电导率。
【技术特征摘要】
1.一种粉体电导率测试装置，其特征在于包括：恒温箱，其内限定出温度可调的恒温空间；粉体测试夹具，安装于所述恒温空间内，并具有用于承装被测粉体的测试腔；电导测试仪，通过导线连接所述粉体测试夹具，并用于向所述测试腔施加测试电信号，并根据测试结果计算所述被测粉体的电导率。2.根据权利要求1所述的测试装置，其特征在于所述粉体测试夹具包括：相对设置的上端夹具和下端夹具，并且所述下端夹具的中央具有凸出第一凸出部，所述上端夹具与所述第一凸出部相对的第二凸出部；绝缘内套管，套接于所述第一凸出部和所述第二凸出部的外缘，以使得在所述第一凸出部和所述第二凸出部之间形成所述测试腔；金属外套管，套接于所述绝缘内套管的外侧。3.根据权利要求2所述的测试装置，其特征在于还包括：位置调整机构，连接于所述上端夹具和所述下端夹具之间，用于调整所述测试腔的高度，使得所述被测粉体达到测试所需的压实密度。4.根据权利要求3所述的测试装置，其特征在于所述位置调整机构包括：多个螺丝绝缘套，分别设置于所述上端夹具开设的多个通孔中；多组精密螺丝，分别穿过所述螺丝绝缘套，与所述下端夹具上对应的精密螺孔向配合，以通过螺纹配合调整所述测试腔的高度；测距仪，用于测量所述上端夹具和所述下端夹具的间距，以确定所述测...
【专利技术属性】
技术研发人员：王其钰，张献英，郑杰允，禹习谦，李泓，
申请(专利权)人：中国科学院物理研究所，
类型：发明
国别省市：北京,11
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