基于QPM和BKC技术的光纤折射率与内应力测量装置制造方法及图纸

本发明专利技术涉及一种基于QPM和BKC技术的光纤折射率分布与内应力综合测量装置，属于光学检测领域。该装置包括：激光光源、激光准直器、反射镜、衰减器、起偏器、透镜组、载物台、匹配液池、高精度短线程线性移动平台、步进电机、物镜、补偿器、检偏器、分束器、目镜、CCD、计算机以及待测光纤。通过光路与器件的配合，所述测量装置采用QPM与BKC技术实现了在同一个平台上对光纤折射率及内应力分布的联合测量，测量简单、易操作。同时，所述测量装置的光纤无损测量，排除了截断光纤测量方法中由于切面不平均带来的测量误差。此外，该装置能够实现对所有光纤折射率和内应力分布的精确测量，为空分复用光纤及其他特种光纤的生产和使用提供了切实保障。

【技术实现步骤摘要】
基于QPM和BKC技术的光纤折射率与内应力测量装置
本专利技术涉及一种基于QPM和BKC技术的光纤折射率分布与内应力综合测量装置，属于光学检测领域。
技术介绍
随着高速信息时代的快速发展，普通单模光纤已逐渐无法满足光纤系统传输容量的需求。近年来，以多芯光纤、少模光纤等为主导的新型空分复用光纤及其他特种光纤由于其独特的纤芯排列方式和模场特性，成为解决光纤系统中传输容量受限以及非线性效应损伤等问题的良好光学元件。光纤性能的优劣取决于光纤本身的结构参数、折射率分布以及内应力分布。光纤参数的改变，将会导致光纤性能发生变化，严重的可能直接导致器件的损毁。因此，在光纤的生产和使用过程中，对于其折射率分布与内应力的测量就显得尤为重要。然而，空分复用光纤及其他特种光纤由于光纤内部结构特性与普通单模光纤不同，这就对光纤参数的测量系统提出了更高的要求。对于光纤折射率分布的测量，主要分为轴向和横向测量。轴向测量需将光纤进行切割，测量其端面的折射率分布。光纤折射率的轴向测量技术开始于1975年Ikeda等人提出的端面反射法，将一束光打向光纤端面，通过测量反射光束强度来重建横截面折射率分布【IkedaMasa本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种基于QPM与BKC技术的光纤折射率和内应力分布的综合测量装置，包括：激光光源(101)、激光准直器(102)、反射镜(201)、衰减器(202)、起偏器(203)、透镜组(205)、载物台(301)、匹配液池(302)、高精度短线程线性移动平台(303)、步进电机(304)、物镜(206)、补偿器(4)、检偏器(204)、分束器(207)、目镜(208)、CCD(5)、计算机(6)以及待测光纤(001)。

【技术特征摘要】
1.一种基于QPM与BKC技术的光纤折射率和内应力分布的综合测量装置，包括：激光光源(101)、激光准直器(102)、反射镜(201)、衰减器(202)、起偏器(203)、透镜组(205)、载物台(301)、匹配液池(302)、高精度短线程线性移动平台(303)、步进电机(304)、物镜(206)、补偿器(4)、检偏器(204)、分束器(207)、目镜(208)、CCD(5)、计算机(6)以及待测光纤(001)。2.根据权利要求1所述的一种基于QPM与BKC技术的光纤折射率和内应力分布的综合测量装置，其特征在于：所述激光光源(101)与激光准直器(102)连接，激光经反射镜(201)射入光路，依次经过衰减器(202)、透镜组(203)、载物台(301)、匹配液池(302)、待测光纤(001)、物镜(206)、补偿器(4)、检偏器(204)、分束器(207)、目镜(208)以及CCD(5)。3.根据权利要求1所述的一种基于QPM与BKC技术的光纤折射率和内应力分布的综合测量装置，其特征在于：所述衰减器(202)将激光光源能量衰减，以保护CCD(5)相机并延长其使用寿命。4.根据权利要求1所述的一种基于QPM与BKC技术的光纤折射率和内应力分布的综合测量装置，其特征在于：所述透镜组(205)将激光汇聚于匹配液池(302)内待测光纤(001)处。5.根据权利要求1所述的一种基于QPM与BKC技术的光纤折射率和内应...

【专利技术属性】
技术研发人员：裴丽，解宇恒，郑晶晶，王建帅，常彦彪，何倩，
申请(专利权)人：北京交通大学，
类型：发明
国别省市：北京,11