光电元件测试系统技术方案

本实用新型专利技术公开一种光电元件测试系统，光电元件测试系统包括系统背板、被测件安装板及直流测试板；系统背板设置有第一接口及第二接口，被测件安装板通过第一接口与系统背板连接，直流测试板通过第二接口与系统背板连接，第一接口与第二接口电性连接；被测件安装板上设置多个供待测光电元件插接的光电插座，多个光电插座分别与第一接口电性连接；直流测试板上设置有测试电路，测试电路用于对多个光电插座上的待测光电元件上电并进行逐个测试。本实用新型专利技术光电元件测试系统可实现对多个光电元件依次进行测试，提高了光电元件的测试效率。

Photoelectric Component Testing System

The utility model discloses a photoelectric component testing system, which comprises a backplane of the system, a mounting board of the measured part and a DC testing board; the backplane of the system is provided with a first interface and a second interface; the mounting board of the measured part is connected with the backplane of the system through a first interface; the DC testing board is connected with the backplane of the system through a second interface; and the first interface is electrically connected with the second interface. A plurality of photoelectric sockets for the photoelectric components to be tested are arranged on the mounting board of the tested part, and a plurality of photoelectric sockets are electrically connected with the first interface respectively. A test circuit is arranged on the DC test board, which is used to electrify and test the photoelectric components to be tested on a plurality of photoelectric sockets one by one. The photoelectric component testing system of the utility model can realize the sequential testing of multiple photoelectric components, thereby improving the testing efficiency of photoelectric components.

【技术实现步骤摘要】
光电元件测试系统
本技术涉及光电元件
，特别涉及一种光电元件测试系统。
技术介绍
光电元件用于实现光电转换作用，在使用前需要对其进行对应的性能测试，例如暗电流、响应度等，常规的测试方法是采用测试板对单个光电元件进行测试，测试完毕后，将光电元件从插座中拔出，并换上下一个待测的光电元件，采用这种方法测试多个光电元件时需要进行多次光电元件插拔的动作，增加了测试人员的工作量，工作效率低。
技术实现思路
本技术的主要目的是提供一种光电元件测试系统，旨在提高光电元件的测试效率。为实现上述目的，本技术提出的一种光电元件测试系统，该光电元件测试系统包括系统背板、被测件安装板及直流测试板；所述系统背板设置有第一接口及第二接口，所述被测件安装板通过所述第一接口与所述系统背板连接，所述直流测试板通过所述第二接口与所述系统背板连接，所述第一接口与所述第二接口电性连接；所述被测件安装板上设置多个供待测光电元件插接的光电插座，多个所述光电插座分别与所述第一接口电性连接；所述直流测试板上设置有测试电路，所述测试电路用于对多个所述光电插座上的待测光电元件上电并进行逐个测试。优选地，所述被测件安装板上还设置有第三接口，所述光电插座通过测试线与第三接口连接，所述第三接口与所述第一接口插接安装；所述直流测试板上还设置有第四接口，所述测试电路通过测试线与第四接口连接，所述第四接口与第二接口插接安装。优选地，所述直流测试板根据与所述光电元件的测试功能分为光接收测试板、光发射测试板；所述直流测试板上设有多组不同测试功能的测试电路。优选地，所述测试电路还用于在所述光电元件上电时，输出触发信号至一所述光电插座，并接收所述光电插座的反馈信号确定所述光电插座上安装有待测光电元件时，输出检测信号进行测试，当确定所述光电插座上未安装有待测光电元件时，执行检测另一光电插座的操作。优选地，所述光电插座有多个插孔，用于将光电元件的管脚对应插入光电插座特定的插孔中；所述测试电路根据所述光电元件的管脚识别所述光电元件的类型，并根据所述光电元件的类型运行与其匹配的测试电路进行逐个测试。优选地，所述测试电路还与上位机连接，所述测试电路在检测多个所述光电元件时将获取的各测试参数进行存储，并将所述测试参数反馈至所述上位机。优选地，所述光电元件测试系统还包括老化测试系统，所述老化测试系统与所述系统背板的第二接口连接以对多个所述光电元件进行老化测试。本技术技术方案通过将多个光电元件对应安装在被测件安装板的多个光电插座上，并通过测试线和系统背板与直流测试板连接，在直流测试板上设置测试电路，测试电路对每一光电元件依次进行性能测试直至最后一个所述光电元件，被测件安装板上可同时安装多个光电元件，测试电路可对多个光电元件进行逐一测试，从而不需要进行多次光电元件插拔的动作，并且避免了在不同的测试条件下需重复插拔光电元件造成的损坏，减少了测试人员的工作量，从而提高了测试效率。附图说明为了更清楚地说明本技术实施例或现有技术中的技术方案，下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本技术的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图示出的结构获得其他的附图。图1为本技术光电元件测试系统一实施例的结构示意图；图2为本技术光电元件测试系统一实施例中的测试电路的模块示意图；图3为本技术光电元件测试系统一实施例的结构示意图。本技术目的的实现、功能特点及优点将结合实施例，参照附图做进一步说明。具体实施方式下面将结合本技术实施例中的附图，对本技术实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本技术的一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本技术中的实施例，本领域普通技术人员在没有作出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本技术保护的范围。需要说明，在本技术中涉及“第一”、“第二”等的描述仅用于描述目的，而不能理解为指示或暗示其相对重要性或者隐含指明所指示的技术特征的数量。由此，限定有“第一”、“第二”的特征可以明示或者隐含地包括至少一个该特征。另外，各个实施例之间的技术方案可以相互结合，但是必须是以本领域普通技术人员能够实现为基础，当技术方案的结合出现相互矛盾或无法实现时应当认为这种技术方案的结合不存在，也不在本技术要求的保护范围之内。本技术提出一种光电元件测试系统，旨在提高光电元件的测试效率。如图1所示，图1为本技术光电元件测试系统一实施例的结构示意图，光电元件测试系统包括系统背板100、被测件安装板200及直流测试板300；所述系统背板100设置有第一接口110及第二接口120，所述被测件安装板200通过所述第一接口110与所述系统背板100连接，所述直流测试板300通过所述第二接口120与所述系统背板100连接，所述第一接口110与所述第二接口120电性连接；所述被测件安装板200上设置多个供待测光电元件插接的光电插座D1，多个所述光电插座D1分别与所述第一接口110电性连接；所述直流测试板上300设置有测试电路310，所述测试电路310用于对多个光电插座D1上的待测光电元件上电并进行逐个测试。本实施例中，被测件安装板200设有多个光电插座D1，每个光电插座D1设有多个插孔，光电元件的多个管脚分别插入光电插座D1特定的插孔中。本实施例中，光电元件为光电二极管，在另一实施例中，光电元件可焊接在小型PCB板上，并在外部设置外壳及光口以封装成光接收组件、光发射组件或者光收发一体组件，直流测试板300根据与被测光电元件的测试功能分为光接收测试板或者光发射测试板，当需要测试光电元件的光接收性能时，所述被测件安装板200通过所述第一接口110与所述系统背板100连接，所述直流测试板300是光接收测试板，通过所述第二接口120与所述系统背板100连接，所述第一接口110与所述第二接口120电性连接。同理，当需要测试待测光电元件的光发射性能时，所述直流测试板300是光发射测试板，拆下光接收测试板，将光发射测试板通过所述第二接口120与所述系统背板100连接。光电元件插接在光电插座D1上，光电插座D1的每一插孔通过一测试线与系统背板100的第一接口110连接，直流测试板300上的测试电路310通过测试线与系统背板100的第二接口120连接，第一接口110及第二接口120可为导轨式电源端口或者其他接口，同时第一接口110及第二接口120之间可通过测试线、电路铜箔引线或者插针连接，具体可根据实际情况进行设计。如图2所示，图2为本技术光电元件测试系统一实施例中的测试电路310的模块示意图，直流测试板300上设置有测试电路310，测试电路310包括控制单元311、多个测试子电路313及继电器312，控制单元311可为MCU，多个测试子电路313的信号输出端与继电器312的信号输入端连接，继电器312的信号输出端通过系统背板100与多个光电插座D1连接，继电器312的受控端、多个测试子电路313的受控端均与控制单元311的控制端连接，多个测试子电路313分别输出不同测试信号用于对光电元件进行性能测试，控制单元311本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种光电元件测试系统，其特征在于，包括系统背板、被测件安装板及直流测试板；所述系统背板设置有第一接口及第二接口，所述被测件安装板通过所述第一接口与所述系统背板连接，所述直流测试板通过所述第二接口与所述系统背板连接，所述第一接口与所述第二接口电性连接；所述被测件安装板上设置多个供待测光电元件插接的光电插座，多个所述光电插座分别与所述第一接口电性连接；所述直流测试板上设置有测试电路，所述测试电路用于对多个所述光电插座上的待测光电元件上电并进行逐个测试。

【技术特征摘要】
1.一种光电元件测试系统，其特征在于，包括系统背板、被测件安装板及直流测试板；所述系统背板设置有第一接口及第二接口，所述被测件安装板通过所述第一接口与所述系统背板连接，所述直流测试板通过所述第二接口与所述系统背板连接，所述第一接口与所述第二接口电性连接；所述被测件安装板上设置多个供待测光电元件插接的光电插座，多个所述光电插座分别与所述第一接口电性连接；所述直流测试板上设置有测试电路，所述测试电路用于对多个所述光电插座上的待测光电元件上电并进行逐个测试。2.如权利要求1所述的光电元件测试系统，其特征在于，所述被测件安装板上还设置有第三接口，所述光电插座通过测试线与第三接口连接，所述第三接口与所述第一接口插接安装；所述直流测试板上还设置有第四接口，所述测试电路通过测试线与第四接口连接，所述第四接口与第二接口插接安装。3.如权利要求1所述的光电元件测试系统，其特征在于，所述直流测试板根据与所述光电元件的测试功能分为光接收测试板、光发射测试板；所述直流测试板上设有多组不同测试功能的测试电路。...

【专利技术属性】
技术研发人员：庄礼杰，杨强，
申请(专利权)人：深圳市亚派光电器件有限公司，
类型：新型
国别省市：广东,44