能够执行与局部放电有关的自诊断的显示设备制造技术

一种显示设备可以包括：图像处理器，其被配置为处理图像信号并包括检测器，该检测器被配置为通过检测所检测到的局部放电的波形和以二进制数的形式测量该波形的参数中的每个而确定出一组参数；和控制器，其被配置为通过将所确定的组与先前存储的组进行比较来识别局部放电；以及显示单元，其被配置为显示图像信号。

【技术实现步骤摘要】
能够执行与局部放电有关的自诊断的显示设备
本公开涉及一种能够执行与局部放电有关的自诊断的显示设备。
技术介绍
通常，在显示设备中可能发生局部放电。也就是说，当高电场集中在显示设备的特定部分上时，在高电场集中的显示设备的特定部分处可能发生局部放电。例如，局部放电可以包括电晕放电、表面放电和空隙放电中的至少一个。显示设备可能由于局部放电而劣化。当重复地发生局部放电时，在显示设备中可能发生介电击穿。介电击穿可以是显示设备故障的原因。
技术实现思路
本公开涉及一种能够执行与局部放电有关的自诊断并防止其故障的显示设备。本公开的方面不限于此，并且本文未提及的本公开的额外方面和优点可以根据以下描述来理解并且根据本公开的实施例而将是显而易见的。此外，将显而易见的是，本公开的方面和优点可以借助于权利要求中限定的手段以及手段的组合来实施。为了解决上述问题，根据本公开的方面，显示设备包括：图像处理器，其被配置为处理图像信号；以及显示单元，其被配置为显示所处理的图像信号。图像处理器可以包括：检测器，其被配置为通过检测所检测到的局部放电的波形和以二进制数的形式测量该波形的参数中的每个参数来确定一组参数；以及控制器，其被配置为通过将所确定的组与先前存储的组进行比较来识别所检测到的局部放电。控制器可以包括算术单元，其被配置为通过对先前存储的组中的至少一个执行运算来更新先前存储的组。算术单元还可以被配置为执行以下中的至少一个：从先前存储的组当中选择至少一个第一组的选择操作；通过将先前存储的组当中的至少两个组的参数进行组合而生成第二组的交叉操作(crossoveroperation)；通过改变第一组或第二组的参数中的至少一个来生成第三组的变异操作(mutationoperation)；以及用第一组、第二组或第三组来替换先前存储的组中的一个的替换操作。参数可以包括以下中的至少一个：局部放电的相位、局部放电的量值、局部放电的发生频率、局部放电的最大量值、平均放电量、点火电压(firingvoltage)和熄灭电压(extinctionvoltage)。图像处理器还可以包括存储器，其中局部放电的识别信息被映射到先前存储的组中的每个组。识别信息可以包括以下中的至少一个：局部放电的原因、局部放电发生的位置和局部放电的风险程度。控制器还可以被配置为基于所检测到的局部放电的识别信息来诊断显示设备的状态。控制器可以基于所检测到的局部放电的识别信息来输出警报消息或使显示设备断电。检测器可以包括：第一阻抗元件，其被配置为在发生局部放电时减小输出阻抗；第一电容器，其中在第一阻抗元件的输出阻抗减小时发生介电击穿；第二电容器，其中在第一电容器中发生介电击穿时输出电压增大；第二阻抗元件，向其应用第二电容器的增大的输出电压；以及感测元件，其被配置为基于从第二阻抗元件输入的电压来感测所发生的局部放电。图像处理器还可以包括转换器，其被配置为以数字数据的形式将图像信号输出到显示单元。检测器可以检测转换器中发生的局部放电。附图说明通过参考附图详细地描述本公开的示例性实施例，本公开的上述以及其他目的、特征和优点对于本领域普通技术人员将变得更加显而易见，在附图中：图1是示出了根据本公开的实施例的显示设备的内部结构的框图；图2是示出了根据本公开的实施例的图像处理器的内部结构的框图；图3是图2的检测器的框图；图4是图3的传感器的电路图；图5和图6是示出了图2的存储器和控制器的示例的视图；以及图7是根据本公开的实施例的执行与局部放电有关的自诊断的过程的流程图，该过程由显示设备执行。具体实施方式在下文中，将在下面参考附图详细地描述本公开的示例性实施例。然而，本文阐述的技术不应被解释为局限于此，而应该被理解为涵盖各种修改、等同物和/或替代物。关于描述附图，相同的元件可以由相同的附图标记来表示。如本文所使用的，诸如“包括”、“可以包括”、“包含”和“可以包含”的术语指定所陈述的特征、值、功能和元件(例如，组件)的存在，但不排除一个或多个其他特征、值、功能和元件的存在或添加。诸如“第一”或“第二”的术语在本文中可以被用于描述各种元件而不管顺序和/或重要性如何，并且这些元件不应受这些术语的限制。这些术语仅被用于将一个元件与另一个元件区分开。图1是示出了根据本公开的实施例的显示设备100的内部结构的框图。参考图1，根据本公开的实施例的显示设备100可以显示从外部设备(未示出)接收到的图像信号。为此，显示设备100可以经由有线或无线而被连接到外部设备。显示设备100可以与外部设备对接(interface)并从外部设备接收图像信号。例如，外部设备可以包括断路器，并且显示设备100可以是液晶显示(LCD)设备。也就是说，显示设备100可以包括显示单元120和图像处理器110。显示单元120可以显示图像信号。例如，显示单元120可以包括LCD面板。图像处理器110可以控制显示设备100的整体操作。在这种情况下，图像处理器110可以控制显示单元120。此外，图像处理器110可以将从外部设备接收到的图像信号输出到显示单元120。这里，图像处理器110可以根据显示单元120的特征和尺寸来处理图像信号。在本公开的一个实施例中，图像处理器110可以识别其中发生的局部放电并执行自诊断。在这种情况下，图像处理器110可以响应于局部放电来控制显示设备100。图2是示出了根据本公开的实施例的图像处理器110的内部结构的框图。图3是图2的检测器的框图。图4是图3的传感器的电路图。图5和图6是示出了图2的存储器和控制器的示例的视图。参考图2，根据本公开的实施例的图像处理器200(或图1的图像处理器110)可以包括转换器210、检测器220、控制器230和存储器240。转换器210可以根据图1的显示单元120的特征和尺寸来转换图像信号。此外，转换器210可以将图像信号输出到显示单元120。在这种情况下，转换器210可以以数字数据的形式输出图像信号。为此，可以通过在基板上安装多个组件来形成转换器210。在一个实施例中，转换器210可以包括图像解码器、模数转换器(ADC)、缩放器和电源。图像解码器可以解码图像信号。ADC可以接收与图像信号对应的同步信号和RGB信号，并且基于同步信号将RGB信号从模拟信号转换为数字数据。缩放器可以缩放图像信号和RGB信号，并将缩放的图像信号和RGB信号输出到显示单元120。电源可以向显示单元120供电。在本公开的一个实施例中，在转换器210中可能发生局部放电。也就是说，当高电场集中在转换器210的特定部分时，在高电场集中的转换器210的特定部分处可能发生局部放电。在这种情况下，在各种位置处并且由于各种原因而可能发生局部放电。例如，局部放电可以包括电晕放电、表面放电和空隙放电中的至少一个。因此，发生了局部放电的转换器210的特定部分可能劣化。随着重复发生局部放电，在转换器210中可能发生介电击穿。介电击穿可以是显示设备100故障的原因。检测器220可以通过检测局部放电的波形来检测在转换器210中发生的局部放电。这里，检测器220可以以由多个比特组成的数据的形式来测量局部放电的波形。如图3中所示，检测器300(或图2的检测器220)可以包括传感器310、提取器320和测量器330。传感器31本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种能够执行与局部放电有关的自诊断的显示设备，所述显示设备包括：图像处理器，其被配置为处理图像信号；和显示单元，其被配置为显示所处理的图像信号，其中，所述图像处理器包括：检测器，其被配置为通过检测所检测到的局部放电的波形和以二进制数的形式测量所述波形的参数中的每个来确定一组参数；和控制器，其被配置为通过将所确定的组与先前存储的组进行比较来识别所检测到的局部放电。

【技术特征摘要】
2017.12.01 KR 10-2017-01642601.一种能够执行与局部放电有关的自诊断的显示设备，所述显示设备包括：图像处理器，其被配置为处理图像信号；和显示单元，其被配置为显示所处理的图像信号，其中，所述图像处理器包括：检测器，其被配置为通过检测所检测到的局部放电的波形和以二进制数的形式测量所述波形的参数中的每个来确定一组参数；和控制器，其被配置为通过将所确定的组与先前存储的组进行比较来识别所检测到的局部放电。2.根据权利要求1所述的显示设备，其中，所述控制器包括算术单元，其被配置为通过对所述先前存储的组中的至少一个执行运算来更新所述先前存储的组。3.根据权利要求2所述的显示设备，其中，所述算术单元还被配置为执行以下中的至少一个：从所述先前存储的组当中选择至少一个第一组的选择操作；通过将所述先前存储的组当中的至少两个组的参数进行组合而生成第二组的交叉操作；通过改变所述第一组或第二组的参数中的至少一个而生成第三组的变异操作；以及用所述第一组、第二组或第三组替换所述先前存储的组中的一个的替换操作。4.根据权利要求1所述的显示设备，其中，所述参数包括以下中的至少一个：所述局部放电的相位；所述局部放电的量值；所述局部放电的发生频率；所述局...

【专利技术属性】
技术研发人员：金炳哲，
申请(专利权)人：LS产电株式会社，
类型：发明
国别省市：韩国,KR