阵列基板、显示母板、阵列基板的制备方法及测试方法技术

本发明专利技术提供一种阵列基板、显示母板、阵列基板的制备方法及测试方法，属于显示技术领域。本发明专利技术的一种阵列基板，包括基板区和位于所述基板区的至少一侧的测试区；所述基板区设置有多条栅线；所述测试区设置有多个测试焊盘，所述测试焊盘与所述栅线直接电连接，所述测试焊盘用于向所连接的所述栅线输入测试信号；其中，不同的所述测试焊盘所连接的栅线不同。

【技术实现步骤摘要】
阵列基板、显示母板、阵列基板的制备方法及测试方法
本专利技术属于显示
，具体涉及一种阵列基板、显示母板、阵列基板的制备方法及测试方法。
技术介绍
显示基板的制备完成之后，需要利用测试装置对显示基板进行ET(ExternalTest)点灯测试，以确认显示基板是否正常显示，是否存在不良显示点。现有技术中，通常通过向显示基板的GOA单元输入ET测试信号，以控制显示基板上像素中薄膜晶体管的开关状态，从而控制各像素的充电状态，进而控制显示基板的点亮状态。专利技术人发现，现有的ET点灯测试只能实现全屏点灯，当显示面板出现亮点、显示异常等不良时，需要在显微镜下巡线确认不良点，不良点的具体位置的确定较为麻烦。
技术实现思路
本专利技术旨在至少解决现有技术中存在的技术问题之一，提供一种能够快速定位不良点的阵列基板。解决本专利技术技术问题所采用的技术方案是一种阵列基板，包括基板区和位于所述基板区的至少一侧的测试区；所述基板区设置有多条栅线；所述测试区设置有多个测试焊盘，所述测试焊盘与所述栅线直接电连接，所述测试焊盘用于向所连接的所述栅线输入测试信号；其中，不同的所述测试焊盘所连接的栅线不同。优选的，所本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种阵列基板，其特征在于，包括基板区和位于所述基板区的至少一侧的测试区；所述基板区设置有多条栅线；所述测试区设置有多个测试焊盘，所述测试焊盘与所述栅线直接电连接，所述测试焊盘用于向所连接的所述栅线输入测试信号；其中，不同的所述测试焊盘所连接的栅线不同。

【技术特征摘要】
1.一种阵列基板，其特征在于，包括基板区和位于所述基板区的至少一侧的测试区；所述基板区设置有多条栅线；所述测试区设置有多个测试焊盘，所述测试焊盘与所述栅线直接电连接，所述测试焊盘用于向所连接的所述栅线输入测试信号；其中，不同的所述测试焊盘所连接的栅线不同。2.根据权利要求1所述的阵列基板，其特征在于，还包括：设置在所述基板区的GOA驱动单元，所述GOA驱动单元位于所述栅线靠近所述测试焊盘的一侧；所述GOA驱动单元与所述栅线电连接，用于向所述栅线输入驱动信号。3.根据权利要求1所述的阵列基板，其特征在于，每个所述测试焊盘连接多条栅线。4.根据权利要求1所述的阵列基板，其特征在于，所述测试焊盘的材料包括导电金属。5.根据权利要求4所述的阵列基板，其特征在于，所述导电金属包括：铜、银、铝中的至少一者。6.根据权利要求1所述的阵列基板，其特征在于，还包括：阵列排布的多个像素单...

【专利技术属性】
技术研发人员：吴瀚，张晓萍，谢晓波，郑仰利，孙兴盼，楊党，王耀东，朱建国，郭宝磊，周震国，左伟龙，
申请(专利权)人：京东方科技集团股份有限公司，北京京东方光电科技有限公司，
类型：发明
国别省市：北京,11