一种光学天文望远镜杂散光均匀性实时检测方法技术

本发明专利技术提供一种杂散光均匀性实时检测方法，包括如下步骤：1）目标图像本底和平场的预处理；2)绘制直方图，以ADU大小和频率为自动判断依据进行星像扣除；3)绘制背景杂散光等高线图，计算杂散光均匀性等相关参数。本发明专利技术通过实时检测杂散光均匀性，提供CCD像面背景分布和统计数据，可以辅助较差测光中比较参考星的选择，提高测光精度。

【技术实现步骤摘要】
一种光学天文望远镜杂散光均匀性实时检测方法
本专利技术属于光学天文测量
，具体涉及一种光学天文望远镜杂散光均匀性实时检测方法。
技术介绍
现代光学天文望远镜朝着大口径、高精度的方向发展。测光观测数据的精度往往决定了分析结果的可信度。天文学家常用较差测光方法处理天文观测数据，计算光度恒定的比较星和临近目标星的星等差，可忽略观测时的大气条件差异，并得到目标星的亮度。对于时序测光，还可以得到目标星的亮度变化曲线。杂散光均匀性是影响光学天文望远镜星像信噪比的重要因素之一，会引起探测器像面背景强度的区域性差异，造成较差测光精度降低，主要来源于天空背景亮度的不一致，其原因通常有月光影响、亮星影响、城市灯光污染等。测光数据的实时处理是天文数据分析的发展方向之一，避免时间滞后性。以往的数据处理方法并未考虑天空背景不均匀对测光精度的影响，且该影响不能通过除平场的方法消除。背景杂散光分布无法通过调整对比度等方法进行有效检测。杂散光均匀性实时检测可以辅助较差测光中比较参考星的选择，减少背景亮度不同对较差测光精度的影响。
技术实现思路
为了解决上述问题，本专利技术提供一种光学天文望远镜杂散光均匀性实时检测本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种光学天文望远镜杂散光均匀性实时检测方法，其特征在于，所述方法在对目标图像本底和平场的预处理后，绘制直方图，并以ADU大小和频率为自动判断依据进行星像扣除，最后绘制背景杂散光等高线图，完成计算杂散光均匀性相关参数。

【技术特征摘要】
1.一种光学天文望远镜杂散光均匀性实时检测方法，其特征在于，所述方法在对目标图像本底和平场的预处理后，绘制直方图，并以ADU大小和频率为自动判断依据进行星像扣除，最后绘制背景杂散光等高线图，完成计算杂散光均匀性相关参数。2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述方法包括：S1、目标图像预处理：对望远镜拍摄目标星进行减本底和除平场处理，提高测光精度；S2、扣除星像影响：消除星像与背景亮度差值较大对等高线图的影响；S3、绘制背景杂散光等高线图，计算杂散光均匀性：辅助较差测光中比较参考星的选择，减少背景亮度不同对较差测光精度的影响，提高测光精度。3.根据权利要求2所述的方法，其特征在于，所述S3绘制背景杂散光等高线图包括：S31：划分图像区域；S32：给出图像上不同区域的杂散光统计数据。4.根据权利要求3所述的方法，其特征在于，所述S31划分图像区域的方法包括：方法一：将图像划分为四个象限；方法二：将图像划分为多个矩形。5.根据权利要求3所述的方法，其特征在于，所述S32中不同区域的杂散光统计数据包括杂散光的均匀性、平均值、能量百分比、和背景值上限，所述杂散光...

【专利技术属性】
技术研发人员：李陶然，田健峰，王建峰，兀颖，葛亮，张晓明，邱鹏，赵勇，李曼迪，曾显群，
申请(专利权)人：中国科学院国家天文台，
类型：发明
国别省市：北京,11