Electronic devices include on-chip systems (SoC) with at least one component, memory and processors functionally connected to SoC and memory. The processor is configured to apply a default voltage for driving at least one component at a specific frequency. The processor is also configured to determine whether data related to offset voltages corresponding to at least one component and a specific frequency is stored. The processor is also configured to apply an offset voltage different from the default voltage to at least one component when data related to the offset voltage is stored. Other embodiments are also possible.
【技术实现步骤摘要】
【国外来华专利技术】片上系统、包括该片上系统的电子装置及其驱动方法
本专利技术的实施方式涉及片上系统、包括该片上系统的电子装置以及用于驱动电子装置的方法。
技术介绍
随着电子装置(例如,移动装置、智能电话等)的性能得到显著发展,电子装置的数据处理速度也变得更快。然而,数据处理速度的增加可能经常导致电子装置中的功耗增加。因此,功耗的有效管理成为电子装置中的主要问题。片上系统(“SoC”,下文中也简称为“芯片”)是安装在电子装置中的模块之一。近来,为了通过根据电子装置的操作环境而改变施加至芯片的电压和操作频率来降低功耗,动态电压频率缩放(DVFS)技术被应用于SoC。
技术实现思路
技术问题为了提高制造产量,诸如SoC的模块可使用自适应电源电压(ASV)技术以通过测量芯片中的实际操作速度和功耗来控制供应至芯片的电压。制造芯片的供应商可允许芯片具有以比规范中限定的电压低的电压进行操作的裕度(margin),以确保属于相同ASV群组的芯片的操作速度。然而,当芯片实际应用于电子装置时,由于板本身的固有电压降(也称为板IR降)和电源管理集成电路(PMIC)变化,该裕度通常可能不同于制造芯片时所测量的结果。由于这种差异,安装在电子装置中的芯片可具有较大的电压裕度,这可能会抑制电子装置中的有效电源管理。或者,由于这种差异,安装在电子装置中的芯片可能不具有充足的电压裕度,这可能会导致电子装置的制造过程中的缺陷。技术方案根据本公开的各种实施方式,电子装置可包括具有至少一个部件的片上系统(SoC)、存储器以及功能性地连接至SoC和存储器的处理器。处理器可配置成施加用于以特定频率驱动至少一个部件的默认电 ...
【技术保护点】
1.电子装置,包括:片上系统(SoC),所述片上系统包括至少一个部件;存储器;以及处理器,所述处理器功能性地连接至所述SoC和所述存储器,其中,所述处理器配置成:施加用于以特定频率驱动所述至少一个部件的默认电压,确定是否存储有与对应于所述至少一个部件和所述特定频率的偏移电压有关的数据,以及当存储有与所述偏移电压有关的数据时,向所述至少一个部件施加与所述默认电压不同的所述偏移电压。
【技术特征摘要】
【国外来华专利技术】2016.11.16 KR 10-2016-01525831.电子装置,包括:片上系统(SoC),所述片上系统包括至少一个部件;存储器;以及处理器,所述处理器功能性地连接至所述SoC和所述存储器,其中,所述处理器配置成:施加用于以特定频率驱动所述至少一个部件的默认电压,确定是否存储有与对应于所述至少一个部件和所述特定频率的偏移电压有关的数据,以及当存储有与所述偏移电压有关的数据时,向所述至少一个部件施加与所述默认电压不同的所述偏移电压。2.根据权利要求1所述的电子装置,其中,当施加所述默认电压时,所述处理器还配置成:加载动态电压频率缩放(DVFS)表,以及通过在所述DVFS表中识别与所述至少一个部件和所述特定频率对应的默认电压来施加所述默认电压。3.根据权利要求1所述的电子装置,其中,所述至少一个部件包括中央处理单元(CPU)、内部(INT)存储器、存储器接口(MIF)存储器、图形处理单元(GPU)以及图像信号处理器(ISP)中的至少一个。4.根据权利要求2所述的电子装置,其中,所述处理器还配置成:当未存储有与所述偏移电压有关的数据时,通过使用硬件性能监视器(HPM)获取与所述偏移电压有关的数据,验证所获取的与所述偏移电压有关的数据,以及将所验证的与所述偏移电压有关的数据存储在偏移电压表中。5.根据权利要求4所述的电子装置,其中,在获取与所述偏移电压有关的数据时,所述处理器还配置成:获取与所述默认电压以及对应于所述至少一个部件和所述特定频率的HPM值有关的信息,以及获取与对应于所述默认电压和所述HPM值的偏移电压有关的数据。6.根据权利要求5所述的电子装置,其中,当获取与所述偏移电压有关的数据时,所述处理器还配置成:根据通过以预设比率降低所述默认电压而获取的经更新的默认电压来获取与所述偏移电压有关的数据。7.根据权利要求6所述的电子装置,其中,所述预设比率是由制造所述SoC的供应商设定的裕度值。8.根据权利要求6所述的电子装置,其中,在获取与所述偏移电压有关的数据时,所述处理器还配置成:将制造所述SoC的情况下的HPM值与所述SoC安装在所述电子装置中的情况下的HPM值进行比较,以及至少基于所比较的HPM值之间的差值来获取与所述...
【专利技术属性】
技术研发人员:金在哲,金珍奎,金东宇,金桢昊,郑载洙,河锺植,吴熙泰,俞赫善,李承荣,崔佑宁,韩在雄,许慢根,
申请(专利权)人:三星电子株式会社,
类型:发明
国别省市:韩国,KR
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