【技术实现步骤摘要】
离轴抛线型X射线平行弯晶谱仪装置
本专利技术涉及一种离轴抛物线型X射线平行弯晶谱仪装置，是一种可以减小X射线传输过程损失、使X射线平行并且衍射角度可控的X射线平行弯晶谱仪装置，该装置能对X射线进行诊断而提供X射线的能谱，适合于研究等离子体X射线光谱，根据光路可逆原理，该装置也可用于对宇宙射线的接收和分析研究。
技术介绍
X射线光谱测量是一种等离子体诊断方法，也是揭开宇宙X射线之谜的一种方法。在等离子体诊断中，测得X射线光谱的波长和强度之间的关系就可以推断出等离子体中某种元素是否存在，某种离化度离子是否存在和它存在的绝对数量，以及从谱线的线性得出发射原子的动力学温度和密度等非常丰富而重要的信息。从高温等离子体中辐射出的大量X射线光谱，不仅可用于测量电子的温度和密度、电子能量的时空分布、等离子体定向运动；还可用于测量和分析超热和逃逸电子、以及等离子体的不稳定性等。在空间天文学中，通过对X射线的测量，可以确定X射线源，从而探测宇宙中的天体。对X射线的分光分为光栅谱仪和晶体谱仪，光栅由于刻槽间距的限制，主要用于波长在2~30nm范围内的X射线的测量。对于波长小于2nm的X...
【技术保护点】
1.一种分辨率较高的离轴抛线型X射线平行弯晶谱仪装置，其特征在于： 整个装置由准直系统、光路调节系统、采集系统和真空腔组成；其中准直系统由抛物线分光晶体（1）、固定有抛物线分光晶体的抛物线型不锈钢基体（2）、狭缝（3）、电调五维调整架（4）（5）和对五维调整架（4）（5）进行调节的电机（6）（7）组成；光路调节系统主要由全反射镜（8），真空跳线（10）和对全反射镜进行调节的电调五维调整架（11）与电机（13）组成；采集系统由具有平直感光面的X射线相机CCD（9）和安装有电机（14）的电调五维调整架（12）组成；准直系统，调节系统和采集系统安装在真空腔（15）中；所述抛物线分...
【技术特征摘要】
1.一种分辨率较高的离轴抛线型X射线平行弯晶谱仪装置，其特征在于：整个装置由准直系统、光路调节系统、采集系统和真空腔组成；其中准直系统由抛物线分光晶体（1）、固定有抛物线分光晶体的抛物线型不锈钢基体（2）、狭缝（3）、电调五维调整架（4）（5）和对五维调整架（4）（5）进行调节的电机（6）（7）组成；光路调节系统主要由全反射镜（8），真空跳线（10）和对全反射镜进行调节的电调五维调整架（11）与电机（13）组成；采集系统由具有平直感光面的X射线相机CCD（9）和安装有电机（14）的电调五维调整架（12）组成；准直系统，调节系统和采集系统安装在真空腔（15）中；所述抛物线分光晶体（1）固定于不锈钢弯晶基体（2）的抛物面形刻槽中，不锈钢基体（2）固定在安装有电机（7）的电调五维调整架（5）上；所述X射线源出射的X射线经过抛物线焦点处的小孔（3）照射到抛物线分光晶体（1）上，焦点处的小孔（3）位于电调五维调整架（4）上且与抛物线弯晶的焦点重合；所述CCD探测器（9）位于电调五维调整架（12）上，通过调节可与抛物线分光晶体（1）正对；所述全反射镜（8）安放在电调五维调整架（11）上；所述真空跳线（10）固定在真空腔（15）的壁上；所述电调五维调整架（5）由电机（7）对其进行调节；所述电调五维调整架（4）由电机（6）对其进行调节；所述电调五维调整架（12）由电机（14）对其进行调节；所述电调五维调整架...
【专利技术属性】
技术研发人员：牛明生，韩培高，杨尚国，宋连科，张树东，
申请(专利权)人：曲阜师范大学，
类型：发明
国别省市：山东,37
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