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一种分辨率较高的离轴抛物线型X射线平行弯晶谱仪，包括准直系统、光路调节系统、采集系统和真空腔组成，整个系统中的调节可通过上下、左右、前后、俯仰和左右摆角进行五维调整，对X测量时遵循通过抛物线焦点的X射线经晶体衍射后与抛物线光轴平行的原理。其...
该专利属于曲阜师范大学所有，仅供学习研究参考，未经过曲阜师范大学授权不得商用。

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