【技术实现步骤摘要】
一种图像修复方法、图像修复系统及平板探测器
本专利技术涉及X射线探测器成像及图像修复领域，具体涉及一种图像修复方法、图像修复系统及平板探测器。
技术介绍
对于X射线平板探测器，在探测器进行生产组装的过程中，由于各种各样的原因，探测器在成像时不可避免地会产生缺陷像素，即坏像素，在成像时不能真实的反映出像素单元接受的辐射能量。缺陷像素是指对X射线强度不响应或响应不良的探测器单元。产生缺陷像素的主要原因有闪烁体层自身的缺陷、光电二极管和薄膜晶体管自身的缺陷、驱动电路本身的损坏或探测器板材拼接不良等。根据缺陷像素对X射线响应的不同，缺陷像素可以分为死像素、响应不足像素、响应过度像素和响应混乱像素四种。而根据缺陷像素在图像连通域中分布的不同，又可以分为三种：孤立点缺陷、团簇缺陷和坏线缺陷。这些缺陷像素在探测器成像时表现出不同的形态，既降低了探测器出厂时的良率，也会影响到对所拍摄物体真实情况的判断。当前，消除探测器缺陷像素的方法主要是两种方法：一是改善探测器生产流程和工艺，减少探测器缺陷像素的产生，但是此类方法的手段繁琐、复杂并且代价较高；另一类就是采用图像处理的方法，尽可能...
【技术保护点】
1.一种图像修复方法，其特征在于，包括如下步骤：获取第一图像；对所述第一图像进行连通域分析，提取所述第一图像中所有的缺陷像素；根据所述连通域的大小和形状将所述缺陷像素分为三类：孤立点缺陷、团簇缺陷及坏线缺陷；输出第二图像并根据所述缺陷像素的类型对所述第二图像进行修复。
【技术特征摘要】
1.一种图像修复方法，其特征在于，包括如下步骤：获取第一图像；对所述第一图像进行连通域分析，提取所述第一图像中所有的缺陷像素；根据所述连通域的大小和形状将所述缺陷像素分为三类：孤立点缺陷、团簇缺陷及坏线缺陷；输出第二图像并根据所述缺陷像素的类型对所述第二图像进行修复。2.根据权利要求1所述的图像修复方法，其特征在于，按照所述缺陷像素从小到大的顺序对所述第二图像依次进行孤立点缺陷修复、团簇缺陷修复及坏线缺陷修复。3.根据权利要求2所述的图像修复方法，其特征在于，采用邻域加权平均的方法进行所述孤立点缺陷修复，修复后的像素灰度如下式所示：其中，F为孤立点缺陷3×3像素邻域内的原图数据，N为孤立点缺陷3×3像素邻域区域，K为孤立点缺陷3×3像素邻域内正常像素点对应的加权平均系数。4.根据权利要求3所述的图像修复方法，其特征在于，所述加权平均数的来源包括：所述3×3像素邻域内所有正常像素点的灰度分布，计算出所述正常像素点的灰度梯度，其中梯度值大的所述正常像素点对应的加权系数比例高，梯度值较小的所述正常像素点对应的加权系数相应较小；所述3×3像素邻域内所有正常像素点的位置分布，计算出所述正常像素点到所述孤立缺陷点的距离，距离小的所述正常像素点的加权系数比例高，距离较大的所述正常像素点对应的加权系数相应较小。5.根据权利要求2所述的图像修复方法，其特征在于，采用水平集和模板匹配相结合的方法对所述团簇缺陷进行修复，其中，所述水平集方法确定所述团簇缺陷的坏点的修复顺序；所述模板匹配方法对需要修复的当前坏点进行修复。6.根据权利要求5所述的图像修复方法，其特征在于，确定所述团簇缺陷的坏点的修复顺序包括以下步骤：提取所述团簇缺陷并确定所述团簇缺陷的缺陷边界，初始化缺陷标记F和到达时间T，标记出所述缺陷边界的正常像素点、边缘点及缺陷点；确定所述缺陷边界的所述边缘点中T值最小的所述边缘点；确定T值最小的所述边缘点3×3像素邻域内的坏点，T值最小的所述边缘点的所述3×3像素邻域内的坏点即为需要修复的所述当前坏点。7.根据权利要求6所述的图像修复方法，其特征在于，对所述当前坏点进行修复包括以下步骤：以所述当前坏点为中心选取目标模板；以所述当前坏点为中心选取搜索区域；在所述搜索区域内依次选取与目标模板同等大小的搜索模板，计算所述目标模板与所述搜索模板的相似性，并对计算结果进行存储；搜索...
【专利技术属性】
技术研发人员：翟永立，张楠，方志强，
申请(专利权)人：上海奕瑞光电子科技股份有限公司，
类型：发明
国别省市：上海,31
还没有人留言评论。发表了对其他浏览者有用的留言会获得科技券。