一种盖革模式三维激光成像焦平面阵列探测器成像性能测试系统技术方案

本发明专利技术属于光电探测技术领域，具体涉及一种盖革模式三维激光成像焦平面阵列探测器成像性能测试系统。该系统采用窄脉冲半导体激光器光源，相比于外场成像试验用的大功率固体激光器，其体积小，功率低，成本低，输出光功率可调，是实现目标极微弱光照射的非常理想的激光光源；采用暗箱隔绝箱体外环境的杂散光，使进行单光子成像探测的准确性得到保证；通过调节窄脉冲半导体激光器的激光输出延迟和调节探测器与标靶距离，可实现室内模拟远距离目标的成像探测；通过调节错位标靶中两标靶之间的距离，可实现探测器的极限距离分辨率成像探测。本发明专利技术无需外场，在室内即可完成盖革模式三维激光成像焦平面阵列探测器成像性能的测试。

A Testing System for Imaging Performance of Geiger Mode Three-dimensional Laser Imaging Focal Plane Array Detector

The invention belongs to the field of photoelectric detection technology, in particular to a Geiger mode three-dimensional laser imaging focal plane array detector imaging performance testing system. Compared with the high-power solid-state laser used in the field imaging test, the system uses narrow-pulse laser source, which is small in size, low in power, low in cost and adjustable in output light power. It is an ideal laser source to realize the very weak illumination of the target. It uses dark box to isolate the stray light of the external environment of the box, so that the accuracy of single-photon imaging detection can be guaranteed. By adjusting the laser output delay of narrow pulse semiconductor lasers and the distance between detector and target, the imaging detection of indoor simulated long-range targets can be realized. By adjusting the distance between two target targets in staggered target, the imaging detection of the detector's ultimate range resolution can be realized. The invention can complete the imaging performance test of Geiger mode three-dimensional laser imaging focal plane array detector in indoor without external field.

【技术实现步骤摘要】
一种盖革模式三维激光成像焦平面阵列探测器成像性能测试系统
本专利技术属于光电探测
，具体涉及一种盖革模式三维激光成像焦平面阵列探测器成像性能测试系统。
技术介绍
盖革模式三维激光成像焦平面阵列探测器，指的是可以实现非扫描激光三维成像的盖革APD光电器件。它具有极高的光子探测效率、空间和距离分辨率，可实现单光子成像探测，可用于态势感知、避免碰撞、自适应巡航控制、监控、禁区事件警报、目标识别、昼夜雨雾成像、航空起飞和着陆、月球和行星的危险回避升降、自动交会对接空间、空中加油、地形测绘、自主导航、智能路口监控、无人地面车辆、无人空中系统和车辆、机器视觉、危险物质检测和处理、水下三维成像等。随着新材料、新器件的发展，器件规模不断增大，在器件的研发生产过程中，需要建立相应的盖革模式三维激光成像焦平面阵列探测器成像性能测试系统。
技术实现思路
(一)要解决的技术问题本专利技术提出一种盖革模式三维激光成像焦平面阵列探测器成像性能测试系统，以解决如何简便地对探测器进行测试的技术问题。(二)技术方案为了解决上述技术问题，本专利技术提出一种盖革模式三维激光成像焦平面阵列探测器成像性能测试系统，该测试系本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种盖革模式三维激光成像焦平面阵列探测器成像性能测试系统，其特征在于，所述测试系统包括光学平台、光学镜头组、待测探测器、错位标靶、暗箱和控制机柜；其中，所述光学镜头组由激光发射光学镜头和接收光学镜头组成，并且通过光学镜头组固定支架安装在所述光学平台上；所述激光发射光学镜头用于对由所述控制机柜中的激光器产生的激光进行匀化扩束整形，实现对所述错位标靶的激光照射；所述接收光学镜头用于接收由所述错位标靶反射回来的激光回波信号，并聚焦成像到所述待测探测器的光敏面上；所述待测探测器为盖革模式三维激光成像焦平面阵列探测器，通过待测探测器固定支架安装在所述光学平台上，并且通过三维电动平移台实现与所述接收光...

【技术特征摘要】
1.一种盖革模式三维激光成像焦平面阵列探测器成像性能测试系统，其特征在于，所述测试系统包括光学平台、光学镜头组、待测探测器、错位标靶、暗箱和控制机柜；其中，所述光学镜头组由激光发射光学镜头和接收光学镜头组成，并且通过光学镜头组固定支架安装在所述光学平台上；所述激光发射光学镜头用于对由所述控制机柜中的激光器产生的激光进行匀化扩束整形，实现对所述错位标靶的激光照射；所述接收光学镜头用于接收由所述错位标靶反射回来的激光回波信号，并聚焦成像到所述待测探测器的光敏面上；所述待测探测器为盖革模式三维激光成像焦平面阵列探测器，通过待测探测器固定支架安装在所述光学平台上，并且通过三维电动平移台实现与所述接收光学镜头对接；所述待测探测器通过不同像元记录所述标靶不同区域的激光回波信号的达到时间；所述错位标靶由两个相互错位的标靶组成，安装在所述光学平台上，两个标靶位于所述光学镜头组的前方，标靶之间的距离可调；所述错位标靶经激光照射后，产生反射的激光回波信号；所述暗箱安装在所述光学平台上，并且所述光学镜头组、探测器和错位标靶均位于所述暗箱的内部；所述控制机柜包括程控电源模块、控制计算机、数字信号发生器、数字信...

【专利技术属性】
技术研发人员：孔繁林，柯尊贵，周小燕，钱煜，袁鎏，郝昕，邓世杰，梁晨宇，袁菲，黄海华，路小龙，
申请(专利权)人：西南技术物理研究所，
类型：发明
国别省市：四川,51