像素电路的检测方法、显示面板的驱动方法和显示装置制造方法及图纸

一种像素电路的检测方法、显示面板的驱动方法和显示装置。该像素电路包括驱动晶体管，该像素电路的检测方法包括：在第一充电周期中，向驱动晶体管的栅极施加第一数据电压，在施加第一数据电压后的第一时长，在驱动晶体管的第一极获取第一感测电压，并判断第一感测电压是否等于参考感测电压。参考感测电压是在参考充电周期获得的，在参考充电周期中，在向驱动晶体管的栅极施加参考数据电压后的第一时长且在驱动晶体管截止之前，在驱动晶体管的第一极获取参考感测电压，并且第一数据电压等于参考数据电压。该检测方法可以在开机状态实现像素电路的阈值特性的检测，进而提升阈值补偿效果和亮度均匀性。

Detection Method of Pixel Circuit, Driving Method of Display Panel and Display Device

The invention relates to a detection method of a pixel circuit, a driving method of a display panel and a display device. The pixel circuit includes a driving transistor. The detection method of the pixel circuit includes: applying the first data voltage to the gate of the driving transistor in the first charging cycle, obtaining the first sensing voltage at the first pole of the driving transistor after applying the first data voltage, and determining whether the first sensing voltage is equal to the reference sensing voltage. The reference sensing voltage is obtained during the reference charging period. During the reference charging period, the reference sensing voltage is obtained at the first pole of the driving transistor after the reference data voltage is applied to the gate of the driving transistor and before the driving transistor is cut off, and the first data voltage is equal to the reference data voltage. The detection method can detect the threshold characteristics of the pixel circuit in the boot state, and then improve the threshold compensation effect and brightness uniformity.

【技术实现步骤摘要】
像素电路的检测方法、显示面板的驱动方法和显示装置
本公开的实施例涉及一种像素电路的检测方法、显示面板的驱动方法和显示装置。
技术介绍
有机发光二极管(OrganicLightEmittingDiode，OLED)显示面板由于具有视角宽、对比度高、响应速度快以及相比于无机发光显示器件的更高的发光亮度、更低的驱动电压等优势而逐渐受到人们的广泛关注。由于上述特点，有机发光二极管(OLED)显示面板可以适用于手机、显示器、笔记本电脑、数码相机、仪器仪表等具有显示功能的装置。
技术实现思路
本公开的至少一个实施例提供了一种像素电路的检测方法，所述像素电路包括驱动晶体管，所述方法包括：在第一充电周期中，向所述驱动晶体管的栅极施加第一数据电压，在施加所述第一数据电压后的第一时长且在所述驱动晶体管截止之前，在所述驱动晶体管的第一极获取第一感测电压，并判断所述第一感测电压是否等于参考感测电压。所述参考感测电压是在参考充电周期获得的，在所述参考充电周期中，在向所述驱动晶体管的栅极施加参考数据电压后的所述第一时长且在所述驱动晶体管截止之前，在所述驱动晶体管的第一极获取所述参考感测电压，并且所述第一数据电压等于所述参考数据电压。例如，在本公开的至少一个实施例提供的像素电路的检测方法中，在所述第一感测电压不等于所述参考感测电压的情况下，在第二充电周期中，向所述驱动晶体管的栅极施加第二数据电压，在施加所述第二数据电压后的所述第一时长，在所述驱动晶体管的第一极获取第二感测电压。选择所述第二数据电压以使得所述第二感测电压与所述参考感测电压之间的差值小于所述第一感测电压与所述参考感测电压之间的差值。例如，在本公开的至少一个实施例提供的像素电路的检测方法中，在所述第一感测电压小于所述参考感测电压的情况下，使得所述第二数据电压大于所述第一数据电压的取值；在所述第一感测电压大于所述参考感测电压的情况下，使得所述第二数据电压小于所述第一数据电压的取值。例如，在本公开的至少一个实施例提供的像素电路的检测方法中，在所述第二感测电压仍然不等于所述参考感测电压的情况下，则重复进行所述第二充电周期，直至所述第二感测电压等于所述参考感测电压。例如，在本公开的至少一个实施例提供的像素电路的检测方法中，所述参考充电周期位于关机状态，所述第一充电周期位于所述参考充电周期之后再次的开机期间；或者，所述参考充电周期位于开机状态，所述第一充电周期位于所述参考充电期间之后的开机期间。例如，在本公开的至少一个实施例提供的像素电路的检测方法中，所述第一充电周期和/或所述第二充电周期位于显示周期之间。例如，在本公开的至少一个实施例提供的像素电路的检测方法中，所述方法还包括获取所述驱动晶体管的参考阈值电压。如果所述第一感测电压等于所述参考感测电压，则基于所述参考阈值电压、所述第一数据电压和所述参考数据电压获取所述驱动晶体管的当前阈值电压，所述驱动晶体管的当前阈值电压等于所述参考阈值电压加上所述第一数据电压与所述参考数据电压的差值。例如，在本公开的至少一个实施例提供的像素电路的检测方法中，所述方法还包括获取所述驱动晶体管的参考阈值电压。如果所述第二感测电压等于所述参考感测电压，则基于所述参考阈值电压、所述第二数据电压和所述参考数据电压获取所述驱动晶体管的当前阈值电压，所述驱动晶体管的当前阈值电压等于所述参考阈值电压加上所述第二数据电压与所述参考数据电压的差值。例如，在本公开的至少一个实施例提供的像素电路的检测方法中，获取所述像素电路的参考阈值电压包括：在关机状态的关机充电周期中，向所述驱动晶体管的栅极施加关机数据电压且在所述驱动晶体管截止之后，在所述驱动晶体管的第一极获取关机感测电压；所述驱动晶体管的参考阈值电压等于所述关机数据电压与所述关机感测电压的差值。例如，在本公开的至少一个实施例提供的像素电路的检测方法中，所述关机充电周期与所述参考充电周期相同，且所述关机数据电压与所述参考数据电压相等。本公开的至少一个实施例还提供了一种显示面板的驱动方法，所述显示面板包括像素电路，所述驱动方法包括：对所述像素电路执行权利要求1-10任意一项所述的检测方法，以用于获得所述像素电路的驱动晶体管的当前阈值电压。例如，在本公开的至少一个实施例提供的显示面板的驱动方法中，所述驱动方法还包括：根据所获得的当前阈值电压建立所述像素电路的补偿量。本公开的至少一个实施例又提供了一种显示装置，该显示装置包括像素电路和控制电路，所述像素电路包括驱动晶体管。所述控制电路配置为执行如下的检测方法：在第一充电周期中，向所述驱动晶体管的栅极施加第一数据电压，在施加所述第一数据电压后的所述第一时长，在所述驱动晶体管的第一极获取第一感测电压，并判断所述第一感测电压是否等于参考感测电压，所述参考感测电压是在参考充电周期获得的，在所述参考充电周期中，在向所述驱动晶体管的栅极施加参考数据电压后的第一时长且在所述驱动晶体管截止之前，在所述驱动晶体管的第一极获取所述参考感测电压，并且所述第一数据电压等于所述参考数据电压。例如，在本公开的至少一个实施例提供的显示装置中，所述显示装置还包括数据驱动电路和检测电路。所述数据驱动电路配置为可发出所述第一数据电压和所述参考数据电压，所述像素电路还配置为接收所述第一数据电压和所述参考数据电压并将所述第一数据电压和所述参考数据电压施加至所述驱动晶体管的栅极；所述检测电路配置为从所述驱动晶体管的第一极读取所述第一感测电压和参考感测电压；所述控制电路还配置为控制所述数据驱动电路和所述检测电路。例如，在本公开的至少一个实施例提供的显示装置中，所述像素电路还包括发光元件和感测开关晶体管，所述驱动晶体管的第二极和第一极配置为分别连接至第一电源电压端以及所述发光元件的第一极，所述发光元件的第二极连接到第二电源电压端，所述感测开关晶体管的第一极与所述驱动晶体管的第一极电连接，且所述感测开关晶体管的第二极与所述检测电路电连接。例如，在本公开的至少一个实施例提供的显示装置中，所述像素电路还包括感测线，所述感测线将所述述感测开关晶体管的第二极与所述检测电路电连接。例如，在本公开的至少一个实施例提供的显示装置中，所述像素电路还包括数据写入晶体管与存储电容，所述数据写入晶体管配置为从所述数据驱动电路获取数据信号，向所述驱动晶体管的栅极写入所述数据信号，所述存储电容存储所述数据信号。例如，在本公开的至少一个实施例提供的显示装置中，所述控制电路包括处理器和存储器，所述存储器包括可执行代码，所述处理器运行所述可执行代码以执行所述检测方法。附图说明为了更清楚地说明本公开实施例的技术方案，下面将对实施例的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅涉及本公开的一些实施例，而非对本公开的限制。图1A是一种像素电路的示意图；图1B是另一种像素电路的示意图；图1C是再一种像素电路的示意图；图1D是一种感测电压随时间变化的曲线图；图2A是实施例一提供的第一充电周期中感测电压随时间变化的曲线图；图2B是实施例一提供的参考充电周期中感测电压随时间变化的曲线图；图2C是实施例一提供的第一充电周期和参考充电周期中感测电压随时间变化的曲线图；图2D是实施例一提供的一种第一充电周期、参考充电周期和第二充电周期中感测电压随时间变化的本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种像素电路的检测方法，所述像素电路包括驱动晶体管，所述方法包括：在第一充电周期中，向所述驱动晶体管的栅极施加第一数据电压，在施加所述第一数据电压后的第一时长且在所述驱动晶体管截止之前，在所述驱动晶体管的第一极获取第一感测电压，并判断所述第一感测电压是否等于参考感测电压，其中，所述参考感测电压是在参考充电周期获得的，在所述参考充电周期中，在向所述驱动晶体管的栅极施加参考数据电压后的所述第一时长且在所述驱动晶体管截止之前，在所述驱动晶体管的第一极获取所述参考感测电压，并且所述第一数据电压等于所述参考数据电压。

【技术特征摘要】
1.一种像素电路的检测方法，所述像素电路包括驱动晶体管，所述方法包括：在第一充电周期中，向所述驱动晶体管的栅极施加第一数据电压，在施加所述第一数据电压后的第一时长且在所述驱动晶体管截止之前，在所述驱动晶体管的第一极获取第一感测电压，并判断所述第一感测电压是否等于参考感测电压，其中，所述参考感测电压是在参考充电周期获得的，在所述参考充电周期中，在向所述驱动晶体管的栅极施加参考数据电压后的所述第一时长且在所述驱动晶体管截止之前，在所述驱动晶体管的第一极获取所述参考感测电压，并且所述第一数据电压等于所述参考数据电压。2.根据权利要求1所述的检测方法，其中，在所述第一感测电压不等于所述参考感测电压的情况下，在第二充电周期中，向所述驱动晶体管的栅极施加第二数据电压，在施加所述第二数据电压后的所述第一时长，在所述驱动晶体管的第一极获取第二感测电压，其中，选择所述第二数据电压以使得所述第二感测电压与所述参考感测电压之间的差值小于所述第一感测电压与所述参考感测电压之间的差值。3.根据权利要求2所述的检测方法，其中，在所述第一感测电压小于所述参考感测电压的情况下，使得所述第二数据电压大于所述第一数据电压的取值；以及在所述第一感测电压大于所述参考感测电压的情况下，使得所述第二数据电压小于所述第一数据电压的取值。4.根据权利要求2所述的检测方法，其中，在所述第二感测电压仍然不等于所述参考感测电压的情况下，则重复进行所述第二充电周期，直至所述第二感测电压等于所述参考感测电压。5.根据权利要求2-4任一所述的检测方法，其中，所述参考充电周期位于关机状态，所述第一充电周期位于所述参考充电周期之后再次的开机期间；或者，所述参考充电周期位于开机状态，所述第一充电周期位于所述参考充电期间之后的开机期间。6.根据权利要求2所述的检测方法，其中，所述第一充电周期和/或所述第二充电周期位于显示周期之间。7.根据权利要求1所述的检测方法，还包括：获取所述驱动晶体管的参考阈值电压；如果所述第一感测电压等于所述参考感测电压，则基于所述参考阈值电压、所述第一数据电压和所述参考数据电压获取所述驱动晶体管的当前阈值电压，其中，所述驱动晶体管的当前阈值电压等于所述参考阈值电压加上所述第一数据电压与所述参考数据电压的差值。8.根据权利要求2-4任一所述的检测方法，还包括：获取所述驱动晶体管的参考阈值电压；如果所述第二感测电压等于所述参考感测电压，则基于所述参考阈值电压、所述第二数据电压和所述参考数据电压获取所述驱动晶体管的当前阈值电压，其中，所述驱动晶体管的当前阈值电压等于所述参考阈值电压加上所述第二数据电压与所述参考数据电压的差值。9.根据权利要求2所述的检测方法，其中，获取所述驱动晶体管的参考阈值电压包括：在关机状态的关机充电周期中，向所述驱动晶体管的栅...

【专利技术属性】
技术研发人员：宋丹娜，林奕呈，徐攀，吴仲远，
申请(专利权)人：京东方科技集团股份有限公司，
类型：发明
国别省市：北京,11