具有自检功能的实时时钟芯片系统及其检测方法技术方案

本发明专利技术提供了一种具有自检功能的实时时钟芯片系统及其检测方法。所述具有自检功能的实时时钟芯片系统包括实时时钟芯片、电池电路、晶振电路和中央处理器，中央处理器具有检测模块，检测模块用于检测实时时钟芯片系统的状态，中央处理器与实时时钟芯片通过通信数据总线通信连接，实时时钟芯片分别与电池电路和晶振电路电连接。采用本发明专利技术技术方案，可以快速准确且全面地检测实时时钟芯片及其电路的故障，检测效率高，检测成本低，一次性检测即可快速准确地对实时时钟芯片通信、电池电路、晶振电路、实时时钟芯片是否存在异常进行检测，提高实时时钟芯片系统检测的全面性和检测的工作效率，进一步提高对电子产品硬件电路板的检测效率。

Real-time clock chip system with self-checking function and its detection method

The invention provides a real-time clock chip system with self-checking function and a detection method thereof. The real-time clock chip system with self-checking function includes real-time clock chip, battery circuit, crystal oscillator circuit and central processing unit. The central processing unit has detection module, which is used to detect the state of the real-time clock chip system. The central processing unit and the real-time clock chip are connected by communication data bus. The real-time clock chip is connected with battery circuit and crystal oscillator respectively. Circuit electrical connection. By adopting the technical scheme of the invention, the faults of the real-time clock chip and its circuit can be detected quickly, accurately and comprehensively, the detection efficiency is high and the detection cost is low. One-time detection can quickly and accurately detect the abnormalities of the real-time clock chip communication, battery circuit, crystal oscillator circuit and real-time clock chip, and improve the comprehensiveness and detection of the real-time clock chip system detection. Work efficiency, further improve the detection efficiency of electronic products hardware circuit board.

【技术实现步骤摘要】
具有自检功能的实时时钟芯片系统及其检测方法
本专利技术属于电子元器件及其检测
，具体涉及一种具有自检功能的实时时钟芯片系统及其检测方法。
技术介绍
目前，电子产品正朝数字化和智能化方向迈进，电子产品硬件电路板在生产组装、出厂检测和产品维护检修时，需要对硬件电路板中的各个器件或电路进行逐个检测和排查。其中，实时时钟芯片(RealTimeClock，RTC)及其电路作为硬件电路板中的重要组成之一，在调试或检修时，也需要对其进行检测。常规对实时时钟芯片及其电路进行检测的方法，通常采用硬件电路测试，在电路板中增加测试点，通过仪表手动测试其电性能指标，以判断是否其合格；或者采用软件进行测试，读取或设置RTC时间，如果设置或读取正确，即判断为正常；以上检测方式存在测试效率低，需要增加硬件仪器成本，检测费用高，测试不够全面(没有对RTC时钟计时功能进行测试)的缺点。因此，为解决以上问题，本专利技术公开了一种具有自检功能的实时时钟芯片系统及其检测方法，在电子产品生产组装、出厂检测和维护检修时，可以快速准确地对实时时钟芯片及其电路进行全面检测，提高检测工作效率，节省检测成本。
技术实现思路
本专利技术的实施例提供一种具有自检功能的实时时钟芯片系统及其检测方法，以解决现有检测方式所存在的问题，以快速准确地对实时时钟芯片及其电路进行全面检测，提高检测工作效率，节省检测成本。为达到上述目的，本专利技术的实施例提供了一种具有自检功能的实时时钟芯片系统，包括：实时时钟芯片、电池电路和晶振电路，其特征在于，所述实时时钟芯片系统还包括中央处理器，所述中央处理器具有检测模块，所述检测模块用于检测实时时钟芯片系统的状态，所述中央处理器与实时时钟芯片通过通信数据总线通信连接，所述实时时钟芯片分别与电池电路和晶振电路电连接。进一步地，所述实时时钟芯片系统的状态包括：中央处理器与实时时钟芯片通信是否正常、和/或电池电路是否正常、和/或晶振电路是否正常、和/或实时时钟芯片系统是否正常的状态。进一步地，所述检测模块包括：特征值写入模块，用于在实时时钟芯片系统上电时将特征值写入到实时时钟芯片的数据寄存器中；特征值读取模块，用于读取实时时钟芯片数据寄存器中的特征值；时间采集模块，用于每间隔一单位时间采集一实时时钟芯片时间；检测结果生成模块，用于根据所读取的特征值和/或所采集的实时时钟芯片时间，生成用于表征实时时钟芯片系统状态的检测结果。进一步地，所述单位时间为0.000001～100秒；优选地，所述单位时间为为1秒。进一步地，所述检测结果生成模块包括：第一检测结果生成单元，用于根据对特征值是否能够正常读取的判断，是则生成用于表征中央处理器与实时时钟芯片通信正常的检测结果；否则生成用于表征中央处理器与实时时钟芯片通信异常的检测结果；第二检测结果生成单元，用于根据对所读取到的特征值是否正确的判断，是则生成用于表征电池电路正常的检测结果；否则生成用于表征电池电路异常的检测结果；第三检测结果生成单元，用于根据对一段时间内所采集的实时时钟芯片时间是否为连续递增的判断，是则生成用于表征晶振电路和实时时钟芯片正常的检测结果；否则生成用于表征晶振电路和/或实时时钟芯片异常的检测结果。进一步地，所述第三检测结果生成单元中的一段时间为至少1秒。优选地，所述第三检测结果生成单元中的一段时间为至少5秒。可选地，所述第三检测结果生成单元中的一段时间为5秒。进一步地，所述检测结果生成模块还包括：第四检测结果生成单元，用于根据如果第一检测结果生成单元、第二检测结果生成单元和第三检测结果生成单元均生成正常的检测结果时，则生成用于表征实时时钟芯片系统正常的检测结果；如果第一检测结果生成单元、第二检测结果生成单元和第三检测结果生成单元中任一检测结果生成单元生成异常的检测结果时，则生成用于表征实时时钟芯片系统异常的检测结果。可选地，该实时时钟芯片系统还包括：报警模块，用于若生成中央处理器与实时时钟芯片通信异常、和/或电池电路异常、和/或晶振电路异常、和/或实时时钟芯片异常、和/或实时时钟芯片系统异常的检测结果时，则进行报警提示。根据本专利技术的另一方面，本专利技术的实施例还提供一种实时时钟芯片系统检测方法，包括：实时时钟芯片系统上电，将特征值写入到实时时钟芯片的数据寄存器中；实时时钟芯片系统重新上电，读取实时时钟芯片的数据寄存器中的特征值；判断是否能够正常读取特征值，是则生成用于表征中央处理器与实时时钟芯片通信正常的检测结果；否则生成用于表征中央处理器与实时时钟芯片通信异常的检测结果；判断读取到的特征值是否正确，是则生成用于表征电池电路正常的检测结果；否则生成用于表征电池电路异常的检测结果；每间隔一单位时间采集一实时时钟芯片时间；判断一段时间内所采集的实时时钟芯片时间是否为连续递增，是则生成用于表征晶振电路和实时时钟芯片正常的检测结果；否则生成用于表征晶振电路和/或实时时钟芯片异常的检测结果。进一步地，所述单位时间为0.000001～100秒。优选地，所述单位时间为为1秒。进一步地，所述一段时间为至少1秒。优选地，所述一段时间为至少5秒。可选地，所述一段时间为5秒。本专利技术实施例提供的具有自检功能的实时时钟芯片系统及其检测方法，有益效果为：解决了常规检测对实时时钟芯片及其电路检测不全面的问题；解决了常规检测不能准确定位故障的问题；解决了常规检测效率低及成本高的问题；本专利技术方案可以快速准确且全面地检测实时时钟芯片及其电路的故障，检测效率高，检测成本低，一次性检测即可快速准确地对实时时钟芯片通信、电池电路、晶振电路、实时时钟芯片是否存在异常进行检测，并且可具体检测系统各部分，提高实时时钟芯片系统检测的全面性和检测的工作效率，进一步提高对电子产品硬件电路板的检测效率。附图说明为了更清楚地说明本专利技术实施例或现有技术中的技术方案，下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍。显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本专利技术的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些图获得其他的附图。图1为本专利技术的实施例一的具有自检功能的实时时钟芯片系统的结构框图；图2为本专利技术的实施例二的具有自检功能的实时时钟芯片系统的结构框图；图3为本专利技术的实施例三的具有自检功能的实时时钟芯片系统的结构框图；图4为本专利技术的实施例四的实时时钟芯片系统检测方法的步骤流程图。具体实施方式下面结合附图(若干附图中相同的标号表示相同的元素)对本专利技术实施例的具有自检功能的实时时钟芯片系统及其检测方法进行详细描述。实施例一图1为本专利技术实施例一的具有自检功能的实时时钟芯片系统的结构框图。如图1所示，该具有自检功能的实时时钟芯片系统，包括实时时钟芯片1、电池电路2、晶振电路3和中央处理器4，所述中央处理器4具有检测模块41，所述检测模块41用于检测实时时钟芯片系统的状态，所述中央处理器4与实时时钟芯片1通过通信数据总线通信连接，所述实时时钟芯片1分别与电池电路2和晶振电路3电连接。进一步地，所述实时时钟芯片系统的状态包括：中央处理器4与实时时钟芯片1通信是否正常、和/或电池电路2是否正常、和/或晶振电路3是否正常、和/或实时时钟芯片系统是否正常的状态。进一步地，所述检测模块41包括：特征值写入模块411，用于在本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.具有自检功能的实时时钟芯片系统，包括实时时钟芯片、电池电路和晶振电路，其特征在于，所述实时时钟芯片系统还包括中央处理器，所述中央处理器具有检测模块，所述检测模块用于检测实时时钟芯片系统的状态，所述中央处理器与实时时钟芯片通过通信数据总线通信连接，所述实时时钟芯片分别与电池电路和晶振电路电连接。

【技术特征摘要】
1.具有自检功能的实时时钟芯片系统，包括实时时钟芯片、电池电路和晶振电路，其特征在于，所述实时时钟芯片系统还包括中央处理器，所述中央处理器具有检测模块，所述检测模块用于检测实时时钟芯片系统的状态，所述中央处理器与实时时钟芯片通过通信数据总线通信连接，所述实时时钟芯片分别与电池电路和晶振电路电连接。2.根据权利要求1所述的实时时钟芯片系统，其特征在于，所述实时时钟芯片系统的状态包括：中央处理器与实时时钟芯片通信是否正常、和/或电池电路是否正常、和/或晶振电路是否正常、和/或实时时钟芯片系统是否正常的状态。3.根据权利要求1所述的实时时钟芯片系统，其特征在于，所述检测模块包括：特征值写入模块，用于在实时时钟芯片系统上电时将特征值写入到实时时钟芯片的数据寄存器中；特征值读取模块，用于读取实时时钟芯片数据寄存器中的特征值；时间采集模块，用于每间隔一单位时间采集一实时时钟芯片时间；检测结果生成模块，用于根据所读取的特征值和/或所采集的实时时钟芯片时间，生成用于表征实时时钟芯片系统状态的检测结果。4.根据权利要求3所述的实时时钟芯片系统，其特征在于，所述单位时间为0.000001～100秒。5.根据权利要求3所述的实时时钟芯片系统，其特征在于，所述检测结果生成模块包括：第一检测结果生成单元，用于根据对特征值是否能够正常读取的判断，是则生成用于表征中央处理器与实时时钟芯片通信正常的检测结果；否则生成用于表征中央处理器与实时时钟芯片通信异常的检测结果；第二检测结果生成单元，用于根据对所读取到的特征值是否正确的判断，是则生成用于表征电池电路正常的检测结果；否则生成用于表征电池电路异常的检测结果；第三检测结果生成单元，用于根据对一段时间内所采集的实时时钟芯片时间是否为连...

【专利技术属性】
技术研发人员：孙巍巍，
申请(专利权)人：天津市中力神盾电子科技有限公司，
类型：发明
国别省市：天津,12