The utility model discloses an integrated circuit testing device, which comprises a fixed plate and two clamping mechanisms symmetrically fixed at the upper end of the fixed plate. The clamping mechanism comprises two clamping plates. The upper end of the two clamping plates is rotated and connected with the same rotating shaft through a ball bearing, the shaft wall of the rotating shaft is fixed and connected with a turning plate, and the upper end surface of the turning plate is symmetrically fixed and connected with two outward extension. The upper end of the clamping plate is provided with a groove, the side wall of the vertical side of the groove is vertically fixed with a telescopic rod, the one end of the telescopic rod far from the inner wall of the groove is fixed with a movable rod, the upper end of the movable rod is fixed with a triangular chuck corresponding to the chuck, and the inner wall of the groove is fixed with the rod wall of the movable rod sleeved with a telescopic rod. The outer tension spring, the lower side of one end of the turning plate away from the rotary shaft, is fixedly connected with the pressure plate through a plurality of buffer mechanisms. The utility model can facilitate the disassembly and assembly of integrated circuit boards and the inspection and testing work.
【技术实现步骤摘要】
集成电路测试装置
本技术涉及集成电路测试
,尤其涉及集成电路测试装置。
技术介绍
市场上集成电路竞争非常激烈,大部份国内外芯片制造厂都具备各种集成电路的制造能力,从目前的趋势来看,测试是影响价格的关键因素之一。在兼顾测试可靠性的前提下,如何提高测试效率并降低测试成本,是一个非常重要的问题。在进行集成电路测试的时候需要将集成电路板进行固定以便进行测试工作,目前对于集成电路板的限位固定较为不便,且硬性固定容易造成对集成电路板的损坏,不便于人们的使用。
技术实现思路
本技术的目的是为了解决现有技术中对于集成电路板的限位固定较为不便,且硬性固定容易造成对集成电路板的损坏,不便于人们的使用的问题,而提出的集成电路测试装置。为了实现上述目的,本技术采用了如下技术方案:集成电路测试装置,包括固定板,所述固定板的上端对称固定连接有两个卡合机构,所述卡合机构包括两个对称设置的且与固定板上端固定连接的卡板,两个所述卡板的上端相对一侧通过滚珠轴承转动连接有同一根转轴,所述转轴的轴壁固定连接有翻板,所述翻板的上端表面对称固定连接有两个向外延伸的限位板,所述限位板的表面开设有卡口,所述卡板的上端开设有凹槽,所述凹槽竖直一侧的侧壁垂直固定连接有伸缩杆,所述伸缩杆远离凹槽内侧壁的一端固定连接有移动杆,所述移动杆的上端固定连接有与卡口对应的三角卡头,所述凹槽的内壁与移动杆的杆壁之间固定连接有套设于伸缩杆外的拉力弹簧,所述翻板远离转轴的一端下侧通过多个缓冲机构固定连接有压板。优选的,所述缓冲机构包括两根与翻板下端铰接,且呈八字形分布的缓冲杆,两根所述缓冲杆之间连接有同一个复位弹簧,所述缓冲杆 ...
【技术保护点】
1.集成电路测试装置,包括固定板(1),其特征在于,所述固定板(1)的上端对称固定连接有两个卡合机构,所述卡合机构包括两个对称设置的且与固定板(1)上端固定连接的卡板(2),两个所述卡板(2)的上端相对一侧通过滚珠轴承转动连接有同一根转轴,所述转轴的轴壁固定连接有翻板(3),所述翻板(3)的上端表面对称固定连接有两个向外延伸的限位板(4),所述限位板(4)的表面开设有卡口(5),所述卡板(2)的上端开设有凹槽(6),所述凹槽(6)竖直一侧的侧壁垂直固定连接有伸缩杆(7),所述伸缩杆(7)远离凹槽(6)内侧壁的一端固定连接有移动杆(8),所述移动杆(8)的上端固定连接有与卡口(5)对应的三角卡头(9),所述凹槽(6)的内壁与移动杆(8)的杆壁之间固定连接有套设于伸缩杆(7)外的拉力弹簧(10),所述翻板(3)远离转轴的一端下侧通过多个缓冲机构固定连接有压板(11)。
【技术特征摘要】
1.集成电路测试装置,包括固定板(1),其特征在于,所述固定板(1)的上端对称固定连接有两个卡合机构,所述卡合机构包括两个对称设置的且与固定板(1)上端固定连接的卡板(2),两个所述卡板(2)的上端相对一侧通过滚珠轴承转动连接有同一根转轴,所述转轴的轴壁固定连接有翻板(3),所述翻板(3)的上端表面对称固定连接有两个向外延伸的限位板(4),所述限位板(4)的表面开设有卡口(5),所述卡板(2)的上端开设有凹槽(6),所述凹槽(6)竖直一侧的侧壁垂直固定连接有伸缩杆(7),所述伸缩杆(7)远离凹槽(6)内侧壁的一端固定连接有移动杆(8),所述移动杆(8)的上端固定连接有与卡口(5)对应的三角卡头(9),所述凹槽(6)的内壁与移动杆(8)的杆壁之间固定连接有套设于伸缩杆(7)外的拉力弹簧(10),所述翻板(3)远离转轴的一端下侧通过多个缓冲机构固定连接有压板(11)。2.根据权利要求1所述的集成电路测试装置,其特征在于,所述缓冲机构包括两根与...
【专利技术属性】
技术研发人员:刘丰,吕方艳,梁晓梅,刘应明,
申请(专利权)人:广州泽慧自动化设备有限公司,
类型:新型
国别省市:广东,44
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