一种图像暗场校正方法和系统技术方案

技术编号:20945604 阅读:154 留言:0更新日期:2019-04-24 02:51
本申请实施例公开了一种图像暗场校正方法和系统。所述图像暗场校正方法包括:监测探测器的实时温度,采集不同实时温度下所述探测器的暗场模板,并基于采集到的暗场模板维护一存储队列;所述存储队列用于存储采集到的暗场模板;监测采集目标图像时探测器的温度;基于采集目标图像时刻探测器的温度从所述存储队列中获取相应的暗场模板;基于所述相应的暗场模板对目标图像进行校正。本申请提供的暗场校正方法,可以实时采集暗场模板并对采集的目标图像进行校正,既不影响用户体验,又可确保图像校正的质量。

A Method and System for Image Dark Field Correction

The embodiment of this application discloses an image dark field correction method and system. The image dark field correction method includes: monitoring the real-time temperature of the detector, collecting the dark field template of the detector at different real-time temperatures, and maintaining a storage queue based on the collected dark field template; the storage queue is used to store the collected dark field template; monitoring the temperature of the detector when collecting the target image; and the temperature of the detector based on the time of collecting the target image. The corresponding dark field template is acquired in the storage queue, and the target image is corrected based on the corresponding dark field template. The darkfield correction method provided in this application can collect the darkfield template in real time and correct the collected target image, which not only does not affect the user experience, but also ensures the quality of image correction.

【技术实现步骤摘要】
一种图像暗场校正方法和系统
本申请涉及图像处理领域,特别涉及一种图像暗场校正的方法和系统。
技术介绍
在X射线成像系统中,X射线能量转换成电信号是通过平板探测器来实现的,由于平板探测器的结构较为复杂以及制造工艺方面的限制,平板探测器输出的原始图像会存在较多瑕疵,直接影响了最终成像的质量,因此有必要对平板探测器输出的图像进行校正。平板探测器的图像校正分为暗场校正、亮场校正以及坏点校正。其中,暗场校正所需的暗场模板在平板探测器处于不同温度时会有差异,图像采集过程中应使用对应温度下的暗场模板进行校正。目前通常采用实时暗场的机制来实现。具体的,可以分为两种:第一种,在一次图像采集开始前,采集一张或多张暗场图像作为本次图像采集的暗场模板;第二种,一次结束后采集一张或多张暗场图像作为下一次图像采集的暗场模板。然而,对于第一种,在一次图像采集开始前采集多张暗场图像会导致本次采集出图时间延长,影响用户体验;对于第二种,暗场模板的采集条件可能与下一次图像采集的采集条件不是完全符合,导致暗场校正效果不理想。因此,如何提高暗场校正的效率,提高校正后的图像的质量,以使得其符合实际的需求,成为目前亟待解决的问本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种图像暗场校正方法,其特征在于,包括:监测探测器的实时温度,采集不同实时温度下所述探测器的暗场模板,并基于采集到的暗场模板维护一存储队列;所述存储队列用于存储采集到的暗场模板;监测采集目标图像时探测器的温度;基于采集目标图像时刻探测器的温度从所述存储队列中获取相应的暗场模板;基于所述相应的暗场模板对目标图像进行校正。

【技术特征摘要】
1.一种图像暗场校正方法,其特征在于,包括:监测探测器的实时温度,采集不同实时温度下所述探测器的暗场模板,并基于采集到的暗场模板维护一存储队列;所述存储队列用于存储采集到的暗场模板;监测采集目标图像时探测器的温度;基于采集目标图像时刻探测器的温度从所述存储队列中获取相应的暗场模板;基于所述相应的暗场模板对目标图像进行校正。2.如权利要求1所述的图像暗场校正方法,其特征在于,所述基于采集到的暗场模板维护一存储队列包括:监测探测器的实时温度;查询所述存储队列中所述实时温度下暗场模板的存储状态;基于所述存储状态确定是否基于所述实时温度下的暗场模板更新所述存储队列。3.如权利要求2所述的图像暗场校正方法,其特征在于,所述基于采集到的暗场模板维护一存储队列还包括:响应于所述实时温度下的暗场模板不存在于所述存储队列中,将所述实时温度下的暗场模板存储于所述存储队列中。4.如权利要求1或2所述的图像暗场校正方法,其特征在于,所述存储队列为循环队列;不同温度下暗场模板存储于循环队列的不同节点中,所述节点的数量为N,N为大于0的整数。5.如权利要求4所述的图像暗场校正方法,其特征在于,所述基于采集到的暗场模板维护一存储队列还包括:当所述实时温度超出所述循环队列中暗场模板对应的温度范围时,则用所述实时温度下的暗场模板替换循环队列中已有的暗场模板。6.如权利要求5所述的图像暗场校正方法,其特征在于,用所述实时温度下的暗场模板替换循环队列中已有的暗场模板是基于替换规则的,其中,所述替换规则包括:响应于所述实时温度大于所述温度范围的最大值,则用所述实时温度下的暗场模板替换循环队列中所述温度范围最小值对应的暗场模板;或者,响应于所述实时温度小于所述温度范围的最小值,则用所述实时温度下的暗场模板替换循环队列中所述温度范围的最大值对应的暗场模板。7.如权利要求5所述的图像暗场校正方法,其特征在于,用所述实时温度下的暗场模板替换循环队列中已有的暗场模板是基于替换规则的,其中,所述替换规则包括:响应于所述实时温度大于所述温度范围的最大值,则用所述实时温度下的暗场模板替换循环队列中第(T-Tmax)/a节点的暗场模板,其中,T为所述实时温度,Tmax为所述温度范围中的最大值,a为温度间隔;或者,响应于所述实时温度小于所述温度范围的最大值,则用所述实时温度下的暗场模板替换循环队列中第(N+1)-(Tmin-T)/a节点的暗场模板,其中,T为所述实时温度,Tmin为所述温度范围中的最小值,a为温度间隔。8.如权利要求1所述的图像暗场校正方法,其特征在于,还包括:当探测器进行目标图像采集时,中止采集暗场模板。9.如权利要求1所述的图像暗场校正方法,其特征在于,还包括:在所述存储队列中未查询到采集目标图像时刻探测器的温度对应的暗场模板时,基于所述存储队列中邻近该温度的其他温度对应的暗场模板对所述目标图像进行校正。10.如权利要求1所述的图像暗场校正方法,其特征在于,还包括:在所述存储队列中未查询到采集目标图像时刻探测器的温度对应的暗场模板时,基于所述存储队列中其他温度的暗场模板通过插值或拟合获取该温度对应的暗场模板,并利用插值或拟合获得的暗场模板对所述目标图像进行校正。11.如权利要求1所述的图像暗场校正方法,其特征在于,还包括:在所述存储队列中未查询到采集目标图像时刻探测器的温度对应的暗场模板时,从其他存储区域中获取该温度的历史暗场模板对所述目标图像进行校正。12.一种图像暗场校正系统,其特征在于,包括:暗场模板收集模块,用于监测探测器的实时温度,采集不同实时温度下所述探测器的暗场模板,并基于采集到的暗场模板维护一存储队列;所述存储队列用于存储采集到的暗场模板;目标图像采集时温度检测模块,用于监测采集目标图像时所述探测器的温度;暗场模板获取模块,用于基于采集目标图像时刻探测器的温度从所述存储队列中获取相应的暗场模板;以及目标图像校正模块,用于基于所述相应的暗场模板对目标图像进行校正。13.如权利要求12所述的图像暗场校正系统,其特征在于,所述暗场模板收集模块进一步用于:监测探测器的实时温度;查询所述存储队列中所述实时温度下暗场模板的存储状态;基于所述存储状态确定是否基于所述实时温度下的暗场模板更新所述存储队列。14.如权利要求13所述的图像暗场校正系统,其特征在于,所述暗场模板收集模块进一步用于:响应于所述实时温度下的暗场模板不存在于所述存储队列中,将所述实时温度下的暗场模板存储于所述存储队列中。15.如权利要求12或13所述的图像暗场校正系统,其特征在于,所述存储队列为循环队列;不同温度下暗场模板存储于循环队列的不同节点中,所述节点的数量为N,N为大于0的整数。16.如权利要求15所述的图像暗场校正系统,其特征在于,所述暗场模板收集模块进一步用于:当所述实时温度超出所述循环队列中暗场模板对应的温度范围时,则用所述实时温度下的暗场模板替换循环队列中已有的暗场模板。17.如权利要求16所述的图像暗场校正系统,其特征在于,所述暗场模板收集模块进一步用于基于替换规则用所述实时温度下的暗场模板替换循环队列中已有的暗场模板,其中,所述替换规则包括:响应于所述实时温度大于所述温度范围的最大值,则用所述实时温度下的暗场模板替换循环队列中所述温度范围最小值对应的暗场模板;或者响应于所述实时温度小于所述温度范围的最小值,则用所述实时温度下的暗场模板替换循环队列中所述温度范围的最大值对应的暗场模板。18.如权利要求17所述的图像暗场校正系统,其特征在于,所述暗场模板收集模块进一步用于基于替换规则用所述实时温度下的暗场模板替换循环队列中已有的暗场模板,其中,所述替换规则包括:响应于所述实时温度大于所述温度范围的最大值,则用所述实时温度下的暗场模板替换循环队列中第(T-Tmax)/a节点的暗场模板,其中,T为所述实时温度,Tmax为所述温度范围中的最大值,a为温度间隔;或者,响应于所述实时温度小于所述温度范围的最大值,则用所述实时温度下的暗场模板替换循环队列中第(N+1)-(Tmin-T)/a节点的暗场模板,其中,T为所述实时温度,Tmin为所述温度范围中的最小值,a为温度间隔。19.如权利要求12所述的图像暗场校正系统,其特征在于,还包括:采集切换模块,用于当探测器进行目标图像采集时,中止采集暗场模板。20.如权利要求12所述的图像暗场校正系统,其特征在于,所述目标图像校正模块进一步用于:在所述存储队列中未查询到采集目标图像时刻探测器的温度对应的暗场模板时,基于所述存储队列中邻近该温度的其他温度对应的暗场模板对所述目标图像进行校正。21.如权利要求12...

【专利技术属性】
技术研发人员:鄂永崔凯韩业成滕万里
申请(专利权)人:上海联影医疗科技有限公司
类型:发明
国别省市:上海,31

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