一种嵌入式系统上电掉电自动化测试系统技术方案

本发明专利技术涉及一种上电掉电自动化测试系统，其中，包括：上位机、嵌入式系统以及待测系统；上位机配置通道号、通道号相对启动零点的绝对时间或相对于上一指令的相对时间以及该通道的电压值参数，进行各通道的上电电压配置，嵌入式系统，用于提供上位机指定数值的电压；上位机将所要进行的测试活动，以通道号、上电时间、电压值、循环次数指令进行描述，生成配置格式的文件，通过文件解析程序，将配置文件进行解析，进行测试。本发明专利技术的上电掉电自动化测试系统具有低成本自动化、时序准确可控、可反复重复实验的优点。

An Automatic Test System for Power-on and Power-off in Embedded System

The invention relates to an automatic test system for power-on and power-off, which includes a host computer, an embedded system and a system to be tested; the host computer configures the absolute time of the channel number, the relative starting zero of the channel number or the relative time of the channel number relative to the previous instruction, and the voltage value parameters of the channel to configure the power-on voltage of each channel; the embedded system is used to provide the upper computer finger. The upper computer describes the test activities to be carried out with the channel number, power-on time, voltage value and cycle number instructions, generates the configuration file, and parses the configuration file through the file parsing program for testing. The automatic test system for power-off of the invention has the advantages of low cost automation, accurate and controllable timing and repeatable experiments.

【技术实现步骤摘要】
一种嵌入式系统上电掉电自动化测试系统
本专利技术涉及一种嵌入式系统设备的测试系统，尤其是一种用于嵌入式系统上电和掉电测试的自动化方法。
技术介绍
目前，在嵌入式系统的测试中，上电与掉电测试被用来作为一种简单有效的测试系统可靠性的常用方法，然而由于嵌入式系统中设备繁多，往往造成多个设备上电、掉电需要多人手工配合，不仅浪费人力，还容易造成上电时序不精确，影响测试结果的情况发生。此外，单纯依靠人力进行上电和掉电工作，难以反复进行多次实验，因此自动化的上电掉电测试方法对于嵌入式系统的测试至关重要。
技术实现思路
本专利技术的目的在于提供一种上电掉电自动化测试系统，用于解决嵌入式系统中上电、掉电测试困难的问题。本专利技术一种上电掉电自动化测试系统，其中，包括：上位机、嵌入式系统以及待测系统；上位机配置通道号、通道号相对启动零点的绝对时间或相对于上一指令的相对时间以及该通道的电压值参数，进行各通道的上电电压配置，嵌入式系统，用于提供上位机指定数值的电压；上位机将所要进行的测试活动，以通道号、上电时间、电压值、循环次数指令进行描述，生成配置格式的文件，通过文件解析程序，将配置文件进行解析，进行测试。根据本专利技术的上电掉电自动化测试系统的一实施例，其中，嵌入式系统包括：ARM处理器；Flash用于程序的烧写；以及D/A接口芯片，用于提供指定数值的电压。根据本专利技术的上电掉电自动化测试系统的一实施例，其中，嵌入式系统还包括显示屏用于显示当前供电的指令。根据本专利技术的上电掉电自动化测试系统的一实施例，其中，上位机调用D/A接口芯片的可执行程序，将可执行程序下载到智能上电掉电设备的flash中，进行测试。根据本专利技术的上电掉电自动化测试系统的一实施例，其中，上位机中电压值配置为0表示掉电，上位机能够配置循环的次数。根据本专利技术的上电掉电自动化测试系统的一实施例，其中，上位机具有图形化配置界面。本专利技术的上电掉电自动化测试系统具有低成本自动化、时序准确可控、可反复重复实验的特点。附图说明图1所示为上电掉电自动化测试系统的模块图；图2所示为图形化啊配置界面的主要配置项示意图；图3所示为只能上掉电测试设备结构组成图；图4所示为上掉电自动化测试系统的使用流程图。具体实施方式为使本专利技术的目的、内容、和优点更加清楚，下面结合附图和实施例，对本专利技术的具体实施方式作进一步详细描述。图1所示为上电掉电自动化测试系统的模块图，如图1所示，本专利技术中的上电掉电自动化测试系统由图形化配置界面和智能上电掉电测试设备组成，图形化配置界面运行在PC机上，是一个图形化应用程序。智能上电掉电测试设备是嵌入式系统，它可以为待测系统提供电源。图2所示为图形化啊配置界面的主要配置项示意图，图2，图形化配置界面，可以通过配置通道号，该通道号相对启动零点的绝对时间或相对于上一指令的相对时间，以及该通道的电压值等参数，进行各通道的上电电压配置，电压值配置为0表示掉电，并且可以配置循环的次数。图3所示为只能上掉电测试设备结构组成图，如图3所示，智能上电掉电测试设备是一个嵌入式系统，其主处理器是ARM处理器，包括一块Flash用于程序的烧写，以及D/A接口芯片，用于提供指定数值的电压，以及一块显示屏用于显示当前供电的指令，再有就是一个重置按钮，用于重新开始一轮测试。图4所示为上掉电自动化测试系统的使用流程图，如图4，上电掉电自动化测试系统的使用流程首先是通过图形化配置界面，将所要进行的测试活动，以通道号、上电时间、电压值、循环次数等指令进行描述，然后生成专用的配置格式的文件，通过文件解析程序，将该配置文件进行解析，并转化能能够调用D/A接口芯片的可执行程序，将该程序下载到智能上电掉电设备的flash中，将供电线路与待测设备连接正确，按压开始按钮，进行测试。测试的同时可以通过显示屏监视供电过程，并可以随时通过重置按钮，重新启动测试过程。本专利技术的优点如下:(1)使用PC上的图形化配置程序，将上电与掉电的自动化测试流程表述成可视化指令，并存储为配置文件。(2)通过解析文件对配置文件进行解析，并将解析结果自动生成一个可执行程序代码。(3)将可执行程序代码下载到嵌入式系统中，并能够通过按钮反复控制该系统的启动与重启，从而配合完成待测系统的上电掉电测试。以上所述仅是本专利技术的优选实施方式，应当指出，对于本
的普通技术人员来说，在不脱离本专利技术技术原理的前提下，还可以做出若干改进和变形，这些改进和变形也应视为本专利技术的保护范围。本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种上电掉电自动化测试系统，其特征在于，包括：上位机、嵌入式系统以及待测系统；上位机配置通道号、通道号相对启动零点的绝对时间或相对于上一指令的相对时间以及该通道的电压值参数，进行各通道的上电电压配置，嵌入式系统，用于提供上位机指定数值的电压；上位机将所要进行的测试活动，以通道号、上电时间、电压值、循环次数指令进行描述，生成配置格式的文件，通过文件解析程序，将配置文件进行解析，进行测试。

【技术特征摘要】
1.一种上电掉电自动化测试系统，其特征在于，包括：上位机、嵌入式系统以及待测系统；上位机配置通道号、通道号相对启动零点的绝对时间或相对于上一指令的相对时间以及该通道的电压值参数，进行各通道的上电电压配置，嵌入式系统，用于提供上位机指定数值的电压；上位机将所要进行的测试活动，以通道号、上电时间、电压值、循环次数指令进行描述，生成配置格式的文件，通过文件解析程序，将配置文件进行解析，进行测试。2.如权利要求1所述的上电掉电自动化测试系统，其特征在于，嵌入式系统包括：ARM处理器；Flash用于程序的烧写...

【专利技术属性】
技术研发人员：李岩，仇旭东，赵斌，
申请(专利权)人：天津津航计算技术研究所，
类型：发明
国别省市：天津,12