一种二极管性能检测设备上的定位滚针循环输送装置制造方法及图纸

本发明专利技术公开了一种二极管性能检测设备上的定位滚针循环输送装置，包括竖直的C型导轨，C型导轨的下端固定在底板上，C型导轨两侧相对的内壁上成型有竖直的限位沟槽，限位沟槽靠近的C型导轨开口一侧的侧壁上成型有锥形的定位槽，C型导轨一侧限位沟槽的上、下端分别成型有贯穿C型导轨外壁的滚针进孔和滚针出孔，滚针进料槽上侧的C型导轨后侧壁上固定有第一支架，第一支架上铰接有正八边形的第一导轮，支柱位于滚针出料槽的上侧并铰接有第二导轮，第二导轮的一侧设有第三导轮,第三导轮、第二导轮和第一导轮上套设有环形的输送带，输送带的内侧端面上固定有若干软磁条。本发明专利技术能实现滚针的循环输送，为二极管逐个检测提供基础。

A Location Roller Circulating Conveyor Device on Diode Performance Testing Equipment

The invention discloses a positioning needle circulation conveying device on a diode performance testing device, which comprises a vertical C-type guide rail, a lower end of the C-type guide rail fixed on the bottom plate, a vertical positioning groove formed on the inner wall of the opposite sides of the C-type guide rail, a conical positioning groove formed on the side wall of the opening side of the C-type guide rail near the positioning groove, and an upper and upper limit groove formed on the side of the C-type guide rail. The lower end is formed with needle-rolling hole and needle-rolling hole through the outer wall of the C-type guide rail respectively. The first support is fixed on the back wall of the C-type guide rail on the upper side of the needle-rolling feed groove. The first support is articulated with the first octagonal guide wheel. The support is located on the upper side of the needle-rolling feed groove and articulated with the second guide wheel. The third guide wheel, the second guide wheel and the first guide wheel are arranged on one side of the second guide wheel. An annular conveyor belt is sleeved, and a number of soft magnetic strips are fixed on the inner end surface of the conveyor belt. The invention can realize the circular conveying of the needle roller and provide the basis for the diode detection one by one.

【技术实现步骤摘要】
一种二极管性能检测设备上的定位滚针循环输送装置
：本专利技术涉及电子元件检测设备的
，更具体地说涉及一种二极管性能检测设备上的定位滚针循环输送装置。
技术介绍
：肖特基二极管是一种常见的电子元件，目前有部分带封装的肖特基二极管呈矩形，肖特基二极管的一侧设有若干针脚、另一侧设有封装片，封装片上成型有便于安装的插孔。肖特基二极管生产完成后需要进行性能检测，便于次品流出工厂，而性能检测一般采用性能测试仪器对肖特基二极管的针脚进行接触测试，现有的检测设备采用肖特基二极管逐个测试的方式进行测试，其肖特基二极管排列在槽轨内，但检测时，性能测试仪器会发生触碰到相邻肖特基二极管的针脚状况，会发生误检的问题，从而有提出利用滚针插接到肖特基二极管的封装板上，通过滚针定位，逐个推动肖特基二极管伸出槽轨进行检测的方式来减小干涉、误检，但利用滚针，则需要滚针输送的结构。
技术实现思路
：本专利技术的目的就是针对现有技术之不足，而提供了一种二极管性能检测设备上的定位滚针循环输送装置，其能实现滚针的循环输送，为二极管逐个检测提供基础。为实现上述目的，本专利技术采用的技术方案如下：一种二极管性能检测设备上的定位滚本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种二极管性能检测设备上的定位滚针循环输送装置，包括竖直的C型导轨(1)，C型导轨(1)的下端固定在底板(2)上，C型导轨(1)两侧相对的内壁上成型有竖直的限位沟槽，限位沟槽靠近的C型导轨(1)开口一侧的侧壁上成型有锥形的定位槽，C型导轨(1)一侧限位沟槽的上、下端分别成型有贯穿C型导轨(1)外壁的滚针进孔(1a)和滚针出孔(1b)，其特征在于：C型导轨(1)的外侧壁上分别固定有与滚针进孔(1a)和滚针出孔(1b)相对的半圆形的滚针进料槽(3)和滚针出料槽(4)，滚针进料槽(3)上侧的C型导轨(1)后侧壁上固定有第一支架(5)，第一支架(5)上铰接有正八边形的第一导轮(6)，靠近滚针出料槽...

【技术特征摘要】
1.一种二极管性能检测设备上的定位滚针循环输送装置，包括竖直的C型导轨(1)，C型导轨(1)的下端固定在底板(2)上，C型导轨(1)两侧相对的内壁上成型有竖直的限位沟槽，限位沟槽靠近的C型导轨(1)开口一侧的侧壁上成型有锥形的定位槽，C型导轨(1)一侧限位沟槽的上、下端分别成型有贯穿C型导轨(1)外壁的滚针进孔(1a)和滚针出孔(1b)，其特征在于：C型导轨(1)的外侧壁上分别固定有与滚针进孔(1a)和滚针出孔(1b)相对的半圆形的滚针进料槽(3)和滚针出料槽(4)，滚针进料槽(3)上侧的C型导轨(1)后侧壁上固定有第一支架(5)，第一支架(5)上铰接有正八边形的第一导轮(6)，靠近滚针出料槽(4)的C型导轨(1)外侧壁上固定支柱，支柱位于滚针出料槽(4)的上侧并铰接有第二导轮(8)，第二导轮(8)的一侧设有第三导轮(7),第三导轮(7)、第二导轮(8)和第一导轮(6)上套设有环形的输送带(9)，输送带(9)的内侧端面上固定有若干软磁条(9)，软磁条(9)均匀分布在输送带(9)上并抵靠在第三导轮(7)、第二导轮(8)和第一导轮(6)上；所述滚针进料槽(3)一侧的上端面固定有斜置的导流板(14)，导流板(14)的上端抵靠在输送带(9)的外侧端面上；所述...

【专利技术属性】
技术研发人员：徐标，
申请(专利权)人：温州易正科技有限公司，
类型：发明
国别省市：浙江,33