The invention relates to a CRC calibration method suitable for special ASIC. Its technical characteristics include the following steps: step 1, constructing a 16-bit displacement register, module 2 is realized by dividing XOR gates, thus generating polynomial inversion, i.e., inverting the abbreviated 16'h 1024 of the generated polynomial to 16'h 8048; step 2, setting the initial value of the 16-bit displacement register to be all 0; The expression of the relationship between the state of the current periodic shift register and the previous state of the current input and shift register is calculated. Step 3, the check results are output bit by bit. The invention breaks the specific deformation rules of CRC checking algorithm in imported special ASIC, so that the domestic synchronous communication type ASIC can communicate compatibly with imported ASIC.
【技术实现步骤摘要】
一种适用于专用ASIC的CRC校验方法
本专利技术属于CRC校验
，涉及改进型CRC校验方法，尤其是一种适用于专用ASIC的CRC校验方法。
技术介绍
随着人们对数据量的需求越来越大，现代数据通信对信息的可靠性要求也越来越高，然而数据信号在实际信道中传输不可避免的受到噪声干扰，为了提高链路传输的可靠性，一些高级数据链路控制规程会对用户数据进行差错编码，其中，循环冗余校验码(CRC)由于其检错纠错能力强等特点，在数据通信领域有着广泛的应用。基本的CRC校验方法原理并不复杂，但是国外先进ASIC厂商在将CRC校验方法集成到专用ASIC中的时候会进行改进变形，这种改进型的CRC校验算法作为厂商的核心技术不被公开。然而，随着芯片国产化上升到国家战略，越来越多的国产芯片将会取代国外芯片，国内进口芯片巨大的保有量决定着芯片国产化是一个道阻且长的过程，为了使得自主化芯片能够与国外芯片兼容通信，必须达到校验方法的兼容，故这种改进型的CRC校验算法成为高级数据链路规程研究者必须要攻破的技术难题。
技术实现思路
本专利技术的目的在于克服现有技术的不足，提出一种适用于专用ASIC的C...
【技术保护点】
1.一种适用于专用ASIC的CRC校验方法，其特征在于：包括以下具体步骤：步骤1、构建十六位移位寄存器，模2除用异或门实现，从而生成多项式反转，即将生成多项式的简记式16’h1024进行反转为16’h8048；步骤2、设定十六位移位寄存器校验初始值为全0，计算得到当前周期移位寄存器的状态与当前输入和移位寄存器前一状态的关系表达式；步骤3、将校验结果进行按位取反输出。
【技术特征摘要】
1.一种适用于专用ASIC的CRC校验方法，其特征在于：包括以下具体步骤：步骤1、构建十六位移位寄存器，模2除用异或门实现，从而生成多项式反转，即将生成多项式的简记式16’h1024进...
【专利技术属性】
技术研发人员：霍兴华，樊镕，吴璇，高金超，韩华锦，贾明建，
申请(专利权)人：天津七所精密机电技术有限公司，
类型：发明
国别省市：天津,12
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