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本发明涉及一种适用于专用ASIC的CRC校验方法，其技术特点在于：包括以下具体步骤：步骤1、构建十六位移位寄存器，模2除用异或门实现，从而生成多项式反转，即将生成多项式的简记式16’h1024进行反转为16’h8048；步骤2、设定十六位移...
该专利属于天津七所精密机电技术有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过天津七所精密机电技术有限公司授权不得商用。

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