一种适用于图像传感器的太阳黑子校正结构制造技术

一种适用于图像传感器的太阳黑子校正结构，适宜集成在芯片中，其在已有的图像传感器读出电路基础上增加了一个位数较少的辅助计数器COUNTER_S，该辅助计数器单元COUNTER_S，其输入端接所述比较器单元COUNTER的输出端VCOMP，其输出端CTRL_BS接到主计数器单元COUNTER中；其中，辅助计数器单元COUNTER_S包括太阳黑子阈值产生单元、阈值比较单元和计数器；输出端CTRL_BS将计数结果输入到主计数器单元COUNTER中用以控制其最终数据输出是否为全满幅，从而达到消除太阳黑子现象的目的。本发明专利技术提出的太阳黑子校正结构节省功耗和面积，且检测精度更高。

【技术实现步骤摘要】
一种适用于图像传感器的太阳黑子校正结构
本专利技术涉及集成电路技术应用领域，尤其涉及一种适用于图像传感器的太阳黑子校正结构。
技术介绍
太阳黑子现象是呈现在CMOS图像传感器芯片输出图片上的一种常见现象，其具体表现为：当输入CMOS图像传感器芯片的光强和曝光时间增大且不断增大到一定程度后，CMOS图像传感器芯片的图像输出值反而比光强小时更小，形成的图像效果最后变为实际景物本来很亮的部分在CMOS图像传感器芯片输出的图片上反而变黑，此现象类似太阳黑子现象，因而，在图像传感器中通常也称之为太阳黑子现象。请参阅图1和图2，图1所示为现有技术中的一个常见的4Tpixel结构图示意图；图2为图1中4Tpixel结构所形成的太阳黑子现象示意图。如图1所示，在CMOS图像传感器中产生此现象的原因是，当其在光强较强环境中曝光时间较长时，像素感光区域PD积累电荷过多，以至于从传输管TX管溢出到像元FD点，导致FD点复位(Reset)后电压下降，即像元第一次输出端PIXEL_VOUT的电压信号降低，从而导致像元两次输出的电压差ΔV减小，读出电路转换出来的值也相应减小(如图2所示)。上述CMOS图像传感器本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种适用于图像传感器的太阳黑子校正结构，所述图像传感器包括像元pixel内部结构模块和读出电路结构模块，其中，读出电路结构模块为列级单积分型ADC结构模块；且所述列级单积分型ADC结构模块包括比较器单元COMP和主计数器单元COUNTER；其特征在于，包括：辅助计数器单元COUNTER_S，其输入端接所述比较器单元COUNTER的输出端VCOMP，其输出端CTRL_BS接到主计数器单元COUNTER中；其中，所述辅助计数器单元COUNTER_S包括太阳黑子阈值产生单元、阈值比较单元和计数器；其中，在所述像元pixel内部结构模块的行选RS、复位RX和传输控制信号TX的时序配合控制下，对所述...

【技术特征摘要】
1.一种适用于图像传感器的太阳黑子校正结构，所述图像传感器包括像元pixel内部结构模块和读出电路结构模块，其中，读出电路结构模块为列级单积分型ADC结构模块；且所述列级单积分型ADC结构模块包括比较器单元COMP和主计数器单元COUNTER；其特征在于，包括：辅助计数器单元COUNTER_S，其输入端接所述比较器单元COUNTER的输出端VCOMP，其输出端CTRL_BS接到主计数器单元COUNTER中；其中，所述辅助计数器单元COUNTER_S包括太阳黑子阈值产生单元、阈值比较单元和计数器；其中，在所述像元pixel内部结构模块的行选RS、复位RX和传输控制信号TX的时序配合控制下，对所述像元pixel内部结构模块进行三次采样像元4Tpixel结构的信号读出；所述辅助计数器单元COUNTER_S通过第一和第二次采样和转换形成相关双采样，以得到所述辅助计数器单元COUNTER_S计数值，如果该计数值未超过设定的太阳黑子阈值，主计数器单元COUNTER的输出为其正常转换得到的数值，如果该计数值超过设定的太阳黑子阈值，所述输出端CTRL_BS将计数结果输入到主计数器单元COUNTER中用以通过逻辑控制其最终数据输出为满幅。2.根据权利要求1所述的适用于图像传感器的太阳黑子校正结构，其特征在于，所述像元pixel内部结构模块的行选RS、复位RX和传输控制信号TX的时序配合控制如下：第一次采样1stSample，RS、RX信号均为高，所述比较器单元COMP和辅助计数器COUNTER_...

【专利技术属性】
技术研发人员：何学红，温建新，
申请(专利权)人：上海微阱电子科技有限公司，
类型：发明
国别省市：上海,31