一种显示模组老化测试方法和装置制造方法及图纸

本发明专利技术涉及显示设备测试技术领域，具体涉及一种显示模组老化测试方法和装置通过与当前接入模块连接并获取当前接入模块的信息；获取与当前接入模块的信息相符的测试程序并在当前接入模块上执行测试程序；获取测试程序的测试结果并在当前接入模块上进行显示；本发明专利技术通过先获取当前接入模块的信息，与本地的本地信息进行逐一比对判断，确定相符的测试程序并运行，使得当前接入模块的时间无需通过人工进行判断，提升判断的精准度，从而提升测试效率。

【技术实现步骤摘要】
一种显示模组老化测试方法和装置
本专利技术涉及显示设备测试
，具体涉及一种显示模组老化测试方法和装置。
技术介绍
近年来由于消费者的消费意识提高，对于产品的品质要求也愈益严苛，使得液晶显示器面板的制造业者不仅要在产品设计上下工夫，更要在制造工艺上有所提升才能在如此竞争的市场上一争长短。对液晶显示器面板的制造者而言，产品的寿命周期一直是业者所关注的对象，老化测试(burn-in)提供给制造者一种制造工艺认证及提升产品可靠度的途径之一。经过老化测试过后的产品，不只可以确保产品的可靠度与寿命周期，更可使出厂的产品不会轻易故障。由于液晶显示器面板很容易在用过一段不确定的时间后就会发生故障，因此老化检测为了解决这种缺陷而发展出来的一种检测方法。这种方法可以使可能有缺陷的产品在老化测试的过程中加速老化，并在测试过程中早早就被淘汰。现有测试工具数量庞大，型号多，如何优化测试工具，提高测试效率，是测试部门面临的最大问题。针对这些问题，技术人员开发出一些通用型测试板。测试板上有各种接口，控制芯片为中心部分，外围部分有电源供电部分，通讯电平切换部分，将众多测试板的接口，统一起来，这个实施起来并不难。但软件上如何切换不同程序；能否自动识别当前接入模块；能否多屏通讯测试；多屏通讯时，能否解决干扰问题等等，都是控制板设计者需要思考的问题。
技术实现思路
本专利技术所要解决的技术问题是：提供一种能够自动识别当前接入模块的信息并自动匹配测试程序进行测试的显示模组老化测试方法和装置。为了解决上述技术问题，本专利技术采用的技术方案为：提供一种显示模组老化测试方法，包括如下步骤：步骤一：与当前接入模块连接并获取当前接入模块的信息；步骤二：获取与当前接入模块的信息相符的测试程序并在当前接入模块上执行测试程序；步骤三：获取测试程序的测试结果并在当前接入模块上进行显示。为了解决上述技术问题，本专利技术还采用的另一技术方案为：一种显示模组老化测试装置，包括存储器、处理器、存储在存储器上并可在处理器上运行的计算机程序和多个的连接口，所述待检测的接入模块通过连接口与所述显示模组老化测试装置连接，所述处理器执行所述程序时实现以下步骤：步骤五：通过连接口与接入模块连接，通过处理器获取当前接入模块的信息；步骤六：处理器获取记录在存储器中与当前接入模块的信息相符的测试程序，处理器在当前接入模块上执行测试程序；步骤七：处理器获取测试程序的测试结果并在当前接入模块上进行显示。本专利技术的有益效果在于：通过先获取当前接入模块的信息，并与本地的本地预存的信息进行逐一比对判断，确定与当前接入模块的信息相符的测试程序并运行，从而使得当前接入模块的时间无需通过人工进行判断，提升判断的精准度，从而提升测试效率，降低测试时间；通过直接将测试结果显示在当前接入模块上，工作人员能够方便直接的看到测试结果，从而做出下一步的操作。附图说明图1为本专利技术具体实施方式的一种显示模组老化测试方法的流程图；图2为本专利技术具体实施方式的一种显示模组老化测试装置的示意图；标号说明：1、一种显示模组老化测试方法；2、步骤一；3、步骤二；4、步骤三；5、一种显示模组老化测试装置；6、存储器；7、处理器；8、连接口。具体实施方式为详细说明本专利技术的
技术实现思路
、所实现目的及效果，以下结合实施方式并配合附图予以说明。本专利技术最关键的构思在于：通过先获取当前接入模块的信息，与本地的本地信息进行逐一比对判断，确定相符的测试程序并运行，使得当前接入模块的时间无需通过人工进行判断，提升判断的精准度，从而提升测试效率。请参照图1以及图2，一种显示模组老化测试方法1，包括如下步骤：步骤一2：与当前接入模块连接并获取当前接入模块的信息；步骤二3：获取与当前接入模块的信息相符的测试程序并在当前接入模块上执行测试程序；步骤三4：获取测试程序的测试结果并在当前接入模块上进行显示。进一步的，所述步骤一2具体为：与当前接入模块连接，同时向当前接入模块发送握手的代码，并对返回的代码进行本地校验后获取当前接入模块的信息。进一步的，所述“本地校验”为对返回的代码与本地预存的波特率进行逐一比对判断，如果不正确，表示当前接入模块非对应信息的握手代码，并切换下一个波特率，重复上面的步骤直到握手校验成功。进一步的，所述步骤二3具体为：获取与当前接入模块的信息相符的测试程序，自动在当前接入模块上执行测试程序直至测试程序结束并记录测试程序产生的测试结果。进一步的，所述步骤三4具体为：获取测试程序的测试结果并在当前接入模块上进行显示直至与当前接入模块断开连接。一种显示模组老化测试装置5，包括存储器6、处理器7、存储在存储器6上并可在处理器7上运行的计算机程序和多个的连接口8，所述待检测的接入模块通过连接口8与所述显示模组老化测试装置连接，所述处理器7执行所述程序时实现以下步骤：步骤五：通过连接口8与接入模块连接，通过处理器7获取当前接入模块的信息；步骤六：处理器7获取记录在存储器6中与当前接入模块的信息相符的测试程序，处理器7在当前接入模块上执行测试程序；步骤七：处理器7获取测试程序的测试结果并在当前接入模块上进行显示。进一步的，所述步骤五具体为：所述显示模组老化测试装置通过连接口8与接入模块连接，处理器7同时向当前接入模块发送握手的代码，并对返回的代码进行本地校验后获取当前接入模块的信息。进一步的，所述“本地校验”为对返回的代码与存储器6中本地预存的波特率进行逐一比对判断，如果不正确，表示当前接入模块非对应信息的握手代码，并切换下一个波特率，重复上面的步骤直到握手校验成功。进一步的，所述步骤六具体为：处理器7获取与当前接入模块的信息相符的测试程序，处理器7自动在当前接入模块上执行测试程序直至测试程序结束并产生测试结果，所述存储器6记录测试结果。进一步的，所述步骤七具体为：处理器7获取测试程序的测试结果并在当前接入模块上进行显示直至与当前接入模块断开连接。从上述描述可知，本专利技术的有益效果在于：通过先获取当前接入模块的信息，并与本地的本地预存的信息进行逐一比对判断，确定与当前接入模块的信息相符的测试程序并运行，从而使得当前接入模块的时间无需通过人工进行判断，提升判断的精准度，从而提升测试效率，降低测试时间；通过直接将测试结果显示在当前接入模块上，工作人员能够方便直接的看到测试结果，从而做出下一步的操作。实施例一请参照图1，一种显示模组老化测试方法，包括如下步骤：步骤一：与当前接入模块连接，同时向当前接入模块发送握手的代码，对返回的代码与本地预存的波特率进行逐一比对判断，如果不正确，表示当前接入模块非对应信息的握手代码，并切换下一个波特率，重复上面的步骤直到握手校验成功后获取当前接入模块的信息；步骤二：获取与当前接入模块的信息相符的测试程序，自动在当前接入模块上执行测试程序直至测试程序结束并记录测试程序产生的测试结果；步骤三：获取测试程序的测试结果并在当前接入模块上进行显示直至与当前接入模块断开连接。实施例二参照图2，一种显示模组老化测试装置，包括存储器、处理器、存储在存储器上并可在处理器上运行的计算机程序和多个的连接口，所述待检测的接入模块通过连接口与所述显示模组老化测试装置连接，所述处理器执行所述程序时实现以下步骤：步骤五：所述显示模组老化测试装置通过连接口与本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种显示模组老化测试方法，其特征在于，包括如下步骤：步骤一：与当前接入模块连接并获取当前接入模块的信息；步骤二：获取与当前接入模块的信息相符的测试程序并在当前接入模块上执行测试程序；步骤三：获取测试程序的测试结果并在当前接入模块上进行显示。

【技术特征摘要】
1.一种显示模组老化测试方法，其特征在于，包括如下步骤：步骤一：与当前接入模块连接并获取当前接入模块的信息；步骤二：获取与当前接入模块的信息相符的测试程序并在当前接入模块上执行测试程序；步骤三：获取测试程序的测试结果并在当前接入模块上进行显示。2.根据权利要求1所述的显示模组老化测试方法，其特征在于，所述步骤一具体为：与当前接入模块连接，同时向当前接入模块发送握手的代码，并对返回的代码进行本地校验后获取当前接入模块的信息。3.根据权利要求2所述的显示模组老化测试方法，其特征在于，所述“本地校验”为对返回的代码与本地预存的波特率进行逐一比对判断，如果不正确，表示当前接入模块非对应信息的握手代码，并切换下一个波特率，重复上面的步骤直到握手校验成功。4.根据权利要求1所述的显示模组老化测试方法，其特征在于，所述步骤二具体为：获取与当前接入模块的信息相符的测试程序，自动在当前接入模块上执行测试程序直至测试程序结束并记录测试程序产生的测试结果。5.根据权利要求1所述的显示模组老化测试方法，其特征在于，所述步骤三具体为：获取测试程序的测试结果并在当前接入模块上进行显示直至与当前接入模块断开连接。6.一种显示模组老化测试装置，其特征在于，包括存储器、处理器、存储在存储器上并可在处理器上运行的计算机程序和多个的连接口，所述待检测的接入模块通...

【专利技术属性】
技术研发人员：沈中泽，余文彬，彭广肇，张智雄，杨进辉，
申请(专利权)人：肇庆金鹏实业有限公司，
类型：发明
国别省市：广东,44