一种平面度测量装置制造方法及图纸

本实用新型专利技术公开一种平面度测量装置，涉及液晶模组测量技术领域。该平面度测量装置包括机架，待测工件置于机架内，该平面度测量装置还包括：移动部与机架可移动连接，移动部为导电材料且内部设置有连接孔；测量头组件包括相互连接的接触头体和连接件，连接件为导电材料且穿设在连接孔内与连接孔配合，接触头体为绝缘材料且抵接在待测工件的表面；控制装置分别与移动部和连接件电连接以形成测试回路。本实用新型专利技术提出的平面度测量装置，自动化程度高，测量效果准确，操作方便。

【技术实现步骤摘要】
一种平面度测量装置
本技术涉及液晶模组测量
，尤其涉及一种平面度测量装置。
技术介绍
在液晶模组领域，对液晶显示面板的平面度或翘曲度要求很高。如果液晶显示面板的平面度达不到要求，会导致后续装配和加工过程的停滞，整条生产线停工。因此，需要对液晶显示面板的平面度进行有效地测量。现有技术中，通常采用千分尺对液晶显示面板的厚度进行测量，需要人工操作，精度不高，测量效率低。
技术实现思路
针对上述问题，本技术提出一种平面度测量装置，自动化程度高，测量效果准确，操作方便。本技术采用以下技术方案：一种平面度测量装置，包括机架，待测工件置于机架内，该平面度测量装置还包括：移动部，移动部与机架可移动连接，移动部为导电材料且内部设置有连接孔；测量头组件，测量头组件包括相互连接的接触头体和连接件，连接件为导电材料且穿设在连接孔内与连接孔配合，接触头体为绝缘材料且抵接在待测工件的表面；控制装置，控制装置分别与移动部和连接件电连接以形成测试回路。作为本技术的一种优选方案，移动部包括相互连接的第一移动件和第二移动件，第二移动件与机架可移动连接，连接孔设置于第一移动件，第二移动件与控制装置电连接。作为本技术的一种优选方案，还包括绝缘罩，其罩设在第二移动件上，并与第一移动件连接。作为本技术的一种优选方案，第一移动件和连接件的材质为半导体，第二移动件的材料为金属。作为本技术的一种优选方案，测量头组件还包括第一连接架，第一连接架的一端与接触头体连接，另一端与连接件连接。作为本技术的一种优选方案，接触头体为滚轮或滚珠。作为本技术的一种优选方案，机架上设置有滑轨，滑轨上设置有滑块，移动部与滑块固定连接。作为本技术的一种优选方案，滑轨沿机架的长度方向平行设置有两条，每条滑轨上对应设置有至少一个滑块，移动部与两条滑轨上的滑块通过第二连接架固定连接。作为本技术的一种优选方案，还包括设置于机架上的第一驱动组件，第一驱动组件能推动移动部沿滑轨移动。作为本技术的一种优选方案，还包括设置于机架上的第二驱动组件，第二驱动件能驱动待测工件沿垂直于滑轨的方向移动。本技术的有益效果为：本技术提出的一种平面度测量装置，控制装置分别与移动部和连接件电连接以形成测试电回路，控制装置提供稳定的电压，移动部在带动测量头组件的接触头体沿待测工件的表面移动过程中，待测工件上的凸起或凹陷处能带动连接件在连接孔内沿待测工件厚度方向的移动，使得连接件与连接孔侧壁的接触面积发生变化，由于连接件与移动部均为导电材质，连接件与连接孔侧壁的接触面积发生变化导致测试电回路中的电阻发生变化，控制装置能够根据电压和电阻的变化得到电流的变化，通过将电流变化的信号进行处理，得到待测工件上的凸起或凹陷处的情况，进而实现对待测工件平面度的测量，其自动化程度高，测量效果准确，操作方便。附图说明图1是本技术提供的平面度测量装置的结构示意图；图2是本技术提供的平面度测量装置中一种测量头组件与移动部配合的结构示意图；图3是本技术提供的平面度测量装置中另一种测量头组件与移动部配合的结构示意图；图4是本技术提供的平面度测量装置在测量过程中分别处于A、B、C三种状态时的结构示意图；图5是本技术提供的平面度测量装置测量结果对应的单线测量电流模拟曲线图；图6是本技术提供的平面度测量装置测量结果中根据多线测量电流模拟曲线得到的待测工件的模拟平面图。图中：1-机架；2-移动部；21-第一移动件；22-第二移动件；23-第二连接架；3-测量头组件；31-接触头体；32-连接件；33-第一连接架；4-控制装置；5-滑轨；6-绝缘罩；100-待测工件。具体实施方式下面结合附图和实施例对本技术作进一步的详细说明。可以理解的是，此处所描述的具体实施例仅仅用于解释本技术，而非对本技术的限定。另外还需要说明的是，为了便于描述，附图中仅示出了与本技术相关的部分而非全部结构。图1是本技术提供的平面度测量装置的结构示意图，如图1所示，该装置主要包括：机架1、移动部2、测量头组件3和控制装置4。其中，机架1为支撑件，待测工件100容纳在机架1内。移动部2与机架1可移动连接，且移动部2为导电材料且内部设置有连接孔。测量头组件3包括相互连接的接触头体31和连接件32，其中，连接件32为导电材料且穿设在移动部2的连接孔内，接触头体31为绝缘材料且抵接在待测工件100的表面。即当移动部2在机架1上移动时，能带动接触头体31沿待测工件100的表面移动。进一步地，控制装置4提供稳定的电压，并分别与移动部2和连接件32电连接以形成测试电回路。在这个测试电回路中，接触头体31为绝缘材料所以并不能形成电阻对测试电回路造成影响；电压由控制装置4提供，电阻由移动部2和连接件32形成，由于控制装置4提供电压是稳定的，因此测试电回路中的电流变化由电阻的阻值决定。本技术提供的平面度测量装置的主要测量过程为：移动部2动作带动测量头组件3的接触头体31沿待测工件100的表面移动，待测工件100上的凸起或凹陷处能带动连接件32在连接孔内沿待测工件100厚度方向移动，使连接件32与连接孔侧壁的接触面积发生变化，连接件32与连接孔侧壁的接触面积的变化导致电阻的阻值的变化，进而对测试电回路中的电流值产生影响，本技术中，接触面积与阻值成反比，在稳定的电压状态下，接触面积与电流成正比，待测工件100的厚度与电流值成正比，电流值从控制装置4中的电流表中获取，电流表可以标注刻度，从而可定出待测工件100厚度，通过分析电流的变化值，并以此为数据进行转化，就能够得到待测工件100的平面度数据，需要说明的是，本技术中，电阻＝电压/电流，或电阻＝系数/接触面积，其中，接触面积＝连接件横截面×待测工件厚度。具体地，如图1中所示，为了实现移动部2在机架1上的运动，在机架1上设置有滑轨5，滑轨5上设置有滑块(图中未示出)，移动部2与滑块固定连接，即移动部2在机架1的相对运动由滑轨和滑块的配合实现。滑轨和滑块的配合，结构简单，操作方便，易于实现。本技术在此并不限定移动部2与机架1相对运动的具体实现方式，优选采用本实施例中的滑轨和滑块结构。进一步优选地，沿机架1的长度方向平行设置有两条滑轨5，每条滑轨5上对应设置有至少一个滑块，移动部2与滑块固定连接。设置两条滑轨5，以及每条滑轨5上对应设置有至少一个滑块，使得整个运动过程更加平稳，测量的精度更高。同时，移动部2在滑轨5上的往返运动还可以设置成自动控制，在本实施例中优选设置第一驱动组件(图中未示出)，第一驱动组件固定在机架1上，第一驱动组件能推动移动部2沿滑轨5移动。第一驱动组件可以选用电机和丝杆的配合形式，也可以设置成直线运动模组等，属于本领域的常规技术，在此不再赘述。如图1所示，移动部2包括第一移动件21、第二移动件22和第二连接架23。具体地，第一移动件21和第二移动件22相互连接，第二移动件22与滑块固定连接，第二移动件22与控制装置4电连接(图1中导线连接所示)，第二连接架23与滑块固定连接。进一步地，第一移动件21上设置有连接孔，连接孔可以设置为通孔，将第二移动件22穿设在通孔的上部并固定连接；连接孔也可以设置成盲孔本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种平面度测量装置，包括机架(1)，待测工件(100)置于所述机架(1)内，其特征在于，该平面度测量装置还包括：移动部(2)，所述移动部(2)与所述机架(1)可移动连接，所述移动部(2)为导电材料且内部设置有连接孔；测量头组件(3)，所述测量头组件(3)包括相互连接的接触头体(31)和连接件(32)，所述连接件(32)为导电材料且穿设在所述连接孔内与所述连接孔配合，所述接触头体(31)为绝缘材料且抵接在所述待测工件(100)的表面；及控制装置(4)，所述控制装置(4)分别与所述移动部(2)和所述连接件(32)电连接以形成测试回路。

【技术特征摘要】
1.一种平面度测量装置，包括机架(1)，待测工件(100)置于所述机架(1)内，其特征在于，该平面度测量装置还包括：移动部(2)，所述移动部(2)与所述机架(1)可移动连接，所述移动部(2)为导电材料且内部设置有连接孔；测量头组件(3)，所述测量头组件(3)包括相互连接的接触头体(31)和连接件(32)，所述连接件(32)为导电材料且穿设在所述连接孔内与所述连接孔配合，所述接触头体(31)为绝缘材料且抵接在所述待测工件(100)的表面；及控制装置(4)，所述控制装置(4)分别与所述移动部(2)和所述连接件(32)电连接以形成测试回路。2.根据权利要求1所述的平面度测量装置，其特征在于，所述移动部(2)包括相互连接的第一移动件(21)和第二移动件(22)，所述第二移动件(22)与所述机架(1)可移动连接，所述连接孔设置于所述第一移动件(21)，所述第二移动件(22)与所述控制装置(4)电连接。3.根据权利要求2所述的平面度测量装置，其特征在于，还包括绝缘罩(6)，其罩设在所述第二移动件(22)上，并与所述第一移动件(21)连接。4.根据权利要求2所述的平面度测量装置，其特征在于，所述第一移动件(21)和所述连接件(32)的材...

【专利技术属性】
技术研发人员：尹文文，戴建华，
申请(专利权)人：昆山龙腾光电有限公司，
类型：新型
国别省市：江苏,32