一种后处理料液中镅和铯的测量装置制造方法及图纸

技术编号:20795884 阅读:31 留言:0更新日期:2019-04-06 09:32
本发明专利技术涉及核燃料后处理技术领域,具体公开了一种后处理料液中镅和铯的测量装置,将NaI探测器设于由铅套A、铅套B和铅套D的中心孔围成的区域中,NaI探测器的连接线从铅套B上的线槽穿出,与多道谱仪相连;所述的多道谱仪通过数据线与计算机连接;所述的NaI探测器将γ射线信号转变成电信号,经过多道谱仪进行信号甄别后传输到计算机中,实现样品自动测量。本发明专利技术装置能够有效屏蔽环境γ射线对测量系统的干扰,利用多道谱仪,可以同时测定铯‑137及镅‑241的γ放射性活度浓度,测量结果直接由软件读出。

A Measuring Device for Ammonium and Cesium in Post-treatment Liquid

The invention relates to the technical field of nuclear fuel reprocessing, in particular to a measuring device for americium and cesium in reprocessing liquid, which locates NaI detector in an area surrounded by central holes of lead sleeve A, lead sleeve B and lead sleeve D. The connection line of NaI detector passes through a slot on lead sleeve B and is connected with a multi-channel spectrometer; the multi-channel spectrometer is connected with a computer through a data line; The detector transforms the gamma-ray signal into electrical signal and transmits the signal to the computer after screening by multi-channel spectrometer to realize the automatic measurement of samples. The device can effectively shield the interference of environmental gamma rays to the measuring system. The gamma-ray activity concentration of cesium 137 and americium 241 can be simultaneously measured by multi-channel spectrometer, and the measurement results can be read out directly by software.

【技术实现步骤摘要】
一种后处理料液中镅和铯的测量装置
本专利技术属于核燃料后处理
,具体涉及一种后处理料液中镅和铯的测量装置。
技术介绍
核燃料领域现用的工艺料液中γ放射性活度浓度测量装置包含井型铅室、碘化钠探头、定标器等部件,该装置有如下问题:(1)使用此装置只能测定铯-137的γ放射性活度浓度;(2)该装置使用定标器计数,探头高压、放大倍数、阈值等参数均需手工调节,调节方式极其繁琐,岗位现有定标器使用年限较长,只能显示计数;(3)NaI探测器晶体截面较小、探测效率不足5%;(4)探测器安装在井型铅室,操作时易发生污染,且去污比较困难;(5)铅室厚度不足,总γ放射性高的样品放置在测量仪器附近时对测定结果有较大影响,必须将样品转移到其他房间才能消除影响。因此,亟需研制一套屏蔽效果好、自动化程度高的镅和铯的测量装置。
技术实现思路
本专利技术的目的在于提供一种后处理料液中镅和铯的测量装置,实现镅和铯的高精度测量。本专利技术的技术方案如下:一种后处理料液中镅和铯的测量装置,包括铅套A、铅套B、铅套C、铅套D、铅室门、铅套E、样品托、手套箱密封板、铅套固定板、密封板、手套箱、多道谱仪、计算机、NaI晶体探测器;在所述手套箱的右侧壁上开孔,密封板通过胶粘设于手套箱的开孔处,用于密封手套箱;在所述密封板的右侧设有手套箱密封板,所述的手套箱密封板贴设于手套箱的外侧壁上;在所述密封板的左侧设有铅套E,用螺钉固定在手套箱密封板上;在铅套E内设有圆锥状凹槽,圆锥状的铅室门关闭后嵌入铅套E的凹槽内;所述的样品托用螺丝固定在铅室门里侧的中心位置,与探测器在同一水平线上;所述的铅套固定板为长方板,在铅套固定板上设有多个平行的凹槽,用于固定铅套A、铅套B、铅套C、铅套D;所述的铅套D、铅套A、铅套B、铅套C由左至右,顺序嵌设于铅套固定板上的凹槽中;所述的铅套D为圆环形状,通过螺钉固定在手套箱密封板的右侧,铅套D的底端嵌设于铅套固定板上的凹槽中;所述的铅套A为圆环形状,铅套A的底端嵌设于铅套固定板上的凹槽中;所述的铅套B为圆环形状,在铅套B上沿径向设有线槽,铅套B的底端嵌设于铅套固定板上的凹槽中;所述的铅套C为圆盘形状,中心不开孔,铅套C的底端嵌设于铅套固定板上的凹槽中,并用螺钉将铅套C和铅套固定板固定相连;所述的NaI探测器设于由铅套A、铅套B和铅套D的中心孔围成的区域中,NaI探测器的连接线从铅套B上的线槽穿出,与多道谱仪相连;所述的多道谱仪通过数据线与计算机连接;所述的NaI探测器将γ射线信号转变成电信号,经过多道谱仪进行信号甄别后传输到计算机中,实现样品自动测量。还包括在所述铅室门的外侧设有手柄、旋转套和旋转座;所述的旋转套焊接在铅室门外侧的左边缘,旋转套套在旋转座上,起到固定铅室门的作用;所述的旋转座与铅套E的左边缘焊接固定;所述的手柄焊接在铅室门外侧的右边缘,通过拉动手柄使铅室门基于旋转座开启或关闭。还包括在所述铅室门的外侧设有上定位块和下定位块;所述的上定位块焊接在铅室门上、手柄的右侧,下定位块焊接在铅套E上,通过上定位块与下定位块的咬合,保证铅室门完全关闭。所述铅套A、铅套B和铅套D的中心孔直径相等,相邻的两个铅套贴合紧密。所述的铅套A可根据放射性强度大小不同设置多个。所述的线槽连通铅套B的中心孔壁和外侧壁。所述的密封板为聚四氟乙烯密封板。本专利技术的显著效果在于:(1)本专利技术装置能够有效屏蔽环境γ射线对测量系统的干扰,利用多道谱仪,可以同时测定铯-137及镅-241的γ放射性活度浓度,测量结果直接由软件读出。(2)本专利技术装置使用了晶体面积更大的NaI晶体探测器,提高了探测效率,而且仪器各参数设置均在软件中进行,避免了手动调节参数可能出现的错误,自动化程度高。(3)本专利技术装置的样品屏蔽铅室开合方便,能够简单快速的完成样品更换操作,且在操作时不易发生污染,屏蔽效果好,探头屏蔽铅室拆卸方便,能够快速更换探头。附图说明图1为测量装置结构示意图;图2为铅室门结构示意图。图中:1-铅套A;2-铅套B;3-铅套C;4-铅套D;5铅室门;6-铅套E;7-样品托;8-手套箱密封板;9-铅套固定板;10-密封板;11-手套箱;12-多道谱仪;13-计算机;14-NaI晶体探测器;15-手柄;16-上定位块;17-下定位块;18-旋转座;19-旋转套。具体实施方式下面结合附图及具体实施例对本专利技术作进一步详细说明。如图1所示的一种后处理料液中镅和铯的测量装置,包括铅套A1、铅套B2、铅套C3、铅套D4、铅室门5、铅套E6、样品托7、手套箱密封板8、铅套固定板9、密封板10、手套箱11、多道谱仪12、计算机13、NaI晶体探测器14、手柄15、上定位块16、下定位块17、旋转座18、旋转套19。在所述手套箱11的右侧壁上开孔,密封板10通过胶粘设于手套箱11的开孔处,用于密封手套箱11。在所述密封板10的右侧设有手套箱密封板8,所述的手套箱密封板8贴设于手套箱11的外侧壁上。所述的密封板10为聚四氟乙烯密封板。在所述密封板10的左侧设有铅套E6,用螺钉固定在手套箱密封板8上,在铅套E6内设有圆锥状凹槽,圆锥状的铅室门5关闭后嵌入铅套E6的凹槽内。如图2所示,在所述铅室门5的外侧设有手柄15、上定位块16、下定位块17、旋转套18和旋转座19。所述的旋转套18焊接在铅室门5外侧的左边缘,旋转套18套在旋转座19上,起到固定铅室门5的作用。所述的旋转座19与铅套E6的左侧边缘焊接固定。所述的手柄15焊接在铅室门5外侧的右边缘,通过拉动手柄15使铅室门5基于旋转座19开启或关闭。所述的上定位块16焊接在铅室门5上、手柄15的右侧,下定位块17焊接在铅套E6上,通过上定位块16与下定位块17的咬合,保证铅室门5完全关闭。所述的样品托7用螺丝固定在铅室门5里侧的中心位置,与探测器14在同一水平线上。所述的铅套固定板9为长方板,在铅套固定板9上设有多个平行的凹槽,用于固定铅套A1、铅套B2、铅套C3、铅套D4。所述的铅套D4、铅套A1、铅套B2、铅套C3由左至右,顺序嵌设于铅套固定板9上的凹槽中。所述的铅套D4为圆环形状,通过螺钉固定在手套箱密封板8的右侧,铅套D4的底端嵌设于铅套固定板9上的凹槽中。所述的铅套A1为圆环形状,铅套A1的底端嵌设于铅套固定板9上的凹槽中。所述的铅套A1可根据放射性强度大小不同设置多个。所述的铅套B2为圆环形状,在铅套B2上沿径向设有线槽,铅套B2的底端嵌设于铅套固定板9上的凹槽中。所述的线槽连通铅套B2的中心孔壁和外侧壁。所述的铅套C3为圆盘形状,中心不开孔,铅套C3的底端嵌设于铅套固定板9上的凹槽中,并用螺钉将铅套C3和铅套固定板9固定相连。所述铅套A1、铅套B2和铅套D4的中心孔直径相等,相邻的两个铅套贴合紧密。所述的NaI探测器14设于由铅套A1、铅套B2和铅套D4的中心孔围成的区域中,NaI探测器14的连接线从铅套B2上的线槽穿出,与多道谱仪12相连,所述的多道谱仪12通过数据线与计算机13连接。所述的NaI探测器14将γ射线信号转变成电信号,经过多道谱仪12进行信号甄别后传输到计算机13中,实现样品自动测量。本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种后处理料液中镅和铯的测量装置,其特征在于:包括铅套A(1)、铅套B(2)、铅套C(3)、铅套D(4)、铅室门(5)、铅套E(6)、样品托(7)、手套箱密封板(8)、铅套固定板(9)、密封板(10)、手套箱(11)、多道谱仪(12)、计算机(13)、NaI晶体探测器(14);在所述手套箱(11)的右侧壁上开孔,密封板(10)通过胶粘设于手套箱(11)的开孔处,用于密封手套箱(11);在所述密封板(10)的右侧设有手套箱密封板(8),所述的手套箱密封板(8)贴设于手套箱(11)的外侧壁上;在所述密封板(10)的左侧设有铅套E(6),用螺钉固定在手套箱密封板(8)上;在铅套E(6)内设有圆锥状凹槽,圆锥状的铅室门(5)关闭后嵌入铅套E(6)的凹槽内;所述的样品托(7)用螺丝固定在铅室门(5)里侧的中心位置,与探测器(14)在同一水平线上;所述的铅套固定板(9)为长方板,在铅套固定板(9)上设有多个平行的凹槽,用于固定铅套A(1)、铅套B(2)、铅套C(3)、铅套D(4);所述的铅套D(4)、铅套A(1)、铅套B(2)、铅套C(3)由左至右,顺序嵌设于铅套固定板(9)上的凹槽中;所述的铅套D(4)为圆环形状,通过螺钉固定在手套箱密封板(8)的右侧,铅套D(4)的底端嵌设于铅套固定板(9)上的凹槽中;所述的铅套A(1)为圆环形状,铅套A(1)的底端嵌设于铅套固定板(9)上的凹槽中;所述的铅套B(2)为圆环形状,在铅套B(2)上沿径向设有线槽,铅套B(2)的底端嵌设于铅套固定板(9)上的凹槽中;所述的铅套C(3)为圆盘形状,中心不开孔,铅套C(3)的底端嵌设于铅套固定板(9)上的凹槽中,并用螺钉将铅套C(3)和铅套固定板(9)固定相连;所述的NaI探测器(14)设于由铅套A(1)、铅套B(2)和铅套D(4)的中心孔围成的区域中,NaI探测器(14)的连接线从铅套B(2)上的线槽穿出,与多道谱仪(12)相连;所述的多道谱仪(12)通过数据线与计算机(13)连接;所述的NaI探测器(14)将γ射线信号转变成电信号,经过多道谱仪(12)进行信号甄别后传输到计算机(13)中,实现样品自动测量。...

【技术特征摘要】
1.一种后处理料液中镅和铯的测量装置,其特征在于:包括铅套A(1)、铅套B(2)、铅套C(3)、铅套D(4)、铅室门(5)、铅套E(6)、样品托(7)、手套箱密封板(8)、铅套固定板(9)、密封板(10)、手套箱(11)、多道谱仪(12)、计算机(13)、NaI晶体探测器(14);在所述手套箱(11)的右侧壁上开孔,密封板(10)通过胶粘设于手套箱(11)的开孔处,用于密封手套箱(11);在所述密封板(10)的右侧设有手套箱密封板(8),所述的手套箱密封板(8)贴设于手套箱(11)的外侧壁上;在所述密封板(10)的左侧设有铅套E(6),用螺钉固定在手套箱密封板(8)上;在铅套E(6)内设有圆锥状凹槽,圆锥状的铅室门(5)关闭后嵌入铅套E(6)的凹槽内;所述的样品托(7)用螺丝固定在铅室门(5)里侧的中心位置,与探测器(14)在同一水平线上;所述的铅套固定板(9)为长方板,在铅套固定板(9)上设有多个平行的凹槽,用于固定铅套A(1)、铅套B(2)、铅套C(3)、铅套D(4);所述的铅套D(4)、铅套A(1)、铅套B(2)、铅套C(3)由左至右,顺序嵌设于铅套固定板(9)上的凹槽中;所述的铅套D(4)为圆环形状,通过螺钉固定在手套箱密封板(8)的右侧,铅套D(4)的底端嵌设于铅套固定板(9)上的凹槽中;所述的铅套A(1)为圆环形状,铅套A(1)的底端嵌设于铅套固定板(9)上的凹槽中;所述的铅套B(2)为圆环形状,在铅套B(2)上沿径向设有线槽,铅套B(2)的底端嵌设于铅套固定板(9)上的凹槽中;所述的铅套C(3)为圆盘形状,中心不开孔,铅套C(3)的底端嵌设于铅套固定板(9)上的凹槽中,并用螺钉将铅套C(3)和铅套固定板(9)固定相连;所述的NaI探测器(14)设于由铅套A(1)、铅套B(2)和铅套D(...

【专利技术属性】
技术研发人员:马精德吉永超汪南杰姜国杜杨立江贺燕何南玲陈小洁闫黎明江海波赵红梅
申请(专利权)人:中核四零四有限公司
类型:发明
国别省市:甘肃,62

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