热电参数测试装置以及系统制造方法及图纸

本实用新型专利技术涉及电子元器件领域，具体而言，涉及一种热电参数测试装置以及系统。该装置包括真空玻璃罩、主板组件、探头支架第一组件。主板组件通过连接件连接于真空玻璃罩，形成密封空间。探头支架设置在密封空间内，且滑动连接于主板组件；探头支架被配置为用于固定探针和第一传感器。第一组件设置在密封空间内，第一组件包括用于夹持试样的夹持组件、加热组件以及冷却组件。冷却组件固定连接于主板组件；加热组件固定连接于冷却组件；夹持组件设置在加热组件上。夹持组件被配置为用于夹持试样；加热组件以及冷却组件被配置为用于调节测试温度。该热电参数测试装置能够实现仅仅使用一台设备就可以测量试样的热导率，塞贝克系数，电导率。

【技术实现步骤摘要】
热电参数测试装置以及系统
本技术涉及电子元器件领域，具体而言，涉及一种热电参数测试装置以及系统。
技术介绍
热导率是指当温度垂直向下梯度为1℃/m时，单位时间内通过单位水平截面积所传递的热量。塞贝克系数，是指材料的温差电动热。电导率是用来描述物质中电荷流动难易程度的参数。现有技术中，测量上述的三个热电参数需要三台设备，分别测量一次。
技术实现思路
本技术的第一目的在于提供一种热电参数测试装置，能够实现仅仅使用一台设备就可以测量试样的热导率，塞贝克系数，电导率。本技术的第二目的在于提供一种热电参数测试系统。为了实现上述目的，本技术实施例采用的技术方案如下：一种热电参数测试装置，包括：真空玻璃罩；主板组件；主板组件通过连接件连接于真空玻璃罩，形成密封空间；探头支架；探头支架设置在密封空间内，且滑动连接于主板组件；探头支架被配置为用于固定探针和第一传感器；第一组件；第一组件设置在密封空间内，第一组件包括用于夹持试样的夹持组件、加热组件以及冷却组件；冷却组件固定连接于主板组件；加热组件固定连接于冷却组件；夹持组件设置在加热组件上；夹持组件被配置为用于夹持试样；加热组件以及冷却组件别配置为用于调节测试本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种热电参数测试装置，其特征在于，包括：真空玻璃罩；主板组件；所述主板组件通过连接件连接于所述真空玻璃罩，形成密封空间；探头支架；所述探头支架设置在所述密封空间内，且滑动连接于所述主板组件；所述探头支架被配置为用于固定探针和第一传感器；第一组件；所述第一组件设置在所述密封空间内，所述第一组件包括用于夹持试样的夹持组件、加热组件以及冷却组件；所述冷却组件固定连接于所述主板组件；所述加热组件固定连接于所述冷却组件；所述夹持组件设置在所述加热组件上；所述夹持组件被配置为用于夹持试样；所述加热组件以及所述冷却组件被配置为用于调节测试温度。

【技术特征摘要】
1.一种热电参数测试装置，其特征在于，包括：真空玻璃罩；主板组件；所述主板组件通过连接件连接于所述真空玻璃罩，形成密封空间；探头支架；所述探头支架设置在所述密封空间内，且滑动连接于所述主板组件；所述探头支架被配置为用于固定探针和第一传感器；第一组件；所述第一组件设置在所述密封空间内，所述第一组件包括用于夹持试样的夹持组件、加热组件以及冷却组件；所述冷却组件固定连接于所述主板组件；所述加热组件固定连接于所述冷却组件；所述夹持组件设置在所述加热组件上；所述夹持组件被配置为用于夹持试样；所述加热组件以及所述冷却组件被配置为用于调节测试温度。2.如权利要求1所述的热电参数测试装置，其特征在于，所述主板组件包括主板本体和运动组件；所述主板本体上设置有通信接口、气体流道以及冷却剂流道；所述主板本体通过连接件连接于所述真空玻璃罩，形成密封空间；所述运动组件包括定位滑道、固定滑块和紧固支架；所述定位滑道固定连接于所述主板本体；所述固定滑块滑动连接于所述定位滑道；所述紧固支架滑动连接于所述固定滑块；所述探头支架固定连接于所述紧固支架。3.如权利要求2所述的热电参数测试装置，其特征在于，所述冷却组件包括冷却盘；所述主板本体上设置有凹陷部；所述冷却盘固定连接于所述凹陷部，形成冷却室；所述冷却剂流道设置在所述凹陷部。4.如权利要求3所述的热电参数测试装置，其特征在于，所述加热组件包括发热元件和热传导组件；所述热传导组件固定连接于所述冷却盘，所述发热元件固定连接于所述热传导组件；所述热传导组件包括第一导热臂、第二导热臂；第一传热块、第二传热块；所述第一导热臂和所述第二导热臂间隔设置，且所述第一导热臂具有第一端和相对的第二端；所述第一端固定连接于所述冷却盘；所述第二端固定连接于所述第一传热块；所述第二导热臂具有第三端和相对的第四端；所述第三端固定连接于所述冷却盘；所述第四端固定连接于所述第二传热块；所述发热元件包括第一发热元件和第二发热元件；所述...

【专利技术属性】
技术研发人员：王勇，金鑫铮，祁晓东，杨静晖，张楠，黄婷，
申请(专利权)人：西南交通大学，
类型：新型
国别省市：四川,51