一种基于差压原理的无损检漏方法及装置制造方法及图纸

本发明专利技术公开了一种基于差压原理的无损检漏方法及装置，包括：充气步骤：选取与待检密封容器相同的基准物，测量基准物漏率；密封步骤：将待检密封容器及基准物分别装入两个相同的检测罐体内并密封；抽气步骤：将检测罐体内部与待检密封容器之间的腔体、测罐体内部与基准物之间的腔体均抽至检漏所需压力形成真空室；累积步骤：关闭抽气阀门，平衡预设时间段后打开隔离阀门，开始累积，通过差压传感器测量累积前后两个检测罐体内部的压力差，计算出待检密封容器的整体漏率，本方法及装置无需对待检密封容器内部充气或抽气，检漏过程不破坏密封容器内部原有气氛，能够实现该类产品的无损检漏。

【技术实现步骤摘要】
一种基于差压原理的无损检漏方法及装置
本专利技术涉及真空检漏
，具体地，涉及一种基于差压原理的无损检漏方法及装置。
技术介绍
差压检漏技术是一种基于差压传感器的检漏技术，能够在高真空环境下检测出两个密闭容器间的压力差，进而计算得到待检密封容器的整体漏率。由于其检测对象为相对压力差，所需量程较小。因此，相较于绝对压力变化检漏技术，差压检漏技术的检漏精度更高。请参考图1，传统的差压检漏过程需要搭建一个与待测产品大小、材料、形状完全相同的，并且采用其他检漏方法检测出准确漏率的基准。检漏时，需向待测产品与基准物中充气或抽气，达到工作压力后关闭阀门，静置一段时间后即可根据差压传感器的读数计算待检密封容器的整体漏率。中国专利(公告号CN101738296B)公开了一种航天器舱体差压检漏的方法，该方法通过向舱体内部充气，利用差压传感器读取舱体与基准之间的压差，并考虑了温度影响，根据理想气体状态方程对所测差压进行了补偿，可用于检测大型航天器舱体的漏率。中国专利(公告号CN102087159B)公开了一种双基准物的差压检漏方法，可通过两个很小的基准物即可实现精确的差压检漏，且无需测量舱体与基准内本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种基于差压原理的无损检漏方法，其特征在于，所述方法包括：充气步骤：选取与待检密封容器相同的基准物，测量基准物漏率，并向基准物中充入气体，使之与待检密封容器内部压力相同；密封步骤：将待检密封容器及基准物分别装入两个相同的检测罐体内并密封，两个检测罐体间均通过隔离阀门与差压传感器连通；抽气步骤：关闭隔离阀门，打开抽气阀门，将检测罐体内部与待检密封容器之间的腔体、测罐体内部与基准物之间的腔体均抽至检漏所需压力形成真空室；累积步骤：关闭抽气阀门，平衡预设时间段后打开隔离阀门，开始累积，通过差压传感器测量累积前后两个检测罐体内部的压力差，计算出待检密封容器的整体漏率。

【技术特征摘要】
1.一种基于差压原理的无损检漏方法，其特征在于，所述方法包括：充气步骤：选取与待检密封容器相同的基准物，测量基准物漏率，并向基准物中充入气体，使之与待检密封容器内部压力相同；密封步骤：将待检密封容器及基准物分别装入两个相同的检测罐体内并密封，两个检测罐体间均通过隔离阀门与差压传感器连通；抽气步骤：关闭隔离阀门，打开抽气阀门，将检测罐体内部与待检密封容器之间的腔体、测罐体内部与基准物之间的腔体均抽至检漏所需压力形成真空室；累积步骤：关闭抽气阀门，平衡预设时间段后打开隔离阀门，开始累积，通过差压传感器测量累积前后两个检测罐体内部的压力差，计算出待检密封容器的整体漏率。2.根据权利要求1所述的基于差压原理的无损检漏方法，其特征在于，基准物与待检密封容器的形状、尺寸、材质均相同。3.根据权利要求1所述的基于差压原理的无损检漏方法，其特征在于，2个检测罐体分别各自通过一个抽气管与真空泵组连通，2个抽气阀门分别安装在2个抽气管上，2个抽气管各自的另一端分别与2个检测罐体连通；2个隔离管各自的一端分别与2个检测罐体连通，2个隔离管各自的另一端均与差压传感器连通，2个隔离阀门分别安装在2个隔离管上。4.根据权利要求1所述的基于差压原理的无损检漏方法，其特征在于，待检密封容器为密封产品且内部充有一定压力的气体。5.根据权利要求1所述的基于差压原理的无损检漏方法，其特征在于，检测罐体本底漏率小于基准物的实际漏率。6.根据权利要求1所述的基于差压原理的无损检漏方法，其特征在于，检漏操作完成后，根据以下公式计算待检密封容器的整体漏率：Q＝Q0+ΔPV/t-Q1其中，Q为待检密封容器的整体漏率，单位为Pa.m3/s；Q0为氦质谱检漏仪所测得的基准物的整体漏率，单位为Pa.m3/s；ΔP为累计时间内待测物真空室压升与基准物...

【专利技术属性】
技术研发人员：焦思程，孙鹏飞，张连新，梁明峰，曹鹏辉，蒲洁，吴祉群，何建国，
申请(专利权)人：中国工程物理研究院机械制造工艺研究所，
类型：发明
国别省市：四川,51