光度计制造技术

一种光度计(100)，具备光源(1)以及配置在从光源(1)射出的光的光路P上的光学元件(30)以及检测器(5)，该光度计(100)具备：减光滤光器(24a)，其配置在光路P上且光源(1)与光学元件(30)之间，一边对从光源(1)射出的光的一部分进行遮蔽一边使剩余部分的光透过；以及状态监视部(83)，其通过在与光学元件(30)相比靠后级侧的位置监测透过了减光滤光器(24a)的光，来监视光源(1)和光学元件(30)是否处于稳定状态。

【技术实现步骤摘要】
【国外来华专利技术】光度计
本专利技术涉及一种通过从光源向试样照射光并检测该光的透射光或反射光来测定该试样的透射率、反射率或者吸光度等的光度计。
技术介绍
在作为光度计的一种的分光光度计中，在从光源射出的光(光源光)的光路上配置有分光器、试样(或者，液体/气体试样所流经的试样池)以及检测器，通过利用检测器对从光源射出并被分光器分光之后透过了试样的光(或者，被试样反射的光)进行检测，来确定试样的透射率、反射率、吸光度等。也有时将分光器配置在试样的后级侧来对透过试样后的光(或者，被试样反射后的光)进行分光。在分光光度计中大多使用重氢灯或卤素灯等来作为光源时，这些光源在点亮之后不久的期间内光量不稳定，至少在经过一个小时左右之后光量才开始稳定。因此，分光光度计一旦装置的电源被接通，大多保持光源点亮的状态直到该电源被切断为止。也就是说，即使测定结束，只要装置的电源不被切断，光源就不会熄灭，在测定与测定之间的时间段(装置为待机状态的时间段)，光源也保持点亮。一般地，在分光光度计中，在光源光的光路上不仅配置试样和检测器，还配置反射镜或透镜、分光元件等各种光学元件。这些光学元件一般由于接收光而一点点地劣化。例如，用铝覆盖玻璃所得到的反射镜由于持续接收光(特别是紫外线)而一点点地发生模糊，从而反射率降低。在分光光度计中，由于光学元件的劣化导致测定的噪声，因此需要定期地更换光学元件。光学元件的更换寿命由光学元件接收的光能的大小、光学元件接收光的时间的长度决定。例如，在分光光度计中将紫外线的强度大的重氢灯用于光源的情况下，由于光学元件接收的光能大，因此光学元件的更换寿命特别短。而且，在分光光度计中，由于如上述那样在没有进行测定的待机状态的时间段也持续点亮光源，因此光学元件的劣化不必要地发生。因此，例如在专利文献1中提出了如下一种结构：在光源与试样池之间设置挡板，在不进行测定的期间，利用该挡板遮蔽光源光来避免光入射到试样池及其后级的光学元件。根据该结构，能够防止光学元件的不必要的劣化。专利文献1：国际公开第2013/140617号
技术实现思路
专利技术要解决的问题如上所述，分光光度计的光源在点亮之后不久的期间光量是不稳定的，在该光量稳定之前无法获得能够信赖的测定数据。另外，在光源点亮之后不久的期间由于该光源发热导致分光光度计的内部空间的温度上升，在发生了这样的温度变化的期间，光学元件或支承该光学元件的构件轻微地变形，光学元件发生移动。于是，光源光的光路偏离期望的位置，期望的量的光不会到达检测器。在这种状态的期间，也无法获得能够信赖的测定数据。在专利文献1的结构中，在光路上放置有挡板的期间，光源光完全不会到达与挡板相比靠后级侧的光学元件和检测器等，因此在该期间没有办法掌握光源和光学元件的状态。因而，在从用户发出测定开始的指示并与之相应地将挡板从光路上去除之后，例如观察经由光学元件到达检测器的光量的推移，并确认光源和光学元件是否处于稳定状态(即，分光光度计是否处于能够获得能够信赖的测定数据的状态)，在能够做出该确认之后开始进行测定。然而，根据该方法，在从用户发出测定开始的指示起直到实际开始测定为止发生时间滞后。这种情况并不限于分光光度计，也适用于不具备分光器的各种光度计。本专利技术是鉴于这种问题而完成的，其目的在于提供一种能够不发生测定开始的延迟地抑制光学元件的不必要的劣化的技术。用于解决问题的方案为了解决上述问题而完成的本专利技术是一种光度计，具备光源以及配置在从所述光源射出的光的光路上的光学元件及检测器，该光度计具备：减光滤光器，其配置在所述光路上且所述光源与所述光学元件之间，一边遮蔽从所述光源射出的光的一部分一边使剩余部分的光透过；以及状态监视部，其通过在与所述光学元件相比靠后级侧的位置监测透过了所述减光滤光器的光，来监视所述光源和所述光学元件是否处于稳定状态。根据该结构，从光源射出的光的一部分被减光滤光器遮蔽，因此能够抑制被配置在该光的光路上的光学元件的不必要的劣化。另外，在从光源射出的光的一部分未被减光滤光器遮蔽而透过时，利用该透过后的光来监视光源和光学元件是否处于稳定状态，因此在从用户接收到测定开始的指示时，立即判明这些光源和光学元件是否处于稳定状态(即，是否处于能够测定的状态)。因而，在从用户发出测定开始的指示起直到实际开始测定为止不会发生时间滞后。优选的是，所述光度计还具备位置变更部，该位置变更部使所述减光滤光器在从所述光源射出的光的光路上的位置与偏离所述光路的位置之间移动。在该结构中，例如在待机状态的期间将减光滤光器配置在从光源射出的光的光路上的位置，在进行测定的期间将减光滤光器配置在偏离该光路的位置，通过以这种方式变更减光滤光器的位置，能够在待机状态的期间抑制光学元件不必要地劣化，并且能够以充足的光量进行高精度的测定。优选的是，所述光度计具备：透射率不同的多个滤光器；以及减光滤光器选择部，其将从所述多个滤光器中选择出的一个滤光器作为所述减光滤光器配置在所述光路上的位置。根据该结构，能够切换减光滤光器的透射率。例如在待机状态的期间选择透射率比较低的滤光器来作为减光滤光器并将该滤光器配置在光路上的位置，在进行测定的期间选择透射率比较高的滤光器来作为减光滤光器并将该滤光器配置在光路上的位置，通过以这种方式切换减光滤光器的透射率，能够在待机状态的期间抑制光学元件不必要地劣化，并且能够以足够的光量进行高精度的测定。优选的是，所述光度计的所述状态监视部通过监测由所述检测器检测到的光量来监视所述光源和所述光学元件是否处于稳定状态。根据该结构，使用用于测定试样的检测器来监视装置的状态，因此能够抑制部件数量。专利技术的效果根据本专利技术，从光源射出的光的一部分被减光滤光器遮蔽，因此能够抑制被配置在该光的光路上的光学元件的不必要的劣化。另一方面，从光源射出的光的一部分未被减光滤光器遮蔽而透过，利用该透过后的光来监视光源和光学元件是否处于稳定状态，因此在从用户发出测定开始的指示起直到实际开始测定为止也不会发生时间滞后。因而，能够不发生测定开始的延迟地抑制光学元件的不必要的劣化。附图说明图1是表示实施方式所涉及的分光光度计的概要结构的框图。图2是示意性地表示遮蔽部的结构的图。图3是表示用于设定遮蔽部的透射率的设定画面的结构例的图。图4是示意性地表示待机时的分光光度计的状态的图。图5是示意性地表示测定时的分光光度计的状态的图。图6是示意性地表示测定时的分光光度计的其它状态的图。图7是表示汇总光学元件的寿命及测定时的噪声根据遮蔽部的透射率如何变化的表的图。图8是表示从检测器获得的检测信号的推移的例子的图。图9是用于说明分光光度计的动作的流程的图。图10是表示变形例所涉及的状态监视部的结构的图。具体实施方式以下，参照所附附图对本专利技术的实施方式进行说明。以下的实施方式是将本专利技术具体化的一例，并不用于限定本专利技术的保护范围。<1.分光光度计的整体结构>参照图1对实施方式所涉及的光度计(在此，作为一例是分光光度计)的整体结构进行说明。图1是表示分光光度计100的概要结构的框图。分光光度计100具备测光部10和控制/处理部20。测光部10具备光源1。光源1例如由重氢灯构成。在从光源1射出的光的光路P上配置遮蔽部2。遮蔽部2是一边对所入射的光的一部分进行遮蔽一边使剩余部本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种光度计，具备光源以及配置在从所述光源射出的光的光路上的光学元件及检测器，该光度计具备：减光滤光器，其配置在所述光路上且所述光源与所述光学元件之间，一边对从所述光源射出的光的一部分进行遮蔽一边使剩余部分的光透过；以及状态监视部，其通过在与所述光学元件相比靠后级侧的位置监测透过了所述减光滤光器的光，来监视所述光源和所述光学元件是否处于稳定状态。

【技术特征摘要】
【国外来华专利技术】1.一种光度计，具备光源以及配置在从所述光源射出的光的光路上的光学元件及检测器，该光度计具备：减光滤光器，其配置在所述光路上且所述光源与所述光学元件之间，一边对从所述光源射出的光的一部分进行遮蔽一边使剩余部分的光透过；以及状态监视部，其通过在与所述光学元件相比靠后级侧的位置监测透过了所述减光滤光器的光，来监视所述光源和所述光学元件是否处于稳定状态。2.根据权利要求1所述的光度计，其特征在于，还具备位置变更...

【专利技术属性】
技术研发人员：东郷宽之，辻真二，
申请(专利权)人：株式会社岛津制作所，
类型：发明
国别省市：日本,JP