一种测试设备及测试方法技术

本申请公开了一种测试设备，包括：连接单元和处理单元，该连接单元与该处理单元连接；该连接单元用于连接至少两个待测外插卡，该处理单元通过该连接单元同时获取该至少两个待测外插卡对应的目标信息，并对该至少两个待测外插卡对应的目标信息进行处理，以得到分析结果。本申请实施例还提供相应的测试方法。本申请技术方案由于可以同时连接多个外插卡进行测试，提高了外插卡的测试效率。

【技术实现步骤摘要】
一种测试设备及测试方法
本申请涉及测试
，具体涉及一种测试设备及测试方法。
技术介绍
高速外围组件互连(peripheralcomponentinterconnectexpress，PCIE)外插卡是服务器系统和存储系统必不可少的关键部件。在PCIE外插卡的研发和生产过程中，PCIE外插卡的测试一般是直接在所需配备PCIE外插卡的服务器主板或者存储主板上进行测试，而这些主板上的PCIE插槽数量较少，面对PCIE外插卡的批量化测试则表现出测试效率较低问题。由此可见，如何提高外插卡的测试效率是一个需要解决的问题。
技术实现思路
本申请实施例提供一种测试设备及测试方法，可以同时连接多个待测外插卡进行测试，可以提高外插卡的测试效率。为了达到上述目的，本申请实施例提供了如下技术方案：本申请第一方面提供一种测试设备，该测试设备可以包括：连接单元和处理单元，所述连接单元与所述处理单元连接；所述连接单元用于连接至少两个待测外插卡，所述处理单元通过所述连接单元同时获取所述至少两个待测外插卡对应的目标信息，并对所述至少两个待测外插卡对应的目标信息进行处理，以得到分析结果。可选地，结合上述第一方面，在第一种可能的实现方式中，所述连接单元包括第一芯片、至少两个插槽、第二芯片和至少两个状态指示灯，其中，所述第一芯片与所述至少两个插槽连接，所述第二芯片与所述至少两个状态指示灯连接；所述第一芯片用于控制所述至少两个插槽，所述第二芯片用于控制所述至少两个状态指示灯，所述至少两个插槽与所述至少两个状态指示灯的数量相同，所述至少两个插槽与所述至少两个状态指示灯一一对应，所述至少两个插槽用于连接所述至少两个待测外插卡，所述至少两个状态指示灯用于指示所述至少两个待测外插卡的连接(LINK)状态。可选地，结合上述第一方面第一种可能的实现方式，在第二种可能的实现方式中，当所述至少两个状态指示灯中的一个常亮时，指示对应的插槽连接的待测外插卡的所述LINK状态正常；当所述至少两个状态指示灯中的一个闪烁时，指示对应的插槽连接的待测外插卡的所述LINK状态异常。可选地，结合上述第一方面、第一方面第一种和第二种中任意一种可能的实现方式，在第三种可能的实现方式中，所述待测外插卡包括高速外围组件互连PCIE外插卡。可选地，结合上述第一方面、第一方面第一种和第二种中任意一种可能的实现方式，在第四种可能的实现方式中，所述目标信息包括LINK状态信息和带宽信息。本申请第二方面提供一种测试方法，该测试方法可以包括：测试设备控制连接单元连接至少两个待测外插卡；所述测试设备控制处理单元通过所述连接单元同时获取所述至少两个待测外插卡对应的目标信息；所述测试设备控制所述处理单元对所述至少两个待测外插卡对应的目标信息进行处理，以得到分析结果。可选地，结合上述第二方面，在第一种可能的实现方式中，所述连接单元包括第一芯片、至少两个插槽、第二芯片和至少两个状态指示灯，并且，所述第一芯片与所述至少两个插槽连接，所述第二芯片与所述至少两个状态指示灯连接；所述测试设备控制连接单元连接至少两个待测外插卡，包括：所述测试设备通过所述第一芯片控制所述至少两个插槽连接所述至少两个待测外插卡；所述测试方法还包括：所述测试设备通过所述第二芯片控制所述至少两个状态指示灯。可选地，结合上述第二方面第一种可能的实现方式，在第二种可能的实现方式中，所述测试方法还包括：当所述测试设备通过所述第二芯片控制所述至少两个状态指示灯中的一个常亮时，指示对应的插槽连接的待测外插卡的连接LINK状态正常；当所述测试设备通过所述第二芯片控制所述至少两个状态指示灯中的一个闪烁时，指示对应的插槽连接的待测外插卡的所述LINK状态异常。可选地，结合上述第二方面、第二方面第一种和第二种中任意一种可能的实现方式，在第三种可能的实现方式中，所述待测外插卡包括高速外围组件互连PCIE外插卡。可选地，结合上述第二方面、第二方面第一种和第二种中任意一种可能的实现方式，在第四种可能的实现方式中，所述目标信息包括LINK状态信息和带宽信息。从以上方案中可以看出，本申请提供的测试设备可以通过连接单元同时连接至少两个待测外插卡，同时，测试设备的处理单元可以通过连接单元同时获取这些待测外插卡对应的目标信息并对目标信息进行处理得到分析结果，从而实现同时测试多个外插卡的目的，提高了外插卡的测试效率。附图说明图1是本申请实施例中测试设备一个实施例示意图；图2是本申请实施例中连接单元一个实施例示意图；图3是本申请实施例中测试方法一个实施例示意图。具体实施方式下面结合附图，对本申请的实施例进行描述，显然，所描述的实施例仅仅是本申请一部分的实施例，而不是全部的实施例。本领域普通技术人员可知，随着图计算框架的演变和新应用场景的出现，本申请实施例提供的技术方案对于类似的技术问题，同样适用。本申请实施例提供了一种测试设备和测试方法，该测试设备可以通过连接单元同时连接至少两个待测外插卡，同时，测试设备的处理单元可以通过连接单元同时获取这些待测外插卡对应的目标信息并对目标信息进行处理得到分析结果，从而同时对多个外插卡进行测试，提高了外插卡的测试效率。本申请的说明书和权利要求书及上述附图中的术语“第一”、“第二”等是用于区别类似的对象，而不必用于描述特定的顺序或先后次序。应该理解这样使用的数据在适当情况下可以互换，以便这里描述的实施例能够以除了在这里图示或描述的内容以外的顺序实施。此外，术语“包括”和“具有”以及他们的任何变形，意图在于覆盖不排他的包含，例如，包含了一系列步骤或模块的过程、方法、系统、产品或设备不必限于清楚地列出的那些步骤或模块，而是可包括没有清楚地列出的或对于这些过程、方法、产品或设备固有的其它步骤或模块。在本申请中出现的对步骤进行的命名或者编号，并不意味着必须按照命名或者编号所指示的时间/逻辑先后顺序执行方法流程中的步骤，已经命名或者编号的流程步骤可以根据要实现的技术目的变更执行次序，只要能达到相同或者相类似的技术效果即可。本申请中所出现的模块的划分，是一种逻辑上的划分，实际应用中实现时可以有另外的划分方式，例如多个模块可以结合成或集成在另一个系统中，或一些特征可以忽略，或不执行，另外，所显示的或讨论的相互之间的耦合或直接耦合或通信连接可以是通过一些接口，模块之间的间接耦合或通信连接可以是电性或其他类似的形式，本申请中均不作限定。并且，作为分离部件说明的模块或子模块可以是也可以不是物理上的分离，可以是也可以不是物理模块，或者可以分布到多个电路模块中，可以根据实际的需要选择其中的部分或全部模块来实现本申请方案的目的。本申请实施例可应用于外插卡研发或制造过程中。PCIE外插卡是一种典型的外插卡类型，PCIE外插卡是服务器系统和存储系统中必不可少的关键部件。随着服务器技术和存储技术的高速发展，对PCIE外插卡的需求也越来越大。在使用PCIE外插卡前，通常需要对PCIE外插卡进行异常分析，以保证PCIE外插卡可以正常工作。在传统的测试方法中，PCIE外插卡一般只能直接在需要配备PCIE外插卡的服务器主板或者存储主板上进行测试，然而这些主板上的外插卡插槽往往数量较少，所以测试效率较低，本申请实施例可以同时对数量较多的外插卡进行测试，提高外插卡的测试本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种测试设备，其特征在于，包括：连接单元和处理单元，所述连接单元与所述处理单元连接；所述连接单元用于连接至少两个待测外插卡，所述处理单元通过所述连接单元同时获取所述至少两个待测外插卡对应的目标信息，并对所述至少两个待测外插卡对应的目标信息进行处理，以得到分析结果。

【技术特征摘要】
1.一种测试设备，其特征在于，包括：连接单元和处理单元，所述连接单元与所述处理单元连接；所述连接单元用于连接至少两个待测外插卡，所述处理单元通过所述连接单元同时获取所述至少两个待测外插卡对应的目标信息，并对所述至少两个待测外插卡对应的目标信息进行处理，以得到分析结果。2.根据权利要求1所述的测试设备，其特征在于，所述连接单元包括第一芯片、至少两个插槽、第二芯片和至少两个状态指示灯，其中，所述第一芯片与所述至少两个插槽连接，所述第二芯片与所述至少两个状态指示灯连接；所述第一芯片用于控制所述至少两个插槽，所述第二芯片用于控制所述至少两个状态指示灯，所述至少两个插槽与所述至少两个状态指示灯的数量相同，所述至少两个插槽与所述至少两个状态指示灯一一对应，所述至少两个插槽用于连接所述至少两个待测外插卡，所述至少两个状态指示灯用于指示所述至少两个待测外插卡的连接LINK状态。3.根据权利要求2所述的测试设备，其特征在于，当所述至少两个状态指示灯中的一个常亮时，指示对应的插槽连接的待测外插卡的所述LINK状态正常；当所述至少两个状态指示灯中的一个闪烁时，指示对应的插槽连接的待测外插卡的所述LINK状态异常。4.根据权利要求1-3任一所述的测试设备，其特征在于，所述待测外插卡包括高速外围组件互连PCIE外插卡。5.根据权利要求1-3任一所述的测试设备，其特征在于，所述目标信息包括LINK状态信息...

【专利技术属性】
技术研发人员：董术永，高阳，宋开鑫，
申请(专利权)人：郑州云海信息技术有限公司，
类型：发明
国别省市：河南,41