【技术实现步骤摘要】
一种提高单晶取向检测精度和效率的样品台
本专利技术属于检测
,具体涉及一种提高单晶取向检测精度和效率的样品台。
技术介绍
X射线衍射法是检测材料晶体结构的主要手段,目前应用多晶衍射仪进行单晶取向检测的方法已有研究报道,较Laue法有过程简单、周期短,能够满足生产大量单晶取向检测的需要。多晶衍射仪进行单晶取向检测时,需要配备旋转装置对晶体进行旋转,以使晶体在旋转至某一角度时满足布拉格衍射条件,在接收器接受到衍射信号,获得衍射谱图,最后计算出取向角度,这种方法通常称为旋转晶体法。旋转法检测单晶取向的精度与旋转装置的设计密切相关,该装置包括旋转台和样品台,样品台由上、下面平行的金属条和橡皮泥组成,使用时将试样压平固定在金属条上,再将此样品台固定在旋转台上,每次都需要将试样检测面调整至设备检测面,检测效率和精度较低。
技术实现思路
为解决上述技术问题,本专利技术提供了一种提高单晶取向检测精度和效率的样品台。本专利技术通过以下技术方案得以实现。本专利技术提供的一种提高单晶取向检测精度和效率的样品台,包括薄板、黏土块以及金属管,其中,薄板为圆形板,外径大于金属管的内径,薄板的中央处设有小孔;黏土块置于金属管中;使用时,将待检测样本置于黏土块上,并将薄板盖于待检测样本上,通过薄板上的小孔对待检测样本进行检测。进一步的,所述薄板为金属薄板。进一步的,所述薄板中央处设置的小孔的孔径大小为3-10mm。进一步的,所述薄板的外径大小与金属管的外径大小相同。进一步的,所述金属管的上下两端面相互平行。进一步的,所述薄板的厚度为0.1-1mm。进一步的,所述黏土块使用橡皮泥制成。进 ...
【技术保护点】
1.一种提高单晶取向检测精度和效率的样品台,其特征在于:包括薄板(1)、黏土块(3)以及金属管(4),其中,薄板(1)为圆形板,外径大于金属管(4)的内径,薄板(1)的中央处设有小孔;黏土块(3)置于金属管(4)中;使用时,将待检测样本(2)置于黏土块(3)上,并将薄板(1)盖于待检测样本(2)上,通过薄板(1)上的小孔对待检测样本进行检测。
【技术特征摘要】
1.一种提高单晶取向检测精度和效率的样品台,其特征在于:包括薄板(1)、黏土块(3)以及金属管(4),其中,薄板(1)为圆形板,外径大于金属管(4)的内径,薄板(1)的中央处设有小孔;黏土块(3)置于金属管(4)中;使用时,将待检测样本(2)置于黏土块(3)上,并将薄板(1)盖于待检测样本(2)上,通过薄板(1)上的小孔对待检测样本进行检测。2.如权利要求1所述的提高单晶取向检测精度和效率的样品台,其特征在于:所述薄板(1)为金属薄板。3.如权利要求1所述的提高单晶取向检测精度和效率的样品台,其特征在于:所述薄板(1)中央处设置的小孔的孔径大小为3-10mm。4.如权利要求1所述的提高单晶...
【专利技术属性】
技术研发人员:杨玉川,
申请(专利权)人:中国航发贵州黎阳航空动力有限公司,
类型:发明
国别省市:贵州,52
还没有人留言评论。发表了对其他浏览者有用的留言会获得科技券。