【技术实现步骤摘要】
一种验证方法、装置及计算机可读存储介质
本专利技术涉及仿真验证领域，尤其涉及一种验证方法、装置及计算机可读存储介质。
技术介绍
在数字逻辑设计领域，尤其是在数字集成电路(IC，IntegratedCircuit)中，随着IC工艺技术的提升，电路不仅规模越来越大，而且支持的功能也越来越多。因此，验证完备性对于芯片至关重要，而功能覆盖率是衡量数字逻辑功能验证完备性的一个重要指标。SystemVerilog语言作为当前主流的数字逻辑验证语言，提供了随机、约束以及功能覆盖组等特性。与定向测试相比，SystemVerilog场景模拟的复杂性以及测试效率都有大幅提升。但是，由于存在随机的特性，使得功能点最终的覆盖情况必须要通过功能覆盖率来衡量，这就产生了功能覆盖率驱动的验证技术。然而，随机的特点是不可预知性，这样便带来了一个问题，即待测装置越复杂，功能点越多，出现重复的随机测试值的次数也就越多，当功能覆盖率越接近100％时，随机测试值重复的概率也越大，随机有效命中率就越低，甚至成百上千次的随机操作所产生的测试值仅使得功能覆盖率增长一点点，导致功能覆盖率的收敛速度往往比较慢。专...
【技术保护点】
1.一种验证方法，其特征在于，所述方法包括：获取随机测试值；基于所述随机测试值测试功能覆盖组，获得测试后所述功能覆盖组的累计功能覆盖率；确定所述测试后所述功能覆盖组的累计功能覆盖率大于测试前所述功能覆盖组的累计功能覆盖率时，将所述随机测试值作为待测装置的输入测试值。
【技术特征摘要】
1.一种验证方法，其特征在于，所述方法包括：获取随机测试值；基于所述随机测试值测试功能覆盖组，获得测试后所述功能覆盖组的累计功能覆盖率；确定所述测试后所述功能覆盖组的累计功能覆盖率大于测试前所述功能覆盖组的累计功能覆盖率时，将所述随机测试值作为待测装置的输入测试值。2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述方法还包括：确定所述测试后所述功能覆盖组的累计功能覆盖率等于所述测试前所述功能覆盖组的累计功能覆盖率时，舍弃所述随机测试值。3.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述基于所述随机测试值测试功能覆盖组，获得测试后所述功能覆盖组的累计功能覆盖率之前，所述方法还包括：获取测试前所述功能覆盖组的累计功能覆盖率。4.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述确定所述测试后所述功能覆盖组的累计功能覆盖率大于测试前所述功能覆盖组的累计功能覆盖率时，将所述随机测试值作为待测装置的输入测试值之后，所述方法还包括：存储所述随机测试值至队列或数组。5.一种验证装置，其特征在于，所述装置包括：获取模块、测试模块和处理模块；其中，所述获取模块，用于获取随机测试值；...
【专利技术属性】
技术研发人员：李鹏飞，
申请(专利权)人：深圳市中兴微电子技术有限公司，
类型：发明
国别省市：广东,44
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