【技术实现步骤摘要】
太赫兹时域光谱仪
本专利技术涉及太赫兹光谱
，尤其涉及一种太赫兹时域光谱仪。
技术介绍
太赫兹时域光谱技术是太赫兹光谱技术中的一种新兴、非常有效的电磁辐射位相相干探测技术，能对物质光谱特性、组成结构、分子振动转动特性进行有效地分析和深入的研究，可对样品进行定性分析，已被广泛应用于生物医学、化学、农业、医学制药、材料、食品、药品检测等领域。在实际应用过程中，根据不同的样品及测试要求，可将不同的如扫描成像测试装置、透射谱测试装置等测试装置连接到太赫兹时域光谱仪的主机上以获取样品的测试数据，其中，扫描成像及谱线测试均为较为常用的测试手段。然而，传统的太赫兹时域光谱仪在进行扫描成像时，需将扫描成像测试装置叠放安装于主机上方，并调试相应参数，而在进行谱线测试时，又需拆卸该扫描成像测试装置才可使用透射谱测试装置对样品进行谱线测试，导致在进行不同样品信息的测量时，需频繁拆装并重新调试扫描成像测试装置，操作十分繁琐、不便利。
技术实现思路
本专利技术的目的在于提供一种太赫兹时域光谱仪，旨在解决现有太赫兹时域光谱仪变换测试模式时，总需频繁拆装并重新调试扫描成像测试装置的问题。为解...
【技术保护点】
1.一种太赫兹时域光谱仪，至少能够与反射成像装置/透射谱测试装置配合使用，其特征在于，包括：光谱仪主机体，包括用于产生太赫兹波的太赫兹发生器以及与所述太赫兹发生器连接的安装配合结构，所述安装配合结构与所述反射成像装置/所述透射谱测试装置可拆卸连接，所述太赫兹发生器在与所述反射成像装置配合使用时能够进行扫描成像作业，而在与所述透射谱测试装置配合使用时能够进行透射谱测试作业；样品承载结构，用于承载测试样品，具有扫描作业位置和扫描待业位置，所述样品承载结构在所述扫描作业位置时供所述太赫兹发生器扫描所述测试样品，所述样品承载结构在所述扫描待业位置时避让所述反射成像装置/所述透射谱测...
【技术特征摘要】
1.一种太赫兹时域光谱仪，至少能够与反射成像装置/透射谱测试装置配合使用，其特征在于，包括：光谱仪主机体，包括用于产生太赫兹波的太赫兹发生器以及与所述太赫兹发生器连接的安装配合结构，所述安装配合结构与所述反射成像装置/所述透射谱测试装置可拆卸连接，所述太赫兹发生器在与所述反射成像装置配合使用时能够进行扫描成像作业，而在与所述透射谱测试装置配合使用时能够进行透射谱测试作业；样品承载结构，用于承载测试样品，具有扫描作业位置和扫描待业位置，所述样品承载结构在所述扫描作业位置时供所述太赫兹发生器扫描所述测试样品，所述样品承载结构在所述扫描待业位置时避让所述反射成像装置/所述透射谱测试装置，以使所述反射成像装置/所述透射谱测试装置能够安装至所述光谱仪主机体或从所述光谱仪主机体拆离；扫描驱动装置，用于驱动所述样品承载结构往复运动于所述扫描作业位置和所述扫描待业位置之间，并用于驱动所述样品承载结构在所述样品承载结构处于所述扫描作业位置时进行扫描动作。2.如权利要求1所述的太赫兹时域光谱仪，其特征在于，所述扫描驱动装置包括与所述样品承载结构连接的横向驱动装置以及与所述横向驱动装置连接的纵向驱动装置，所述横向驱动装置用于驱动所述样品承载结构在所述样品承载结构处于所述扫描作业位置时进行横向扫描作业，所述纵向驱动装置用于驱动所述样品承载结构往复运动于所述扫描作业位置和所述扫描待业位置之间，并用于驱动所述样品承载结构在所述样品承载结构处于所述扫描作业位置时进行纵向扫描作业。3.如权利要求2所述的太赫兹时域光谱仪，其特征在于，所述纵向驱动装置包括纵向滑轨以及沿所述纵向滑轨滑动的纵向滑块，所述纵向滑块与所述横向驱动装置连接，所述纵向驱动装置还包括纵向驱动器以及与所述纵向驱动器电性连接的纵向电连接器和/或纵向微控旋钮，所述纵向驱动器用于驱动所述纵向滑块在所述样品承载结构处于所述扫描作业位置时沿所述纵向滑轨滑动，所述纵向电连接器用于与所述光谱仪主机体电性连接，并用于控制所述纵向滑块沿...
【专利技术属性】
技术研发人员：何坚兵，刘永祯，赵洪美，潘奕，黄培雄，
申请(专利权)人：深圳市太赫兹科技创新研究院有限公司，雄安华讯方舟科技有限公司，
类型：发明
国别省市：广东,44
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