一种太赫兹检测装置制造方法及图纸

本申请提出了一种太赫兹检测装置。太赫兹检测装置包括：第一激光器，产生第一输出光束；第二激光器，产生第二输出光束，其中，第一输出光束的波长与第二输出光束的波长不同；光纤耦合器，分别与第一激光器和第二激光器耦接，用于产生第一发射光束、第二发射光束、第一接收光束和第二接收光束；发射电路，与光纤耦合器耦接，用于产生第一太赫兹发射信号和第二太赫兹发射信号，将第一太赫兹发射信号发射至第一样品表面，将第二太赫兹发射信号发射至第二样品表面；接收电路，与光纤耦合器耦接，用于接收通过第一样品表面的第一太赫兹发射信号和通过第二样品表面的第二太赫兹发射信号。本申请的太赫兹检测装置能够同时检测两组被测样品的时域光谱。

【技术实现步骤摘要】
一种太赫兹检测装置
本申请涉及光谱技术相关领域，具体涉及一种太赫兹检测装置。
技术介绍
现有的太赫兹时域光谱仪一般采用单一激光器，因此只能输出一组太赫兹信号，从而检测单组的被测样品。当需要检测多组被测样品，只能分步检测，无法同时检测多组被测样品。
技术实现思路
本申请提供一种太赫兹检测装置，以解决现有技术中太赫兹时域光谱仪无法同时检测多组被测样品的问题。为解决上述技术问题，本申请提供了一种太赫兹检测装置，所述太赫兹检测装置包括：第一激光器，产生第一输出光束；第二激光器，产生第二输出光束，其中，所述第一输出光束的波长与所述第二输出光束的波长不同；光纤耦合器，分别与所述第一激光器和所述第二激光器耦接，用于耦合所述第一输出光束和所述第二输出光束，并产生第一发射光束、第二发射光束、第一接收光束和第二接收光束；发射电路，与所述光纤耦合器耦接，用于从第二光纤耦合器接收到所述第一发射光束和所述第二发射光束，并产生第一太赫兹发射信号和第二太赫兹发射信号，将所述第一太赫兹发射信号发射至第一样品表面，将所述第二太赫兹发射信号发射至第二样品表面；接收电路，与所述光纤耦合器耦接，用于接收通过所述第一样品表面的第一太赫兹发射信号和通过所述第二样品表面的第二太赫兹发射信号。在本申请中，太赫兹检测装置包括：太赫兹检测装置包括：第一激光器，产生第一输出光束；第二激光器，产生第二输出光束，其中，第一输出光束的波长与第二输出光束的波长不同；光纤耦合器，分别与第一激光器和第二激光器耦接，用于耦合第一输出光束和第二输出光束，并产生第一发射光束、第二发射光束、第一接收光束和第二接收光束；发射电路，与光纤耦合器耦接，用于从第二光纤耦合器接收到第一发射光束和第二发射光束，并产生第一太赫兹发射信号和第二太赫兹发射信号，将第一太赫兹发射信号发射至第一样品表面，将第二太赫兹发射信号发射至第二样品表面；接收电路，与光纤耦合器耦接，用于接收通过第一样品表面的第一太赫兹发射信号和通过第二样品表面的第二太赫兹发射信号。通过该太赫兹检测装置可以获得两组太赫兹发射信号和两组太赫兹接收信号，从而同时检测第一样品和第二样品。附图说明为了更清楚地说明本专利技术实施例中的技术方案，下面将对实施例描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本专利技术的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。其中：图1是本申请太赫兹时域光谱检测装置一实施例的结构示意图；图2是本申请太赫兹时域光谱检测装置另一实施例的结构示意图；图3是本申请宽频可调谐太赫兹检测装置一实施例的结构示意图；图4是本申请检测装置一实施例的结构示意图。具体实施方式下面将结合本申请实施例中的附图，对本申请实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述。可以理解的是，此处所描述的具体实施例仅用于解释本申请，而非对本申请的限定。另外还需要说明的是，为了便于描述，附图中仅示出了与本申请相关的部分而非全部结构。基于本申请中的实施例，本领域普通技术人员在没有作出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本申请保护的范围。本申请的太赫兹时域光谱检测装置，用于利用飞秒级脉冲产生并探测时间分辨的太赫兹电场，然后通过傅里叶变换等算法获得被测样品的光谱信息。由于组成样品的大分子的振动和转动能级大多在太赫兹波段，而大分子，特别是生物和化学大分子是具有本身物性的物质集团，进而可以利用本申请的太赫兹时域光谱检测装置通过特征频率对物质结构、物性等进行分析和鉴定，从而分析出样品的性质。本申请提出了一种太赫兹时域光谱检测装置，具体请参见图1，图1是本申请太赫兹时域光谱检测装置一实施例的结构示意图。太赫兹时域光谱检测装置100包括激励源11、第一光纤耦合器12、至少一个第二光纤耦合器13和发射电路14。其中，激励源11用于输出输出光束。根据激励源11的不同组成类型，激励源11根据不同的原理产生输出光束，例如，本实施例的激励源11可通过电激励、光激励和化学激励中的一种方式产生输出光束。第一光纤耦合器12与激励源11耦接，可以将输出光束分路或合路。在本实施例中，第一光纤耦合器12用于将激励源11输出的输出光束分路为第一输出光束和第二输出光束，其中，第一输出光束和第二输出光束具有相同的性质。第二光纤耦合器13与第一光纤耦合器12的一个输出端耦接，第二光纤耦合器13用于接收第一输出光束，并将第一输出光束分路为第一发射光束和第二发射光束，其中，第一发射光束和第二发射光束具有相同的性质。第二光纤耦合器13输出的第一发射光束和第二发射光束分别接入到发射电路14中，发射电路14包括发射天线(图中未示出)。发射电路14分别对第一发射光束和第二发射光束进行信号处理，得到太赫兹发射信号，然后将处理后的太赫兹发射信号分别通过发射天线发射到样品表面。具体地，发射电路14将第一太赫兹发射信号发射至第一样品表面，发射电路14将第二太赫兹发射信号发射至第二样品表面。与上述发射端对应，太赫兹时域光谱检测装置100进一步包括接收端。具体的，太赫兹时域光谱检测装置100进一步包括至少一个第三光纤耦合器15和接收电路16。其中，第三光纤耦合器15与第一光纤耦合器12的另一输出端耦接，第三光纤耦合器15用于接收第二输出光束，并将第二输出光束分路为第一接收光束和第二接收光束，其中，第一接收光束和第二接收光束具有相同的性质。第三光纤耦合器15输出的第一接收光束和第二接收光束分别接入到接收电路16中，接收电路16包括接收天线(图中未示出)。接收电路16通过接收天线接收通过样品表面的太赫兹发射信号，具体地，接收电路16接收通过第一样品表面的第一太赫兹发射信号，接收电路16接收通过第二样品表面的第二太赫兹发射信号。接收电路16经过第一太赫兹发射信号触发，将第一接收光束转化为关于第一样品的第一太赫兹接收信号；接收电路16经过第二太赫兹发射信号触发，将第二接收光束转化为关于第二样品的第二太赫兹接收信号。其中，接收电路16获取的第一太赫兹接收信号和第二太赫兹接收信号分别能够表征第一样品的时域光谱特性和第二样品的时域光谱特性。在本实施例中，激励源11输出一束输出光束，经过第一光纤耦合器12和第二光纤耦合器13能产生第一太赫兹发射信号和第二太赫兹发射信号，经过第一光纤耦合器12和第三光纤耦合器15能产生第一太赫兹接收信号和第二太赫兹接收信号，从而组成两组检测样品时域光谱的信号组，且两组信号组之间互不干扰。相对于现有技术，本实施例的太赫兹时域光谱检测装置100能够同时产生两组互不干扰的信号组，能够有效提高资源利用率。进一步地，本实施例中只提出了一个第二光纤耦合器15和第三光纤耦合器16，进而产生两组检测样品时域光谱的信号组；在其它实施例中，只需要增加第二光纤耦合器15和/或第三光纤耦合器16的数量，即可获得多组检测样品时域光谱的信号组，从而提高太赫兹时域光谱检测装置100的可扩展性。基于上述太赫兹时域光谱检测装置100，本申请还提出了另一种太赫兹时域光谱检测装置，本实施例的太赫兹时域光谱检测装置具有全光纤化，独立双检测模式，且成本低等优势，具体请参见图2，图2是本申请太赫兹时域光谱检测装置另一实施例的结构示意图。太赫兹时域光谱检测装本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种太赫兹检测装置，其特征在于，所述太赫兹检测装置包括：第一激光器，产生第一输出光束；第二激光器，产生第二输出光束，其中，所述第一输出光束的波长与所述第二输出光束的波长不同；光纤耦合器，分别与所述第一激光器和所述第二激光器耦接，用于耦合所述第一输出光束和所述第二输出光束，并产生第一发射光束、第二发射光束、第一接收光束和第二接收光束；发射电路，与所述光纤耦合器耦接，用于从第二光纤耦合器接收到所述第一发射光束和所述第二发射光束，并产生第一太赫兹发射信号和第二太赫兹发射信号，将所述第一太赫兹发射信号发射至第一样品表面，将所述第二太赫兹发射信号发射至第二样品表面；接收电路，与所述光纤耦合器耦接，用于接收通过所述第一样品表面的第一太赫兹发射信号和通过所述第二样品表面的第二太赫兹发射信号。

【技术特征摘要】
1.一种太赫兹检测装置，其特征在于，所述太赫兹检测装置包括：第一激光器，产生第一输出光束；第二激光器，产生第二输出光束，其中，所述第一输出光束的波长与所述第二输出光束的波长不同；光纤耦合器，分别与所述第一激光器和所述第二激光器耦接，用于耦合所述第一输出光束和所述第二输出光束，并产生第一发射光束、第二发射光束、第一接收光束和第二接收光束；发射电路，与所述光纤耦合器耦接，用于从第二光纤耦合器接收到所述第一发射光束和所述第二发射光束，并产生第一太赫兹发射信号和第二太赫兹发射信号，将所述第一太赫兹发射信号发射至第一样品表面，将所述第二太赫兹发射信号发射至第二样品表面；接收电路，与所述光纤耦合器耦接，用于接收通过所述第一样品表面的第一太赫兹发射信号和通过所述第二样品表面的第二太赫兹发射信号。2.根据权利要求1所述的太赫兹检测装置，其特征在于，所述太赫兹检测装置进一步包括：至少一个温控装置，分别与所述第一激光器和所述第二激光器耦接，用于分别控制所述第一激光器和所述第二激光器的温度，从而使得所述第一激光器产生第四输出光束，所述第二激光器产生第五输出光束；其中，所述第四输出光束的波长与所述第一输出光束的波长不同，所述第五输出光束的波长与所述第二输出光束的波长不同。3.根据权利要求1所述的太赫兹检测装置，其特征在于，所述光纤耦合器进一步包括第一耦合器、第二耦合器和第三耦合器；所述第一耦合器，分别与所述第一激光器和所述第二激光器耦接，用于耦合所述第一输出光束和所述第二输出光束，并产生第三输出光束；所述第二耦合器，与所述第一耦合器的第一输出端耦接，用于接收所述第三输出光束，并将所述第三输出光束分为所述第一发射光束和所述第二发射光束；所述第三耦合器，与所述第一耦合器的第二输出端耦接，用于接收所述第三输出光束，并将所述第三输出光束分为所述第一接收光束和所述第二接收光束。4.根据权利要求3所述的太赫兹检测装置，其特征在于，所述发射电路包括：第一光电导发射天线，与所述第二光纤耦合器耦接，用于从所述第二光纤耦合器接收到所述第一发射光束，使得所述第一发射光束形成第一拍频信号，并产生第一太赫兹发射信号，将所述第一太赫兹发射信号发射至所述第一样品表面；第二光电导发射天线，与所述第二光纤耦合器耦接，用于从所述第二光纤耦合器接收到所述第二发射光束，使得所述第二发射光束产生第二拍频信号，并产生第二太赫兹发射信号，将所述第二太赫兹发射信号发射至所述第二样品表面。5.根据权利要求4所述的太赫兹检测装置，其特征在于，所述发射电路进一步包括：偏置电路，分别与所述第一光电导发射天线和所述第二光电导发射天线...

【专利技术属性】
技术研发人员：杨正华，祁春超，谭信辉，
申请(专利权)人：深圳市华讯方舟太赫兹科技有限公司，华讯方舟科技有限公司，
类型：发明
国别省市：广东,44